Metrologia per le nanotecnologie
14 Giugno 2007 - 14 Giugno 2007
Italia
Dal 14 al 15 giugno a Torino si svolgerà un workshop sulla metrologia per le nanotecnologie.
L'iniziativa sarà basata sulle reali esperienze ed esigenze dell'industria e adotterà un approccio orientato alle applicazioni. Il workshop riunirà esponenti dell'industria ed esperti in metrologia italiani e internazionali per discutere le esigenze e i recenti sviluppi della nanometrologia, con un'attenzione particolare per le tecniche e i metodi di misura, la strumentazione e i campioni.
Le sessioni tematiche affronteranno i seguenti argomenti:
- nanofabbricazione, tecniche top-down, nanoelettronica, dispositivi quantici;
- superfici, strati sottili e metrologia a scala atomica;
- materiali nanostrutturati, nanocompositi, analisi delle particelle;
- tecniche interdisciplinari.Per ulteriori informazioni visitare:
http://www.nanotec.it(si apre in una nuova finestra)
L'iniziativa sarà basata sulle reali esperienze ed esigenze dell'industria e adotterà un approccio orientato alle applicazioni. Il workshop riunirà esponenti dell'industria ed esperti in metrologia italiani e internazionali per discutere le esigenze e i recenti sviluppi della nanometrologia, con un'attenzione particolare per le tecniche e i metodi di misura, la strumentazione e i campioni.
Le sessioni tematiche affronteranno i seguenti argomenti:
- nanofabbricazione, tecniche top-down, nanoelettronica, dispositivi quantici;
- superfici, strati sottili e metrologia a scala atomica;
- materiali nanostrutturati, nanocompositi, analisi delle particelle;
- tecniche interdisciplinari.Per ulteriori informazioni visitare:
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