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CORDIS - Résultats de la recherche de l’UE
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Fourier-Domain TRx solutions enabling widespread realisation of 6G

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Project website (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Initial project website in M3, comprehensive version in M6

Communication campaign (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Press release (M2), digital media kit (M6), & video (M9)

Publications

15-40 GHz Broadband Variable Gain Amplifier with 24.5 dB Linear-in-Decibel Gain Control Range in SiGe BiCMOS (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Xun Chen, Jonas Winkelhake, Muh-Dey Wei, Renato Negra
Publié dans: 2025 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/ISCAS56072.2025.11043649

Technology-Independent Local Mismatch Estimation Using Precomputed Lookup Tables (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Kareem H. Khattab, Muh-Dey Wei, Renato Negra
Publié dans: 2025 21st International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuits Design (SMACD), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/SMACD65553.2025.11092134

RF Rectifier with Pixel-like Network and Inductive Matching Technique (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Muh-Dey Wei, Yu-Ting Zhuo, Lukas Hüssen, Guo-Shiang Lin, Renato Negra
Publié dans: 2025 IEEE Wireless Power Technology Conference and Expo (WPTCE), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/WPTCE62521.2025.11062144

Low-Power Class-C VCO in SiGe BiCMOS With Varactor Embedded in Cross-Feedback Path for Tuning Range Enhancement (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Xun Chen, Jonas Winkelhake, Muh-Dey Wei, Renato Negra
Publié dans: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2025, ISSN 0018-9480
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/TMTT.2025.3567766

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