Enabling spatially-resolved mapping of electric activity in operational devices at atomic-resolution

Projektinformationen

ELECTRON

ID Finanzhilfevereinbarung: 101088712

DOI

10.3030/101088712

EK-Unterschriftsdatum 6 Mai 2023

Startdatum 1 März 2024

Enddatum 28 Februar 2029

Finanziert unter

• European Research Council (ERC)

Gesamtkosten

€ 2 082 500,00

EU-Beitrag

€ 2 082 500,00

Koordiniert durch

TECHNISCHE UNIVERSITAT DARMSTADT
Germany

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Veröffentlichungen

Peer reviewed articles (10)

Nanoscale RRAM Device Fabrication via Electron-Beam Deposition and Ga-Free Multi-Ion Plasma FIB Milling

Autoren: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.020

Beam Profile Mapping in a Helios 5 Hydra PFIB for Adaptive Microfabrication Workflows

Autoren: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 32, 2026, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.120

Beyond Room Temperature: Accurate Temperature Calibration for Cryogenic <i>In Situ</i> TEM Experiments on MEMS Heating Devices

Autoren: Mia Andersen, András Kovács, Tianshu Jiang, Ricardo Egoavil, Gijs van der Gugten, Vasilis Papadimitriou, Merijn Pen, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna, Rafal E Dunin-Borkowski, Yevheniy Pivak
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 32, 2026, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.213

Investigating EBIC Signal as Function of Beam Voltage, Current and Thickness

Autoren: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 32, 2026, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.209

Designing and Investigating 3D-Engineered RRAM Devices for Realistic In Situ Electron Microscopy Studies

Autoren: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.740

Enhancing In Situ TEM Characterization of RRAM Devices via Optimized Chip Carrier Designs

Autoren: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.885

From EBIC to Scanning Transmission EBIC: Probing Functional Oxide-Based Two Terminal Lamella Devices

Autoren: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.212

Multi-Ion Plasma FIB for Advanced TEM Lamella Preparation: A Comparative Study Toward (SE)EBIC-Enabled Analysis

Autoren: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, William A Hubbard, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.021

PFIB-Based Sample Preparation Workflow for a MEMS Tensile Platform Enabling Correlative In-Situ SEM and TEM Studies

Autoren: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Yevheniy Pivak, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 32, 2026, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.122

Interfacial Charge Transport in ZnO-Based Metal-Insulator-Metal Devices Probed by Electron-Beam-Induced Current

Autoren: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 31, 2025, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.631