Optique aux rayons X et microanalyse

La quinzième conférence internationale sur l'optique aux rayons X et la microanalyse se déroulera du 24 au 27 août 1998, à Anvers, en Belgique. Cette manifestation permettra d'examiner les progrès les plus récents accomplis concernant les méthodes et instruments utilisés pour la microanalyse et l'analyse de surface, ainsi que concernant les applications.

La conférence mettra en lumière les problèmes relatifs à la validation des techniques microscopiques et couvrira à la fois les aspects quantitatifs de l'analyse par microsonde à électrons, et les aspects qualitatifs des méthodologies considérées. Les thèmes suivants seront traités dans les détails:
- le rayonnement synchrotron et l'optique aux rayons X pour la microanalyse
- la microanalyse et l'analyse de surface
- l'analyse des couches minces et la MET
- les applications aux science des matériaux, à l'art et à l'archéométrie, aux recherches de chimie et de biologie, et aux sciences de la Terre.

Pour toute information complémentaire, s'adresser à:

Universiteit Antwerpen
Professor F. Adams
Departement Scheikunde
1 Universiteitsplein
B-2610 Antwerpen
Tél. +32-3-8202010; Fax +32-3-8202376
E-mail: adams@uia.ua.ac.be