Risultati finali
Report
Integrated demonstrator on modelling, verification and reliability analysisReport
System-level reliability analysis toolsReport
FDIR schemes (incl. reconfiguration, health map, fault classification)Report
Dynamic, semi-formal and formal reliability analysis toolsreport
Fault management infrastructure verification toolsReport
Market analysisReport
Status on fault managementReport
Verification, debugging and testing toolsReport
Dissemination and communication reportReport
Status on modelling, fault/reconfiguration modelling and reliability metricsCross-layer CPS modelling framework
Report
Reconfiguration modellingReport
CPS run-time for SW task deploymentReport
Dynamic, semi-formal and formal reliability analysis methodsReport
Fault models and reliability metricsReport
Verification, debugging and testing methodsReport
Pubblicazioni
Autori:
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Pagina/e 75-80, ISBN 978-1-5090-1331-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/LATW.2016.7483343
Autori:
Anton Karputkin, Jaan Raik
Pubblicato in:
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016, Pagina/e 1124-1127, ISBN 978-3-9815370-7-9
Editore:
Research Publishing Services
DOI:
10.3850/9783981537079_0260
Autori:
Heinz Riener, Goerschwin Fey
Pubblicato in:
2016 1st IEEE International Verification and Security Workshop (IVSW), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-1141-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IVSW.2016.7566605
Autori:
Hans G. Kerkhoff, Ghazanfar Ali, Jinbo Wan, Ahmed Ibrahim, Jerrin Pathrose
Pubblicato in:
2017 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2017, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-2880-5
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2017.8203464
Autori:
Hans G. Kerkhoff, Ghazanfar Ali, Hassan Ebrahimi, Ahmed Ibrahim
Pubblicato in:
2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, Pagina/e 65-70, ISBN 978-1-5386-3051-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC-ASIA.2017.8097113
Autori:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, Pagina/e 59-64, ISBN 978-1-5386-3051-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC-ASIA.2017.8097112
Autori:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), 2017, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-4482-5
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS.2017.7928955
Autori:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2017, Pagina/e 1-2, ISBN 978-1-5386-0352-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IOLTS.2017.8046166
Autori:
Vain, Jüri; Tsiopoulos, Leonidas; Kharchenko, Vyacheslav; Kaur, Apneet; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Pubblicato in:
2017
Editore:
ICT in Education, Research and Industrial Applications
Autori:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Siavoosh Payandeh Azad, Jaan Raik
Pubblicato in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
Autori:
Tsotne Putkaradze, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan
Pubblicato in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016161
Autori:
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
Pubblicato in:
2016 IEEE AUTOTESTCON, 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-5090-0790-5
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2016.7589627
Autori:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
Pubblicato in:
2017 IEEE AUTOTESTCON, 2017, Pagina/e 1-9, ISBN 978-1-5090-4922-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2017.8080516
Autori:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze
Pubblicato in:
2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, Pagina/e 1-10, ISBN 978-1-5386-3413-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/TEST.2017.8242070
Autori:
Laura Humphrey, Bettina Könighofer, Robert Könighofer, Ufuk Topcu
Pubblicato in:
2017, Pagina/e 134-151
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-49052-6_9
Autori:
Tino Flenker, Jan Malburg, Gorschwin Fey, Serhiy Avramenko, Massimo Violante, Matteo Sonza Reorda
Pubblicato in:
2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017, Pagina/e 533-538, ISBN 978-1-5090-6762-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ISVLSI.2017.99
Autori:
Roderick Bloem, Hannes Gross, Rinat Iusupov, Bettina Konighofer, Stefan Mangard, and Johannes Winter
Pubblicato in:
2018
Editore:
EUROCRYPT
Autori:
H. Ebrahimi and H.G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2018
Editore:
DDECS
Autori:
G. Ali, J. Pathrose, Y. Zhao and H.G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2018
Editore:
submitted to International Test Conference Asia (ITC-Asia)
Autori:
J.Pathrose, G.Ali, and H. G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2018
Editore:
2018 19th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)
Autori:
Malburg, Jan and Riener, Heinz and Fey, Görschwin
Pubblicato in:
2018
Editore:
IEEE International Symposium on Multiple-Valued Logic
Autori:
Heinz Riener, Robert Könighofer, Görschwin Fey, and Roderick Bloem (DLR, TU Graz)
Pubblicato in:
Applied Verification for Continuous and Hybrid Systems, 2016
Editore:
ARCH'16
Autori:
A. Jutman, S. Devadze, K. Shibin (Testonica Lab)
Pubblicato in:
2016, Pagina/e 1-6
Editore:
WRTLT’2016
Autori:
Ali, G. and Badawy, A. and Kerkhoff, H.G. (U.Twente)
Pubblicato in:
2016, Pagina/e 776-779
Editore:
IEEE Circuits & Systems Society
Autori:
Zhao, Yong and Kerkhoff, H.G. (U.Twente)
Pubblicato in:
2016, Pagina/e 10-14
Editore:
IEEE Computer Society
Autori:
Copetti, Thiago; Medeiros, Guilherme; Poehls, Leticia; Vargas, Fabian; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2016, Pagina/e 75-80
Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Heinz Riener and Goerschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2016
Editore:
IVSW
Autori:
Roderick Bloem, Robert Konighofer, Ingo Pill, Franz Rock
Pubblicato in:
2016 Formal Methods in Computer-Aided Design (FMCAD), 2016, Pagina/e 17-24, ISBN 978-0-9835678-6-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/FMCAD.2016.7886656
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Peeter Ellervee, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2016
Editore:
ReCoSoC
Autori:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Jose Flich, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2016 Tenth IEEE/ACM International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS), 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-4673-9030-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/NOCS.2016.7579317
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2016
Editore:
DREAMCloud
Autori:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-3561-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2016.7753579
Autori:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW), 2016, Pagina/e 1-5, ISBN 978-1-5090-2751-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IMS3TW.2016.7524234
Autori:
Niklas Krafczyk, Heinz Riener, Goerschwin Fey
Pubblicato in:
2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-3561-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2016.7753559
Autori:
Heinz Riener, Goerschwin Fey
Pubblicato in:
Proceedings of the 35th International Conference on Computer-Aided Design - ICCAD '16, 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 9781-450344661
Editore:
ACM Press
DOI:
10.1145/2966986.2967036
Autori:
Sandip Ray, Ian G. Harris, Goerschwin Fey, Mathias Soeken
Pubblicato in:
Proceedings of the 35th International Conference on Computer-Aided Design - ICCAD '16, 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 9781-450344661
Editore:
ACM Press
DOI:
10.1145/2966986.2980093
Autori:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016 28th International Conference on Microelectronics (ICM), 2016, Pagina/e 249-252, ISBN 978-1-5090-5721-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ICM.2016.7847862
Autori:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2016, Pagina/e 97-102, ISBN 978-1-5090-3623-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DFT.2016.7684077
Autori:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4673-9659-2
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ETS.2016.7519301
Autori:
J. Alt, P. Bernardi, A. Bosio, R. Cantoro, H. Kerkhoff, A. Leininger, W. Molzer, A. Motta, C. Pacha, A. Pagani, A. Rohani, R. Strasser
Pubblicato in:
2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-4673-8454-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS.2016.7477278
Autori:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon Ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Konighofer, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Rock, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Pubblicato in:
2016 Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 979-10-92279-17-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/FDL.2016.7880382
Autori:
Jan Malburg, Heinz Riener, Goerschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
DUHDe
Autori:
Heinz Riener and Goerschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
DUHDe
Autori:
Tino Flenker and Goerschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
DDECS
Autori:
Heinz Riener, Ruediger Ehlers, and Goerschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
MBMV
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2017
Editore:
ISCAS
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2017
Editore:
IEEE
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Nevin George, Adeboye Stephen Oyeniran, Tsotne Putkaradze, Apneet Kaur, Jaan Raik, Gert Jervan, Raimund Ubar, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Pubblicato in:
2017
Editore:
DDECS
Autori:
Heinz Riener, Rüdiger Ehlers, Görschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
ASP-DAC’17
Autori:
Jan Malburg, Tino Flenker, Görschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
2017
Editore:
ASP-DAC
DOI:
10.1109/ASPDAC.2017.7858327
Autori:
Rudiger Ehlers, Robert Konighofer, Roderick Bloem
Pubblicato in:
2015 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), 2015, Pagina/e 3478-3485, ISBN 978-1-4799-9994-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IROS.2015.7353862
Autori:
Jaan Raik
Pubblicato in:
2015 International Conference on High Performance Computing & Simulation (HPCS), 2015, Pagina/e 561-562, ISBN 978-1-4673-7813-0
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/HPCSim.2015.7237092
Autori:
K. Shibin, S. Devadze, A. Jutman
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
Niels Thole, Lorena Anghel, and Goerschwin Fey
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
Heinz Riener, Robert Könighofer, Görschwin Fey, and Roderick Bloem
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
A. Zambrano
Pubblicato in:
2016
Editore:
IOLTS
Autori:
Tino Flenker and Goerschwin Fey
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
G. Ali , A. Badewy and H.G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Ranganathan Hariharan, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2015 Euromicro Conference on Digital System Design, 2015, Pagina/e 288-292, ISBN 978-1-4673-8035-5
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DSD.2015.15
Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Ranganathan Hariharan, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2015 10th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2015, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-4673-7942-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2015.7238079
Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
Pubblicato in:
Proceedings of the 9th International Symposium on Networks-on-Chip - NOCS '15, 2015, Pagina/e 1-8, ISBN 9781-450333962
Editore:
ACM Press
DOI:
10.1145/2786572.2788713
Autori:
Karputkin, Anton; Raik, Jaan
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE
Autori:
Artjom Jasnetski, Jaan Raik, Anton Tsertov, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2015, Pagina/e 251-254, ISBN 978-1-4799-6780-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2015.56
Autori:
Jenihhin, Maksim; Squillero, Giovanni; Copetti, Thiago Santos; Tihhomirov, Valentin; Kostin, Sergei; Gaudesi, Marco; Vargas, Fabian; Raik, Jaan; Sonza Reorda, Matteo; Bolzani Poehls, Leticia; Ubar, Raimund; Medeiros, Guilherme Cardoso
Pubblicato in:
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (JETTA), 2016
Editore:
SPRINGER
Autori:
Patrick Klampfl, Robert Könighofer, Roderick Bloem, Ayrat Khalimov, Aiman Abu-Yonis, Shiri Moran
Pubblicato in:
2017
Editore:
CoRR abs/1712.04291
Autori:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon D. ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Könighofer, Shlomit Koyfman, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Röck, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Pubblicato in:
2018, Pagina/e 15-38
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-62920-9_2
Autori:
G. Ali, H. Ebrahimi, J. Pathrose and H.G. Kerkhoff
Pubblicato in:
2018
Editore:
submitted to Industrial Cyber-Physical Systems (ICPS)
Autori:
Ofenloch, Annika and Greif, Fabian
Pubblicato in:
Journal of Communications, 2018
Editore:
Journal of Communications
Autori:
A. Jutman, K. Shibin, S. Devadze (Testonica Lab)
Pubblicato in:
2016, Pagina/e 240-249
Editore:
AUTOTESTCON’2016
Autori:
Bernhard Aichernig, Roderick Bloem, Franz Pernkopf, Franz Röck, Tobias Schrank and Martin Tappler (TU Graz)
Pubblicato in:
2016
Editore:
IEEE Symposium on Security and Privacy
Autori:
Bernhard K. Aichernig, Harald Brandl, Elisabeth Jöbstl, Willibald Krenn, Rupert Schlick, Stefan Tiran
Pubblicato in:
Software Testing, Verification and Reliability, Numero 25/8, 2015, Pagina/e 716-748, ISSN 0960-0833
Editore:
John Wiley & Sons Inc.
DOI:
10.1002/stvr.1522
Autori:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman, Martin Grabmann, Robin Pricken
Pubblicato in:
IEEE Design & Test, Numero 34/6, 2017, Pagina/e 27-35, ISSN 2168-2356
Editore:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2017.2750902
Autori:
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
Pubblicato in:
Journal of Electronic Testing, Numero 32/3, 2016, Pagina/e 273-289, ISSN 0923-8174
Editore:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5589-x
Autori:
Heinz Riener, Finn Haedicke, Stefan Frehse, Mathias Soeken, Daniel Große, Rolf Drechsler, Goerschwin Fey
Pubblicato in:
International Journal on Software Tools for Technology Transfer, 2016, ISSN 1433-2779
Editore:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s10009-016-0426-1
Autori:
Jan Malburg, Alexander Finder, Görschwin Fey (DLR)
Pubblicato in:
Journal of Microprocessors and Microsystems: Embedded Hardware Design (MICPRO), 2016, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
Autori:
Jinbo Wan, Hans Kerkhoff, Jaap Bisschop
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Nanotechnology, 2016, Pagina/e 1-1, ISSN 1536-125X
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TNANO.2015.2505092
Autori:
Vain,Jüri; Tsiopoulos, Leonidas; Kharchenko, Vyacheslav; Kaur, Apneet; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Nõmm Sven
Pubblicato in:
Green-IT Engineering: Social, Business and Industrial Applications (1−21), 2018
Editore:
Springer
Autori:
Roderick Bloem, Rüdiger Ehlers, Robert Könighofer
Pubblicato in:
Automated Technology for Verification and Analysis, 2015, Pagina/e 394-410, ISBN 978-3-319-24953-7
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-24953-7_29
Autori:
Roderick Bloem, Daniel Hein, Franz Röck, Richard Schumi
Pubblicato in:
Tests and Proofs, 2015, Pagina/e 58-75, ISBN 978-3-319-21215-9
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-21215-9_4
Diritti di proprietà intellettuale
Numero candidatura/pubblicazione:
US
9483591
Data:
2015-11-27
Numero candidatura/pubblicazione:
US
9483591
Data:
2015-11-27
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