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Monolithic Multi-Junction Picosecond Avalanche Detector for future physics experiments and applications

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Publicaciones

Measurements and analysis of different front-end configurations for monolithic SiGe BiCMOS pixel detectors for HEP applications (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: F. Martinelli, C. Magliocca, R. Cardella, E. Charbon, G. Iacobucci, M. Nessi, L. Paolozzi, H. Rücker, P. Valerio
Publicado en: Journal of Instrumentation, 2021, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/16/12/p12038

Efficiency and time resolution of monolithic silicon pixel detectors in SiGe BiCMOS technology (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: G. Iacobucci, L. Paolozzi, P. Valerio, T. Moretti, F. Cadoux, R. Cardarelli, R. Cardella, S. Débieux, Y. Favre, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, Y. Gurimskaya, R. Kotitsa, C. Magliocca, F. Martinelli, M. Milanesio, M. Münker, M. Nessi, A. Picardi, J. Saidi, H. Rücker, M. Vicente Barreto Pinto, S. Zambito
Publicado en: Journal of Instrumentation, 2021, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/17/02/p02019

Time resolution of a SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detector without internal gain layer with a femtosecond laser (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: M. Milanesio, L. Paolozzi, T. Moretti, A. Latshaw, L. Bonacina, R. Cardella, T. Kugathasan, A. Picardi, M. Elviretti, H. Rücker, R. Cardarelli, L. Cecconi, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, L. Iodice, R. Kotitsa, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Sabater Iglesias, I. Semendyaev, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto, S. Zambito, G. Iacobucci
Publicado en: Journal of Instrumentation, Edición 19, 2024, Página(s) P04029, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/19/04/p04029

Testbeam results of irradiated SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detector without internal gain layer (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: T. Moretti, M. Milanesio, R. Cardella, T. Kugathasan, A. Picardi, I. Semendyaev, M. Elviretti, H. Rücker, K. Nakamura, Y. Takubo, M. Togawa, F. Cadoux, R. Cardarelli, L. Cecconi, S. Débieux, Y. Favre, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, L. Iodice, R. Kotitsa, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Sabater Iglesias, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto, S. Zambito, L. Paolozzi, G
Publicado en: Journal of Instrumentation, Edición 19, 2024, Página(s) P07036, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/19/07/p07036

Monolithic Picosecond Silicon Pixel Sensors for Future Physics: Experiments and Applications (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: G. Iacobucci, L. Paolozzi, P. Valerio
Publicado en: IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, 2021, ISSN 1094-6969
Editor: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/mim.2021.9620045

20 ps time resolution with a fully-efficient monolithic silicon pixel detector without internal gain layer (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: S. Zambito, M. Milanesio, T. Moretti, L. Paolozzi, M. Munker, R. Cardella, T. Kugathasan, F. Martinelli, A. Picardi, M. Elviretti, H. Rücker, A. Trusch, F. Cadoux, R. Cardarelli, S. Débieux, Y. Favre, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, L. Iodice, R. Kotitsa, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Sabater Iglesias, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto and G. Iacobucci
Publicado en: journal of instrumentation, 2023, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/18/03/p03047

Radiation tolerance of SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detectors without internal gain layer (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: M. Milanesio, L. Paolozzi, T. Moretti, R. Cardella, T. Kugathasan, F. Martinelli, A. Picardi, I. Semendyaev, S. Zambito, K. Nakamura, Y. Takubo, M. Togawa, M. Elviretti, H. Rücker, F. Cadoux, R. Cardarelli, S. Débieux, Y. Favre, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, L. Iodice, R. Kotitsa, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Sabater Iglesias, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto
Publicado en: Journal of Instrumentation, Edición 19, 2024, Página(s) P01014, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/19/01/p01014

Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer

Autores: L. Paolozzi, M. Milanesio, T. Moretti, R. Cardella, T. Kugathasan, A. Picardi, M. Elviretti, H. Rücker, F. Cadoux, R. Cardarelli, L. Cecconi, S. Débieux, Y. Favre, C. A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, L. Iodice, R. Kotitsa, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto, S. Zambito, G. Iacobucci
Publicado en: accepted by JINST for publication, 2025, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics

Picosecond Avalanche Detector — working principle and gain measurement with a proof-of-concept prototype (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: L. Paolozzi, M. Munker, R. Cardella, M. Milanesio, Y. Gurimskaya, F. Martinelli, A. Picardi,, H. Rücker, A. Trusch, P. Valerio, F. Cadoux, R. Cardarelli, S. Débieux, Y. Favre, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, R. Kotitsa,, C. Magliocca, T. Moretti, M. Nessi,, A. Pizarro Medina, J. Sabater Iglesias, J. Saidi, M. Vicente Barreto Pinto, S. Zambito and G. Iacobucci
Publicado en: Journal of Instrumentation, 2022, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/17/10/p10032

A massively scalable Time-to-Digital Converter with a PLL-free calibration system in a commercial 130 nm process (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: F. Martinelli, P. Valerio, R. Cardarelli, E. Charbon, G. Iacobucci, M. Nessi, L. Paolozzi
Publicado en: Journal of Instrumentation, 2021, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/16/11/p11023

Testbeam results of the Picosecond Avalanche Detector proof-of-concept prototype (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: G. Iacobucci, S. Zambito, M. Milanesio, T. Moretti, J. Saidi, L. Paolozzi, M. Munker, R. Cardella, F. Martinelli, A. Picardi,, H. Rücker, A. Trusch, P. Valerio, F. Cadoux, R. Cardarelli, S. Débieux, Y. Favre, C.A. Fenoglio, D. Ferrere, S. Gonzalez-Sevilla, Y. Gurimskaya, R. Kotitsa,, C. Magliocca, M. Nessi, A. Pizarro-Medina, J. Sabater Iglesias and M. Vicente Barreto Pinto
Publicado en: Journal of Instrumentation, 2022, ISSN 1748-0221
Editor: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1748-0221/17/10/p10040

Derechos de propiedad intelectual

MULTI-JUNCTION PICO-AVALANCHE DETECTOR

Número de solicitud/publicación: 19 802143
Fecha: 2019-11-08
Solicitante(s): UNIVERSITE DE GENEVE

MULTI-JUNCTION PICO-AVALANCHE DETECTOR

Número de solicitud/publicación: 19 802143
Fecha: 2019-11-08
Solicitante(s): UNIVERSITE DE GENEVE

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