Ottica e microanalisi a raggi X

La XV conferenza internazionale sull'ottica e la microanalisi a raggi X si terrà ad Anversa, Belgio, dal 24 al 27 agosto 1998. L'obiettivo dell'evento è quello di discutere gli ultimi sviluppi a livello di metodi e di strumentazione per la microanalisi e l'analisi di superficie, come pure i progressi compiuti nelle applicazioni.

La conferenza metterà in luce i problemi relativi alla validazione delle tecniche microscopiche e considererà sia gli aspetti quantitativi dell'analisi mediante microsonda a elettroni sia gli aspetti qualitativi delle metodologie prese in esame. Verranno trattati approfonditamente i seguenti argomenti:

- Aspetti quantitativi della microanalisi;
- Radiazioni di sincrotoni e ottica a raggi X per la microanalisi;
- Microanalisi e analisi di superficie;
- Analisi delle pellicole sottili e TEM;
- Applicazioni nella scienza dei materiali, nell'arte e nell'archeometria, nelle ricerche chimiche e biologiche e nelle scienze della Terra.

Per maggiori informazioni, contattare:

Universiteit Antwerpen
Professor F. Adams
Departement Scheikunde
1 Universiteitsplein
B-2610 Anversa
Tel. +32-3-8202010; Fax +32-3-8202376
E-mail: adams@uia.ua.ac.be