Wspólnotowy Serwis Informacyjny Badan i Rozwoju - CORDIS

Development of an Advanced Diagnostic System for Sub-PPT Metal Contamination in Silicon Wafer Manufacturing and Processing

Od 1992-05-27 do 1995-05-26

Dane projektu

Całkowity koszt:

Niedostępne

Wkład UE:

Niedostępne

Kraj koordynujący:

Italy

Cel

Koordynator

Memc Materiali Elettronici SpA
Italy
Viale Gherzi 31
28100 Novara
Italy
See on map
Kontakt administracyjny: Robert FALSTER
Tel.: +39-321-442394
Faks: +39-321-490041

Uczestnicy

Commissariat à l'Energie Atomique (CEA)
France
Centre d'Études de Grenoble 17 avenue des Martyrs
38041 Grenoble
France
See on map
Kontakt administracyjny: Jean Pierre JOLY
Tel.: +33-76884557
Faks: +33-76-885183
GESELLSCHAFT FÜR MESSTECHNIK AND TECHNOLOGIE
Germany
GERETSRIEDER STRAßE, 10A
81379 München
Germany
See on map
Kontakt administracyjny: Peter EICHINGER
Tel.: +49-89-788868
Faks: +49-89-784369
Adres e-mail
Thomson Microelectronics Srl (SGS)
Italy
Via Carlo Olivetti
20041 Agrate Brianza Milano
Italy
Kontakt administracyjny: Claudio SAVOIA
Tel.: +39-39-6035592
Faks: +39-39-6035820
Śledź nas na: RSS Facebook Twitter YouTube Zarządzany przez Urząd Publikacji UE W górę