Forschungs- & Entwicklungsinformationsdienst der Gemeinschaft - CORDIS

Kurzbeschreibung

Dieser Bericht enthält die Vorträge und Poster, die anläßlich des 132. PTB-Seminars Festkörperanalytik gehalten wurden. Behandelt wird eine Palette moderner, sich häufig ergänzender Analysenverfahren zur Charakterisierung von Festkörpern, wie die Massenspektrometrie mit Funken- (SSMS), Glow-Discharge- (GDMS) und Inductively-Coupled-Plasma-Anregung (ICP-MS), die Gas-Massenspektrometrie, die Prompt (n, gamma gamma)-Specktrometrie, die Infrarot- und die Ramanspektrometrie. Auch werden Analysenverfahren miteinander verglichen. An Materialien untersucht werden Werkstoffe der Mikroelektronik, wie Silicium, Galliumarsenid und Hochtemperatursupraleiter, sowie geologische Proben. Ebenfalls diskutiert wird der in der Chemie noch relativ neue Begriff Metrologie.

Zusätzliche Angaben

Autoren: JÄHRLING R, Physikalisch- Technische Bundesanstalt, Braunschweig (DE);SCHIEL D (EDITORS), Physikalisch- Technische Bundesanstalt, Braunschweig (DE)
Bibliografische Referenz: Report: PTB-ThEx-3 DE (1997) 167pp.
Verfügbarkeit: Available from Physikalisch Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig (DE)
ISBN: ISBN 3-89701-089-5
Folgen Sie uns auf: RSS Facebook Twitter YouTube Verwaltet vom Amt für Veröffentlichungen der EU Nach oben