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SHORT DURATION IN-SITU TESTS - A NEW APPROACH TO THE RELIABILITY EVALUATION OF ELECTRONIC ASSEMBLIES

Desde 1993-01-01 hasta 1995-12-31

Detalles del proyecto

Coste total:

No disponible

Aportación de la UE:

EUR 1 600 000

Coordinado en:

France

Régimen de financiación:

CSC - Cost-sharing contracts

Objetivo

Coordinador

Alcatel Espace SA
France
26 avenue J F Champollion
31037 Toulouse
France
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Participantes

Centrum für Mikroverbindungstechnik
Germany
Ilsahl 5
24536 Neumünster
Germany
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IBM Semea SpA
Italy
Via Lecco 61
20059 Vimercate Milano
Italy
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SZE-MICROELECTRONICS
Germany
HAMBURGER CHAUSSEE 25
24220 FLINTBEK
Germany
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UNIV CENTRUM LIMBURG
Belgium
UNIVERSITEITSLAAN
3590 DIEPENBEEK
Belgium
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