Livrables
Data Management Plan for ORDP
Publications
Auteurs:
Léo Ducas, Ludo Pulles
Publié dans:
2023, ISBN 978-3-031-38547-6
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-38548-3_2
Auteurs:
Léo Ducas and Wessel van Woerden
Publié dans:
LNCS, Numéro 13093, 2021, Page(s) 3-32, ISBN 978-3-030-92067-8
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-030-92068-5_1
Auteurs:
Léo Ducas, Eamonn W. Postlethwaite, Ludo N. Pulles, Wessel van Woerden
Publié dans:
2022
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-22972-5_3
Auteurs:
Léo Ducas & Wessel van Woerden
Publié dans:
LNCS, Numéro 13277, 2022, Page(s) 643-673, ISBN 978-3-031-07082-2
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-07082-2_23
Auteurs:
Peter Bruin,
Léo Ducas,
Shane Gibbons
Publié dans:
Banach Center Publications 126, Number Theoretic Methods in Cryptography, NuTMiC 2022., Numéro 126, 2023, Page(s) 137-159, ISBN 978-83-86806-56-0
Éditeur:
Banach Centre Publications
DOI:
10.4064/bc126-9
Auteurs:
Léo Ducas, Marc Stevens, Wessel van Woerden
Publié dans:
LNCS, Numéro 12697, 2021, Page(s) 249-279, ISBN 978-3-030-77885-9
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-030-77886-6_9
Auteurs:
Léo Ducas, Shane Gibbons
Publié dans:
2023
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-31368-4_7
Auteurs:
Léo Ducas
Publié dans:
International Conference on Post-Quantum Cryptography, 2022
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-17234-2_22
Auteurs:
Léo Ducas,Thomas Espitau, Eamonn W. Postlethwaite
Publié dans:
2023, ISBN 978-3-031-38547-6
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-031-38548-3_6
Auteurs:
Leo Ducas
Publié dans:
Designs, Codes and Cryptography, 2023, ISSN 1573-7586
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1007/s10623-023-01320-7
Auteurs:
Thomas Debris-Alazard and Léo Ducas and Wessel P.J. van Woerden
Publié dans:
IEEE Transactions on Information Theory, 2022, Page(s) 3426 - 3444, ISSN 0018-9448
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tit.2022.3143620
Auteurs:
Thomas Debris-Alazard and Léo Ducas and Nicolas Resch and Jean-Pierre Tillich
Publié dans:
IEEE Transactions on Information Theory, 2023, ISSN 0018-9448
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tit.2023.3276921
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