Migliorare la visualizzazione delle nanostrutture
Due delle tecnologie più largamente usate per l'imaging e la microlavorazione dei materiali in ricerca, sviluppo e produzione sono i sistemi a fascio ionico focalizzato (FIB) e a fascio elettronico focalizzato. I primi vengono utilizzati nella spettrometria di massa di ioni secondari (SIMS). I secondi sono impiegati nella microscopia elettronica a trasmissione (TEM) e nella microscopia fotoelettronica a raggi X(XPS). I ricercatori europei hanno dato avvio al progetto Nanobeams ("Nanoanalysis using finely focused ion and electron beams") per propiziare l'incontro tra i produttori di tale equipaggiamento e i migliori scienziati e ricercatori nel campo dei nanomateriali. L'obiettivo era quello di migliorare lo sviluppo di strumentazione efficiente nell'area della nanoanalisi. Il consorzio Nanobeams ha creato un programma di dottorato sul tema "Nanoanalysis using finely focused ion and electron beams". Tale programma è ora inserito nel curriculum dell'University of Luxembourg e dovrebbe fornire uno stimolo significativo al settore della ricerca sulla nanoanalisi. Sono stati implementati numerosi corsi di formazione e training per gli utenti, consentendo alla loro comunità di conquistare abilità correlate alle tecniche più recenti e fornendo ai produttori industriali del relativo equipaggiamento la possibilità di stabilire contatti con potenziali futuri clienti. Il consorzio sta attualmente sviluppando una nuova tecnica che combina SIMS del tempo di volo (ToF-SIMS) e microscopia a scansione di forza (SFM) per le nanoanalisi quantitative. La tecnologia dovrebbe facilitare la commercializzazione di nuovi prodotti e la richiesta dei brevetti. Le innovazioni tecniche del progetto Nanobeams comprendono lo sviluppo di nuove tecniche per un'affidabile analisi chimica ad alta risoluzione di una varietà di tipi di campione. I risultati sono stati ampiamente diffusi e hanno portato a miglioramenti nella strumentazione disponibile in commercio. In generale, il progetto Nanobeams ha stabilito importanti collegamenti tra ricercatori accademici e produttori industriali di strumentazione per nanoanalisi a fascio ionico e fascio elettronico allo stato dell'arte. Tale collaborazione ha portato a migliorie nella strumentazione high-tech e uno stimolo alla ricerca sulla nanoanalisi. Ambedue promettono di aumentare la competitività dell'economia europea nel campo della nanotecnologia.
