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Situación tridimensional exacta de los objetos en la nanoescala

Una universidad alemana ha creado un sistema de medición de posiciones tridimensionales interferométricas, y ahora busca socios industriales para su producción y comercialización
Situación tridimensional exacta de los objetos en la nanoescala
La ubicación exacta de los objetos en la nanoescala resulta imprescindible en los campos en los que se emplean piezo-actuadores, como en la microscopía de barrido con láser, la sintonía del láser y la halografía. Los dispositivos piezo-eléctricos son materiales que se expanden o contraen en presencia de un gradiente de tensión y permiten crear dispositivos de posicionamiento tridimensionales. No obstante, estos sistemas de medición son difíciles de establecer y carecen de precisión. Además, la solidez es un problema. El nuevo sistema de medición de posiciones tridimensionales interferométricas (TIPM) se ha implementado en la microscopía de fuerza atómica, AFM, y ha generado resultados exactos y reproducibles.

El sistema se basa en la interferometría, es decir, utiliza la interacción de las ondas electromagnéticas para determinar la ubicación exacta del objeto en cuestión. Se utiliza un láser para generar tres ondas electromagnéticas, que aunque están conectadas, se propagan en direcciones diferentes. De esta manera se produce una distribución intensa en la que las ondas se cruzan, creando una red de referencia óptica tridimensional. Se adhiere un detector al objeto que está bajo observación y, según se va moviendo en cualquier dirección, el gradiente de intensidad, y por tanto la posición, queda registrada en el detector.

El sistema TIPM permite el calibrado en línea y la navegación de los sistemas 3D. Se adapta e integra fácilmente en los sistemas existentes a un coste muy bajo. Se ha aplicado con éxito en la microscopía de fuerza atómica, en la que las superficies quedan registradas con resolución atómica y la fuerza se mide en la escala de nano-newton. Las mediciones son de gran resolución, precisas y con una fiabilidad excelente. También se puede utilizar en el campo de la litografía por haz electrónico, en la que se fabrican las características submicrónicas y de nano-escala. Entre otras aplicaciones posibles se incluye el trabajo y la metrología del material.
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