Wspólnotowy Serwis Informacyjny Badan i Rozwoju - CORDIS

FP6

EMDPA — Wynik w skrócie

Project ID: 32202
Źródło dofinansowania: FP6-NMP
Kraj: Francja

Szybki rzut oka pod powierzchnię

Wszelka materia posiada masę a spektrometry masowe to instrumenty, które określają względne stężenia atomów i cząsteczek w próbkach na podstawie mas. Konsorcjum finansowane przez UE radykalnie zmieniło sposób, w jaki materiałoznawcy uzyskują tego rodzaju informacje, które mają decydujące znaczenie dla opracowania nowych materiałów.
Szybki rzut oka pod powierzchnię
Wszystko we wszechświecie składa się ze 114 oficjalnie rozpoznanych (do chwili obecnej) pierwiastków określonych w układzie okresowym. Pierwiastki te obejmują niemetale, takie jak wodór, tlen i węgiel, metale, takie jak aluminium czy ołów, a także inne grupy pierwiastków.

Pierwiastki te są elementarnymi częściami składowymi cząsteczek, które składają się z dwóch lub więcej atomów tych samych lub innych pierwiastków. Na przykład woda (H2O) składa się z dwóch atomów wodoru i jednego atomu tlenu.

Istnieje wiele rodzajów spektrometrii mas (MS) i spektroskopii, jednak wszystkie mają wrodzone niedoskonałości dotyczące analizy zaawansowanych materiałów. Chromatografia gazowa i ciekła MS (GC/LC MS) nie ma zastosowania do ciał stałych. Plazma sprzężona indukcyjnie MS (ICP MS) sprzężona z ablacją laserową nie dokonuje pomiaru pierwiastków gazowych ani cząsteczek. Kilka innych metod spektroskopii do analizy powierzchni jest powolnych i skomplikowanych w użyciu.

Badacze z finansowanego przez UE projektu opracowali inicjatywę EMDPA, aby stworzyć zupełnie nowy impulsowy spektrometr masowy częstotliwości radiowej czasu przelotu cząstki wyładowania jarzeniowego (RF GD-TOF) do profilowania stężenia i powierzchni wielowarstwowych materiałów składających się z cienkich warstw przewodzących i nieprzewodzących.

Badacze określili, że spektroskopia optyczna (emisyjna) cząstek wzbudzonych wyładowaniem jarzeniowym (GD-OES) udostępnia opisywaną prędkość analizy, ale nie ma dostatecznej czułości i możliwości, by dostarczyć ważnych informacji cząsteczkowych. Dlatego też badacze opracowali nowoczesny system GD-MS łączący prędkość spektroskopii GD z czułością i możliwością dokonywania analizy molekularnej MS, pozwalający uzyskać rozdzielczość o głębokości nanometrów zaawansowanych materiałów.

Nowa technologia RF GD-TOF MS udostępnia pełne informacje z zakresu spektroskopii masowej na dowolnej głębokości i w dowolnej funkcji czasu i bez wątpienia stanie się bardzo silnym narzędziem w rozwoju zaawansowanych materiałów. Może ona znaleźć zastosowanie między innymi w badaniu korozji, produkcji ogniw słonecznych i mikroelektronice molekularnej. Komercjalizacja wyników projektu może potencjalnie przyspieszyć i ulepszyć rozwój nowych materiałów, przynosząc korzyści badaniom, przemysłowi i konsumentom.

Powiązane informacje

Śledź nas na: RSS Facebook Twitter YouTube Zarządzany przez Urząd Publikacji UE W górę