Enabling spatially-resolved mapping of electric activity in operational devices at atomic-resolution

Información del proyecto

ELECTRON

Identificador del acuerdo de subvención: 101088712

DOI

10.3030/101088712

Fecha de la firma de la CE 6 Mayo 2023

Fecha de inicio 1 Marzo 2024

Fecha de finalización 28 Febrero 2029

Financiado con arreglo a

• European Research Council (ERC)

Coste total

€ 2 082 500,00

Aportación de la UE

€ 2 082 500,00

Coordinado por

TECHNISCHE UNIVERSITAT DARMSTADT
Germany

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Publicaciones

Peer reviewed articles (10)

Nanoscale RRAM Device Fabrication via Electron-Beam Deposition and Ga-Free Multi-Ion Plasma FIB Milling

Autores: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.020

Beam Profile Mapping in a Helios 5 Hydra PFIB for Adaptive Microfabrication Workflows

Autores: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 32, 2026, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.120

Beyond Room Temperature: Accurate Temperature Calibration for Cryogenic <i>In Situ</i> TEM Experiments on MEMS Heating Devices

Autores: Mia Andersen, András Kovács, Tianshu Jiang, Ricardo Egoavil, Gijs van der Gugten, Vasilis Papadimitriou, Merijn Pen, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna, Rafal E Dunin-Borkowski, Yevheniy Pivak
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 32, 2026, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.213

Investigating EBIC Signal as Function of Beam Voltage, Current and Thickness

Autores: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 32, 2026, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.209

Designing and Investigating 3D-Engineered RRAM Devices for Realistic In Situ Electron Microscopy Studies

Autores: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.740

Enhancing In Situ TEM Characterization of RRAM Devices via Optimized Chip Carrier Designs

Autores: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.885

From EBIC to Scanning Transmission EBIC: Probing Functional Oxide-Based Two Terminal Lamella Devices

Autores: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.212

Multi-Ion Plasma FIB for Advanced TEM Lamella Preparation: A Comparative Study Toward (SE)EBIC-Enabled Analysis

Autores: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, William A Hubbard, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.021

PFIB-Based Sample Preparation Workflow for a MEMS Tensile Platform Enabling Correlative In-Situ SEM and TEM Studies

Autores: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Yevheniy Pivak, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 32, 2026, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.122

Interfacial Charge Transport in ZnO-Based Metal-Insulator-Metal Devices Probed by Electron-Beam-Induced Current

Autores: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Publicado en: Microscopy and Microanalysis, Edición 31, 2025, ISSN 1431-9276
Editor: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.631