Röntgenoptik und Mikroanalyse
24 August 1998 - 24 August 1998
Belgien
Die 15. internationale Konferenz über Röntgenoptik und Mikroanalyse findet vom 24. bis 27. August 1998 in Antwerpen, Belgien, statt. Ziel der Veranstaltung ist die Erörterung der jüngsten Entwicklungen bei Methoden und Instrumenten für die Mikro-und Oberflächenanalyse sowie der Fortschritte im Anwendungsbereich.
Im Mittelpunkt der Konferenz stehen Probleme im Zusammenhang mit der Validierung mikroskopischer Methoden. Daneben werden sowohl quantitative Aspekte der Elektronenmikrosonden-Analyse als auch qualitative Aspekte der entsprechenden Methodologien betrachtet. Die folgenden Themen werden ausführlich behandelt:
- Quantitative Aspekte der Mikroanalyse;
- Synchrotron-Strahlung und Röntgenoptik für die Mikroanalyse;
- Mikro- und Oberflächenanalyse;
- Dünnfilmanalyse und TEM;
- Anwendungen im Bereich der Materialwissenschaft, Kunst und Archäometrie, chemischer und biologischer Untersuchungen und Geowissenschaften.
Weitere Informationen erteilt:
Universiteit Antwerpen
Professor F. Adams
Departement Scheikunde
1 Universiteitsplein
B-2610 Antwerpen
Tel. +32-3-8202010; Fax +32-3-8202376
E-mail: adams@uia.ua.ac.be
Im Mittelpunkt der Konferenz stehen Probleme im Zusammenhang mit der Validierung mikroskopischer Methoden. Daneben werden sowohl quantitative Aspekte der Elektronenmikrosonden-Analyse als auch qualitative Aspekte der entsprechenden Methodologien betrachtet. Die folgenden Themen werden ausführlich behandelt:
- Quantitative Aspekte der Mikroanalyse;
- Synchrotron-Strahlung und Röntgenoptik für die Mikroanalyse;
- Mikro- und Oberflächenanalyse;
- Dünnfilmanalyse und TEM;
- Anwendungen im Bereich der Materialwissenschaft, Kunst und Archäometrie, chemischer und biologischer Untersuchungen und Geowissenschaften.
Weitere Informationen erteilt:
Universiteit Antwerpen
Professor F. Adams
Departement Scheikunde
1 Universiteitsplein
B-2610 Antwerpen
Tel. +32-3-8202010; Fax +32-3-8202376
E-mail: adams@uia.ua.ac.be