Skip to main content
European Commission logo print header

Optoelectronic detection of single spin in silicon

Publications

SOI CMOS technology for quantum information processing

Auteurs: L. Hutin, B. Bertrand, R. Maurand, M. Urdampilleta, B. Jadot, H. Bohuslavskyi, L. Bourdet, Y.-M. Niquet, X. Jehl, S. Barraud, C. Bauerle, T. Meunier, M. Sanquer, S. De Franceschi, M. Vinet
Publié dans: 2017 IEEE International Conference on IC Design and Technology (ICICDT), 2017, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-5090-4502-0
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/ICICDT.2017.7993523

Towards quantum computing in Si MOS technology: Single-shot readout of spin states in a FDSOI split-gate device with built-in charge detector

Auteurs: M. Urdampilleta, L. Hutin, B. Jadot, B. Bertrand, H. Bohuslavskyi, R. Maurand, S. Barraud, C. Bauerle, M. Sanquer, X. Jehl, S. De Franceschi, T. Meunier, M. Vinet
Publié dans: 2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, Page(s) T172-T173, ISBN 978-4-86348-605-8
Éditeur: IEEE
DOI: 10.23919/VLSIT.2017.7998163

Harnessing Si CMOS technology for quantum information

Auteurs: L. Hutin, B. Bertrand, R. Maurand, M. Urdampilleta, B. Jadot, H. Bohuslavskyi, L. Bourdet, Y.-M. Niquet, X. Jehl, S. Barraud, C. Bauerle, T. Meunier, M. Sanquer, S. De Franceschi, M. Vinet
Publié dans: 2017 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2017, Page(s) 141-142, ISBN 978-4-8634-8647-8
Éditeur: IEEE
DOI: 10.23919/SNW.2017.8242337

Recherche de données OpenAIRE...

Une erreur s’est produite lors de la recherche de données OpenAIRE

Aucun résultat disponible