Accurate Full-Field 3D Shape Measurement Technique of Specular Surfaces by Phase-to-Depth Deflectometry

Informations projet

3DRM

N° de convention de subvention: 707466

DOI

10.3030/707466

Projet clôturé

Date de signature de la CE 31 Mars 2016

Date de début 1 Août 2016

Date de fin 31 Juillet 2018

Financé au titre de

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Coût total

€ 195 454,80

Contribution de l’UE

€ 195 454,80

Coordonné par

UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD
United Kingdom

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Publications

Peer reviewed articles (15)

Performance analysis and evaluation of direct phase measuring deflectometry

Auteurs: Ping Zhao, Nan Gao, Zonghua Zhang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Optics and Lasers in Engineering, Numéro 103, 2018, Page(s) 24-33, ISSN 0143-8166
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.optlaseng.2017.11.008

Calibration method for the relative orientation between the rotation axis and a camera using constrained global optimization

Auteurs: Zhenqi Niu, Kuo Liu, Yuemin Wang, Shujun Huang, Xiaoting Deng, Zonghua Zhang
Publié dans: Measurement Science and Technology, Numéro 28/5, 2017, Page(s) 055001, ISSN 0957-0233
Éditeur: Institute of Physics and the Physical Society
DOI: 10.1088/1361-6501/aa5fd4

Generic exponential fringe model for alleviating phase error in phase measuring profilometry

Auteurs: Chao Chen, Nan Gao, Xiangjun Wang, Zonghua Zhang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Optics and Lasers in Engineering, Numéro 110, 2018, Page(s) 179-185, ISSN 0143-8166
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.optlaseng.2018.06.001

Full-field 3D shape measurement of discontinuous specular objects by direct phase measuring deflectometry

Auteurs: Yue Liu, Shujun Huang, Zonghua Zhang, Nan Gao, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Scientific Reports, Numéro 7/1, 2017, ISSN 2045-2322
Éditeur: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41598-017-11014-5

An Iterative Distortion Compensation Algorithm for Camera Calibration Based on Phase Target

Auteurs: Yongjia Xu, Feng Gao, Hongyu Ren, Zonghua Zhang, Xiangqian Jiang
Publié dans: Sensors, Numéro 17/6, 2017, Page(s) 1188, ISSN 1424-8220
Éditeur: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/s17061188

Distance Calibration between Reference Plane and Screen in Direct Phase Measuring Deflectometry

Auteurs: Shujun Huang, Yue Liu, Nan Gao, Zonghua Zhang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Sensors, Numéro 18/2, 2018, Page(s) 144, ISSN 1424-8220
Éditeur: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/s18010144

Three-Dimensional Shape Measurements of Specular Objects Using Phase-Measuring Deflectometry

Auteurs: Zonghua Zhang, Yuemin Wang, Shujun Huang, Yue Liu, Caixia Chang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Sensors, Numéro 17/12, 2017, Page(s) 2835, ISSN 1424-8220
Éditeur: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/s17122835

Adaptive projection intensity adjustment for avoiding saturation in three-dimensional shape measurement

Auteurs: Chao Chen, Nan Gao, Xiangjun Wang, Zonghua Zhang
Publié dans: Optics Communications, Numéro 410, 2018, Page(s) 694-702, ISSN 0030-4018
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.optcom.2017.11.009

A holistic calibration method with iterative distortion compensation for stereo deflectometry

Auteurs: Yongjia Xu, Feng Gao, Zonghua Zhang, Xiangqian Jiang
Publié dans: Optics and Lasers in Engineering, Numéro 106, 2018, Page(s) 111-118, ISSN 0143-8166
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.optlaseng.2018.02.018

Virtual fringe projection system with nonparallel illumination based on iteration

Auteurs: Duo Zhou, Zhangying Wang, Nan Gao, Zonghua Zhang, Xiangqian Jiang
Publié dans: Measurement Science and Technology, Numéro 28/6, 2017, Page(s) 065201, ISSN 0957-0233
Éditeur: Institute of Physics and the Physical Society
DOI: 10.1088/1361-6501/aa6597

Adaptive pixel-to-pixel projection intensity adjustment for measuring a shiny surface using orthogonal color fringe pattern projection

Auteurs: Chao Chen, Nan Gao, Xiangjun Wang, Zonghua Zhang
Publié dans: Measurement Science and Technology, Numéro 29/5, 2018, Page(s) 055203, ISSN 0957-0233
Éditeur: Institute of Physics and the Physical Society
DOI: 10.1088/1361-6501/aab07a

A calibration method for non-overlapping cameras based on mirrored absolute phase target

Auteurs: Yongjia Xu, Feng Gao, Zonghua Zhang, Xiangqian Jiang
Publié dans: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2018, ISSN 0268-3768
Éditeur: Springer Verlag
DOI: 10.1007/s00170-018-1704-8

Exponential fringe projection for alleviating phase error caused by gamma distortion based on principal component analysis

Auteurs: Chao Chen, Nan Gao, Xiangjun Wang, Zonghua Zhang
Publié dans: Optical Engineering, Numéro 57/06, 2018, Page(s) 1, ISSN 0091-3286
Éditeur: S P I E - International Society for Optical Engineering
DOI: 10.1117/1.OE.57.6.064105

3D shape measurement of discontinuous specular objects based on advanced PMD with bi-telecentric lens

Auteurs: Zhenqi Niu, Nan Gao, Zonghua Zhang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Optics Express, Numéro 26/2, 2018, Page(s) 1615, ISSN 1094-4087
Éditeur: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.26.001615

Full-Field Calibration of Color Camera Chromatic Aberration using Absolute Phase Maps

Auteurs: Xiaohong Liu, Shujun Huang, Zonghua Zhang, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Sensors, Numéro 17/5, 2017, Page(s) 1048, ISSN 1424-8220
Éditeur: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/s17051048

Conference proceedings (2)

A calibration method for non-overlapping cameras based on mirrored phase target

Auteurs: Xu, Yongjia; Gao, Feng; Zhang, Zonghua; Jiang, Xiang
Publié dans: The 13th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments, Numéro 1, 2017
Éditeur: Xi'an Jiaotong University

Full-field 3D shape measurement of specular surfaces by direct phase to depth relationship

Auteurs: Zonghua Zhang, Yue Liu, Shujun Huang, Zhenqi Niu, Jiao Guo, Nan Gao, Feng Gao, Xiangqian Jiang
Publié dans: Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV, Photonics Asia 2016, 2016
Éditeur: SPIE