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Metrologie in der Nanotechnologie

Am 14. und 15. Juni findet in Turin, Italien, ein Workshop zum Thema Metrologie in der Nanotechnologie statt.

Es handelt sich um eine anwendungsorientierte Veranstaltung, bei der auf tatsächlich gemachte Erfahrungen in der Industrie und den wirklichen industriellen Bedarf ei...

14 Juni 2007 - 14 Juni 2007
Italien
Am 14. und 15. Juni findet in Turin, Italien, ein Workshop zum Thema Metrologie in der Nanotechnologie statt.

Es handelt sich um eine anwendungsorientierte Veranstaltung, bei der auf tatsächlich gemachte Erfahrungen in der Industrie und den wirklichen industriellen Bedarf eingegangen wird. Auf der Veranstaltung werden Anwender aus der Industrie und Experten aus der italienischen Metrologiegemeinschaft sowie einige internationale Fachleute zusammentreffen, um den Bedarf in der Nanometrologie und jüngste Entwicklungen zu diskutieren, insbesondere im Hinblick auf Messtechniken und -methoden, Geräteausstattung und Normen.

Die thematischen Veranstaltungen befassen sich mit:
- Nanoherstellung, Top-Down-Verfahren, Nanoelektronik, Quantengeräte;
- Oberflächen, Schichten und Metrologie auf atomarer Ebene;
- nanostrukturierte Werkstoffe, Nanoverbundstoffe, Teilchenanalyse;
- interdisziplinäre Verfahren.Weitere Informationen sind abrufbar unter:
http://www.nanotec.it/eng/index_eng.html(öffnet in neuem Fenster)
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