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FP6

NANOBEAMS — Résultat en bref

Project ID: 500440
Financé au titre de: FP6-NMP
Pays: Luxembourg

Améliorer la visualisation des nanostructures

L'arrivée des nanotechnologies a entraîné un besoin fort de nanoanalyse de la structure atomique des matériaux. Des chercheurs financés par l'UE ont stimulé la collaboration entre les universitaires et les chefs d'entreprise en vue d'apporter des améliorations aux équipements commercialement disponibles.
Améliorer la visualisation des nanostructures
Deux des principales technologies largement utilisées en imagerie et micro-usinage des matériaux dans le domaine de la recherche, du développement et de la fabrication sont des systèmes de faisceaux d'ions focalisés (FIB - focused ion beam) et des systèmes de faisceaux d'électrons focalisés. Les premiers sont utilisés dans la spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Les seconds sont employés dans la microscopie électronique en transmission (MET) et la microscopie photoélectronique à rayons X (XPS).

Des chercheurs européens ont lancé le projet Nanobeams («Nanoanalysis using finely focused ion and electron beams») afin de réunir des fabricants de tels équipements et des scientifiques et chercheurs de premier plan dans le domaine des nanomatériaux. L'objectif visait une conception améliorée de l'instrumentation efficace dans le domaine de la nanoanalyse.

Le consortium du projet Nanobeams a créé un programme doctoral intitulé «Nanoanalysis using finely focused ion and electron beams». Il est désormais intégré au curriculum de formation à l'université du Luxembourg et devrait donner une forte impulsion au secteur de la recherche en nanoanalyse.

Divers programmes d'enseignement et de formation ont été mis en place, permettant à la communauté des utilisateurs de perfectionner leurs compétences liées aux techniques de pointe tout en offrant aux fabricants industriels des équipements connexes donnant la possibilité d'établir un contact avec de futurs clients potentiels.

Le consortium met actuellement au point une nouvelle technique combinant une méthode SIMS «temps de parcours» (ToF-SIMS) et la microscopie à force atomique (SFM) en vue d'une nanoanalyse quantitative. La technologie devrait faciliter la commercialisation de nouveaux produits et les demandes de brevets.

Les innovations techniques du projet Nanobeams comprennent le développement de nouvelles techniques visant une analyse chimique haute résolution fiable de divers types d'échantillons. La publication des résultats a été largement diffusée et a entraîné des améliorations dans l'instrumentation commercialement disponible.

Dans l'ensemble, le projet Nanobeams a créé des liens importants entre les chercheurs universitaires et les fabricants industriels de l'instrumentation de pointe par faisceaux d'ions et d'électrons destinée à la nanoanalyse. Cette collaboration a apporté des améliorations dans l'instrumentation de haute technologie et a stimulé la recherche en nanoanalyse. Les deux devraient encourager la compétitivité de l'économie européenne dans le domaine des nanotechnologies.

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