Skip to main content

Event Category

Veranstaltung

Article available in the folowing languages:

"Konferenz zum Thema In-Situ- und korrelative Elektronenmikroskopie", Saarbrücken, Deutschland

Vom 6. bis 7. November 2012 findet in Saarbrücken, Deutschland, eine "Konferenz zum Thema In-Situ- und korrelative Elektronenmikroskopie" (Conference on in-situ and correlative electron microscopy) statt.

Die Mikroskopie ist ein grundlegendes Werkzeug zur Analyse des Zellauf...

6 November 2012 - 6 November 2012
Deutschland

Vom 6. bis 7. November 2012 findet in Saarbrücken, Deutschland, eine "Konferenz zum Thema In-Situ- und korrelative Elektronenmikroskopie" (Conference on in-situ and correlative electron microscopy) statt.

Die Mikroskopie ist ein grundlegendes Werkzeug zur Analyse des Zellaufbaus und zellulärer Funktionen. Mit dem Aufkommen neuer fluoreszierender Sonden und superauflösender Lichtmikroskopieverfahren wurde die Untersuchung dynamischer Prozesse in lebenden Zellen überaus erleichtert. Heute setzt man in Elektronenmikroskopen einen Elektronenstrahl ein, um ein Bild von Proben zu erzeugen, anhand dessen die Wissenschaftler neue Informationen über biologische Systeme und deren zellulären Regulation gewinnen können.

Bei der Veranstaltung steht zur Diskussion, wie Prozesse untersucht werden können, indem der Zeitfaktor in die Elektronenmikroskopie einbezogen wird, indem Kennzeichnungen aus Nanopartikeln zum Einsatz kommen oder eine Kombination verschiedener mikroskopischer Methoden vorgenommen wird. Dazu gehören zum Beispiel die korrelative Fluoreszenzmikroskopie und die Elektronenmikroskopie.

Diese Konferenz bietet ein Forum für Teilnehmerinnen und Teilnehmer aus verschiedenen interdisziplinären Wissenschaftlergruppen der Bereiche Biologie, Materialwissenschaften, Chemie und Physik. Gemeinsam werden sie zukünftige Richtungen der Elektronenmikroskopieforschung diskutieren.Weitere Informationen sind abrufbar unter:
http://www.inm-gmbh.de/de/forschung/querschnittsbereiche/innovative-elektronenmikroskopie/conference-on-in-situ-and-correlative-electron-microscopy-ciscem/