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La métrologie pour la nanotechnologie

Un atelier sur la métrologie appliquée à la nanotechnologie se déroulera les 14 et 15 juin à Turin, en Italie.

Cette manifestation mettra l'accent sur les applications et prendra en compte les réels besoins et expériences des industries. Elle rassemblera des utilisateurs des...

14 Juin 2007 - 14 Juin 2007
Italie
Un atelier sur la métrologie appliquée à la nanotechnologie se déroulera les 14 et 15 juin à Turin, en Italie.

Cette manifestation mettra l'accent sur les applications et prendra en compte les réels besoins et expériences des industries. Elle rassemblera des utilisateurs des industries et des experts issus de la communauté de la métrologie en Italie, ainsi que des experts internationaux, afin de débattre des besoins en nanométrologie et des récents développements, plus particulièrement en ce qui concerne les techniques et les méthodes de mesure, l'instrumentation et les normes.

Les thématiques comprendront:
- la nanofabrication, les techniques d'approche descendante, la nanoélectronique, les dispositifs quantiques;
- les surfaces, les couches et la métrologie à l'échelle atomique;
- les matériaux nanostructurés, les nanocomposites, l'analyse des particules;
- les techniques interdisciplinaires.Pour de plus amples informations, veuillez consulter le site:
http://www.nanotec.it(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
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