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Kurzbeschreibung

In der vorliegenden Arbeit wird die Methode der Bispektralanalyse auf ihren Anwendungsbereich und ihre Grenzen hin untersucht. Zur Untersuchung spezieller Eigenschaften wird sie auf experimentelle Daten der Fluktuationen der Abschälschicht des Tokamaks ASDEX angewendet, die mit der H(Alpha) und der Sondendiagnostik aufgezeichnet wurden. Die Anwendung der Bispektralanalyse auf die Fluktuationen der Abschälschicht des ASDEX-Plasmas bringt eine Vielzahl von Resultaten: In allen untersuchten Entladungstypen kann eine Bikohärenz von bis zu 30%, die einer deutlichen Nichtlinearität entspricht, nachgewiesen werden. Das Maximum der Bikohärenz kann bei einer radialen Position etwa 2.5 cm außerhalb der Separatrix lokalisiert werden. Die ohmsche Entladungsphase kann anhand der Ergebnisse der Bispektralanalyse in den meisten Fällen gut von der H-Phase unterschieden werden. Die Form der herausragenden Ereignisse in den Fluktuationen ist jedoch von der Entladungsphase unabhängig und allein für die untersuchte Plasmagröße charakteristisch. Die Anwendung der Ergebnisse der Analyse auf Modellrechnungen zur Bestimmung des Leistungstransfers zwischen einzelnen Fourierkomponenten erlaubt in der vorliegenden Form noch keine eindeutigen Aussagen.

Zusätzliche Angaben

Autoren: WEINLICH M, Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, Garching bei München (DE)
Bibliografische Referenz: Report: IPP III/183 DE (1992) 104 pp.
Verfügbarkeit: Available from Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, 8046 Garching bei München (DE)
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