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Kurzbeschreibung

Diese Arbeit beschreibt Ergebnisse zum Zeitstandverhalten für 1050 C und 1150 C der neuentwickelten ODS-Legierung MA 760 unter besonderer Berücksichtigung der Zeitstandschädigung. Bei einer Belastung in Kornlängsrichtung (I-Proben) ist die Zeitstandfestigkeit bedeutend höher als für Proben, die senkrecht zu dieser Richtung beansprucht werden (It-Proben). Die Kriechschädigung bei I-Proben ist durch eine starke Probeneinschnürung gekennzeichnet. Oberflächenrisee und intagranulare Querrisse sind für den Bruch verantwortlich. Risse in der Zugrichtung beeinflussen den Bruch offenbar nicht. Für It-Proben liegt die Kriechduktilität extrem niedrig. Verantwortlich hierfür ist ausgeprägte Porenbildung auf den die Probe senkrecht zur Zugrichtung liegenden Korngrenzen. Die Hauptursache hierfür dürften Korngrenzengleiten, hohe Zugspannungen auf den Korngrenzen sowie behinderte Relaxation im Korngrenzenbereich bilden.

Zusätzliche Angaben

Autoren: GUTTMANN V, JRC Petten (NL);FATTORI H, JRC Petten (NL)
Bibliografische Referenz: Paper presented: Arbeitsgemeinschaft für Hochtemperaturwerkstoffe, Düsseldorf (DE), November 6, 1992
Verfügbarkeit: Available from (1) as Paper DE 37244 ORA
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