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Auteurs:
Luca Capua; Yann Sprunger; H. Elettro; F. Risch; A. Grammoustianou; R. Midahuen; T. Ernst; S. Barraud; R. Gill; A. M. Ionescu
Publié dans:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numéro 1, 2022, ISSN 1557-9646
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ted.2022.3144108
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