Una conferenza internazionale esaminerà la microscopia a scansione a effetto tunnel, la spettroscopia e le tecniche correlate

Una conferenza internazionale in materia di microscopia a scansione a effetto tunnel, spettroscopia e tecniche correlate si svolgerà dal 21 al 25 luglio ad Eindhoven (Paesi Bassi).

Lo scopo della manifestazione è relazionare sulle ultime notizie e sui più recenti sviluppi delle tecnologie a scansione di sonda. La conferenza si occuperà di vari argomenti di interesse tra cui:

- biomolecole, macromolecole e polimeri;
- struttura superficiale di semiconduttori e metalli;
- adsorbati e reazioni sulle superfici di semiconduttori e metalli;
- sistemi magnetici;
- nanotubi e fili 1-D;
- catalisi ed elettrochimica;
- fenomeni nano-ottici;
- interazioni intra e intermolecolari;
- manipolazione a livello atomico e molecolare;
- nano-patterning.

Allo scopo di garantire la partecipazione attiva del pubblico, la conferenza prevede una serie di sessioni plenarie, presentazioni di poster ed esposizioni commerciali.

La conferenza è organizzata dall'istituto olandese di ricerca interuniversitaria sulla tecnologia delle comunicazioni (COBRA).Per ulteriori informazioni consultare il seguente indirizzo web:
http://stm03.tue.nl/Introduction.html(si apre in una nuova finestra)