Extraction of individual Pockels coefficients of thin films via interferometric reflection measurements
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Auteurs:
Kobe De Geest, Enes Lievens, Ewout Picavet, Klaartje De Buysser, Dries Van Thourhout, Jeroen Beeckman
Publié dans:
Journal of Physics: Photonics, Numéro 7, 2024, ISSN 2515-7647
Éditeur:
IOP Publishing
DOI:
10.1088/2515-7647/ADA902
ACS applied materials & interfaces
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Auteurs:
Mikołaj Chlipała; Henryk Turski
Publié dans:
ACS Applied Materials & Interfaces, 2024, ISSN 1944-8244
Éditeur:
American Chemical Society (ACS)
DOI:
10.1021/ACSAMI.4C02084
Integration Of Solution‐Processed BaTiO<sub>3</sub> Thin Films with High Pockels Coefficient on Photonic Platforms
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Auteurs:
Ewout Picavet, Enes Lievens, Kobe De Geest, Hannes Rijckaert, Edgar Gutierrez Fernandez, Oier Bikondoa, Eduardo Solano, Petriina Paturi, Nishant Singh, Tinus Pannier, Jiayi Liu, Xin Yin, Dries Van Thourhout, Jeroen Beeckman, Klaartje De Buysser
Publié dans:
Advanced Functional Materials, Numéro 34, 2025, ISSN 1616-301X
Éditeur:
Wiley
DOI:
10.1002/ADFM.202403024
Competition between built-in polarization and p–n junction field in III-nitride heterostructures
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Auteurs:
Henryk Turski, Mikolaj Chlipala, Ewelina Zdanowicz, Ernest Rogowicz, Grzegorz Muziol, Joanna Moneta, Szymon Grzanka, Marcin Kryśko, Marcin Syperek, Robert Kudrawiec, and Czeslaw Skierbiszewski
Publié dans:
Journal of Applied Physics, 2023, ISSN 0021-8979
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0177614
Electrochemical Etching for Seamless Micro-Transfer Printing of InGaN LEDs
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Auteurs:
Chlipała, Mikołaj; Akritidis, Konstantinos; Levchenko, Iryna; Gibasiewicz, Krzysztof; Brstilo, Tara; Billet, Maximilien; Van Dorpe, Pol; Fiuczek, Natalia; Sawicka, Marta; Kuyken, Bart; Turski, Henryk
Publié dans:
ACS Applied Electronic Materials, 2025, ISSN 2637-6113
Éditeur:
ACS
DOI:
10.1021/ACSAELM.5C00259
Crystal Growth and Design
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Auteurs:
Marta Sawicka, Henryk Turski, Kamil Sobczak, Anna Feduniewicz-Żmuda, Natalia Fiuczek, Oliwia Gołyga, Marcin Siekacz, Grzegorz Muziol, Grzegorz Nowak, Julita Smalc-Koziorowska, and Czesław Skierbiszewski
Publié dans:
Crystal Growth & Design, Numéro 23, 2023, ISSN 1528-7483
Éditeur:
ACS Publications
DOI:
10.1021/acs.cgd.3c00317
Solution-Processed Pb(Zr,Ti)O<sub>3</sub>Thin Films with Strong Remnant Pockels Coefficient
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Auteurs:
Ewout Picavet, Kobe De Geest, Enes Lievens, Hannes Rijckaert, Tom Vandekerckhove, Eduardo Solano, Davy Deduytsche, Laura Van Bossele, Dries Van Thourhout, Klaartje De Buysser, Jeroen Beeckman
Publié dans:
ACS Applied Materials & Interfaces, Numéro 16, 2024, ISSN 1944-8244
Éditeur:
American Chemical Society (ACS)
DOI:
10.1021/ACSAMI.4C07073
Laser diodes grown on porous GaN by plasma-assisted molecular beam epitaxys
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Auteurs:
Natalia Fiuczek, Mateusz Hajdel, Anna Kafar, Grzegorz Muziol, Marcin Siekacz, Anna Feduniewicz-Żmuda, Oliwia Gołyga, Czesław Skierbiszewski, and Marta Sawicka
Publié dans:
OPT MATER EXPRESS, 2023, ISSN 2159-3930
Éditeur:
Optical Materials Express
DOI:
10.1364/OME.485588
Using both faces of polar semiconductor wafers for functional devices
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Auteurs:
Len van Deurzen, Eungkyun Kim, Naomi Pieczulewski, Zexuan Zhang, Anna Feduniewicz-Zmuda, Mikolaj Chlipala, Marcin Siekacz, David Muller, Huili Grace Xing, Debdeep Jena, Henryk Turski
Publié dans:
Nature, Numéro 634, 2024, ISSN 0028-0836
Éditeur:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/s41586-024-07983-z
