La metrología para la nanotecnología
14 Junio 2007 - 14 Junio 2007
Italia
Los días 14 y 15 de junio tendrá lugar en Turín (Italia) un seminario sobre la metrología para la nanotecnología.
El acto estará orientado hacia la aplicación, e incorporará experiencias y necesidades industriales reales. Éste reunirá a usuarios y expertos industriales de la comunidad de metrología de Italia, así como a expertos internacionales para debatir las necesidades de la nanometría y los avances más recientes, especialmente por lo que se refiere a técnicas y métodos de medición, instrumentación y estándares.
Las sesiones temáticas abordarán:
- nanofabricación, técnicas descendentes, nanoelectrónica y dispositivos cuánticos;
- superficies, capas y metrología a escala atómica;
- materiales nanoestructurados, nanocompuestos, análisis de partículas;
- técnicas interdisciplinarias.Para obtener más información, visite:
http://www.nanotec.it(se abrirá en una nueva ventana)
El acto estará orientado hacia la aplicación, e incorporará experiencias y necesidades industriales reales. Éste reunirá a usuarios y expertos industriales de la comunidad de metrología de Italia, así como a expertos internacionales para debatir las necesidades de la nanometría y los avances más recientes, especialmente por lo que se refiere a técnicas y métodos de medición, instrumentación y estándares.
Las sesiones temáticas abordarán:
- nanofabricación, técnicas descendentes, nanoelectrónica y dispositivos cuánticos;
- superficies, capas y metrología a escala atómica;
- materiales nanoestructurados, nanocompuestos, análisis de partículas;
- técnicas interdisciplinarias.Para obtener más información, visite:
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