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SHORT DURATION IN-SITU TESTS - A NEW APPROACH TO THE RELIABILITY EVALUATION OF ELECTRONIC ASSEMBLIES

Von 1993-01-01 bis 1995-12-31

Projektdetails

Gesamtkosten:

Nicht verfügbar

EU-Beitrag:

EUR 1 600 000

Koordiniert in:

France

Finanzierungsprogramm:

CSC - Cost-sharing contracts

Ziel

Koordinator

Alcatel Espace SA
France
26 avenue J F Champollion
31037 Toulouse
France
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Administrative Kontaktangaben: GREGORIS
Tel.: +33-61-195565
Fax: +33-61-195211

Teilnehmer

Centrum für Mikroverbindungstechnik
Germany
Ilsahl 5
24536 Neumünster
Germany
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Administrative Kontaktangaben: HIEBER
Tel.: +49-4321-31081
Fax: +49-4321-38226
IBM Semea SpA
Italy
Via Lecco 61
20059 Vimercate Milano
Italy
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Administrative Kontaktangaben: VIRTUOSO
Tel.: +39-39-6004971
Fax: +39-39-6005033
SZE-MICROELECTRONICS
Germany
HAMBURGER CHAUSSEE 25
24220 FLINTBEK
Germany
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Administrative Kontaktangaben: TIELEMANS
Tel.: +49-4347-908891
Fax: +49-4347-908897
UNIV CENTRUM LIMBURG
Belgium
UNIVERSITEITSLAAN
3590 DIEPENBEEK
Belgium
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Administrative Kontaktangaben: DE SCHEPPER
Tel.: +32-11-229961
Fax: +32-11-223784
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