Optica y microanálisis de rayos X

Del 24 al 27 de agosto de 1998 se celebrará en Amberes, Bélgica, la 15ª conferencia internacional sobre óptica y microanálisis de rayos X, con objeto de debatir las últimas novedades en los métodos e instrumentos para el análisis microscópico y de superficie, así como avances en las aplicaciones.

En la conferencia se expondrán los problemas relativos a la validación de las técnicas microscópicas y se tratarán tanto los aspectos cuantitativos del análisis por microsonda electrónica como los aspectos de la calidad de las metodologías examinadas. Además se abordarán con detalle los temas siguientes:

- Aspectos cuantitativos del microanálisis;
- Radiación sincrotrónica y óptica de rayos X para el microanálisis;
- Análisis microscópico y de superficie;
- Análisis de película fina y TEM;
- Aplicaciones en la ciencia de los materiales, el arte y la arqueometría, las investigaciones químicas y biológicas y las ciencias de la tierra.

Para más información, dirigirse a:

Universiteit Antwerpen
Professor F. Adams
Departement Scheikunde
1 Universiteitsplein
B-2610 Antwerpen
Tel. +32-3-8202010; Fax +32-3-8202376
E-mail: adams@uia.ua.ac.be