Development of a New Wavelength Scanning Interferometer for Embedded Metrology

Informazioni relative al progetto

EMInstr

ID dell’accordo di sovvenzione: 665589

DOI 10.3030/665589

Progetto chiuso

Data della firma CE 11 Marzo 2015

Data di avvio 1 Aprile 2015

Data di completamento 31 Marzo 2016

Finanziato da

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Costo totale € 149 662,00

Contributo UE € 149 662,00

Coordinato da

UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD
United Kingdom

Pubblicazioni

Conference proceedings (5)

In-situ defect detection systems for R2R flexible PV barrier films

Autori: Gao, Feng, Muhamedsalih, Hussam, Tang, Dawei, Elrawemi, Mohamed, Blunt, Liam, Jiang, Xiang, Edge, Steven, Bird, David and Hollis, Philip
Pubblicato in: International Conference on Optical Instrument and Technology, 2015
Editore: SPIE

A computerised data handling procedure for defect detection and analysis for large area substrates manufactured by roll-to-roll process

Autori: Muhamedsalih, H., Elrawemi, M., Blunt, L., Xiangqi, L. and Martin, H. (
Pubblicato in: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015
Editore: EUSPEN

Extending the vertical range of wavelength scanning interferometry

Autori: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Jiang, X., Leach, R. and O'Connor, D.
Pubblicato in: ASPE 2015 Summer Topical Meeting, 2015, ISBN 978-1-887706-68-1
Editore: American Society for Precision Engineering

An integrated opto-mechanical measurement system for in-process defect measurement on a roll-to-roll process

Autori: Muhamedsalih, H., Blunt, L., Martin, H., Hamersma, I., Elrawemi, M. and Feng, G.
Pubblicato in: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP, 2015, Pagina/e 50-55, ISBN 978-0-9566790-5-5
Editore: EUSPEN

Vertical axis non-linearities in wavelength scanning interferometry

Autori: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Connor, D., Jiang, X. and Leach, R.
Pubblicato in: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015, Pagina/e 31-39, ISBN 978-0-9566790-5-5
Editore: EUSPEN

Peer reviewed articles (2)

Phase and fringe order determination in wavelength scanning interferometry

Autori: Giuseppe Moschetti, Alistair Forbes, Richard K Leach, Xiang Jiang, Daniel O’Connor
Pubblicato in: Optics Express, Numero 24/8, 2016, Pagina/e 8997, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OE.24.008997

Burg algorithm for enhancing measurement performance in wavelength scanning interferometry

Autori: Rebecca Woodcock, Hussam Muhamedsalih, Haydn Martin, Xiangqian Jiang
Pubblicato in: Surface Topography: Metrology and Properties, Numero 4/2, 2016, Pagina/e 024003, ISSN 2051-672X
Editore: IOP Publishing Ltd
DOI: 10.1088/2051-672X/4/2/024003

Diritti di proprietà intellettuale

Other (1)

SURFACE CHARACTERISTIC DETERMINING APPARATUS

Numero candidatura/pubblicazione: WO 201082066
Data: 2010-01-15
Candidato/i: UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD