Enabling spatially-resolved mapping of electric activity in operational devices at atomic-resolution

Informacje na temat projektu

ELECTRON

Identyfikator umowy o grant: 101088712

DOI

10.3030/101088712

Data podpisania przez KE 6 Maja 2023

Data rozpoczęcia 1 Marca 2024

Data zakończenia 28 Lutego 2029

Finansowanie w ramach

• European Research Council (ERC)

Koszt całkowity

€ 2 082 500,00

Wkład UE

€ 2 082 500,00

Koordynowany przez

TECHNISCHE UNIVERSITAT DARMSTADT
Germany

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Publikacje

Peer reviewed articles (10)

Nanoscale RRAM Device Fabrication via Electron-Beam Deposition and Ga-Free Multi-Ion Plasma FIB Milling

Autorzy: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.020

Beam Profile Mapping in a Helios 5 Hydra PFIB for Adaptive Microfabrication Workflows

Autorzy: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 32, 2026, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.120

Beyond Room Temperature: Accurate Temperature Calibration for Cryogenic <i>In Situ</i> TEM Experiments on MEMS Heating Devices

Autorzy: Mia Andersen, András Kovács, Tianshu Jiang, Ricardo Egoavil, Gijs van der Gugten, Vasilis Papadimitriou, Merijn Pen, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna, Rafal E Dunin-Borkowski, Yevheniy Pivak
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 32, 2026, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.213

Investigating EBIC Signal as Function of Beam Voltage, Current and Thickness

Autorzy: A Wahab Shakib, Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 32, 2026, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.209

Designing and Investigating 3D-Engineered RRAM Devices for Realistic In Situ Electron Microscopy Studies

Autorzy: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.740

Enhancing In Situ TEM Characterization of RRAM Devices via Optimized Chip Carrier Designs

Autorzy: Robert Winkler, Daniel Vasquez, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.885

From EBIC to Scanning Transmission EBIC: Probing Functional Oxide-Based Two Terminal Lamella Devices

Autorzy: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.212

Multi-Ion Plasma FIB for Advanced TEM Lamella Preparation: A Comparative Study Toward (SE)EBIC-Enabled Analysis

Autorzy: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, William A Hubbard, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.021

PFIB-Based Sample Preparation Workflow for a MEMS Tensile Platform Enabling Correlative In-Situ SEM and TEM Studies

Autorzy: Daniel R Vasquez, Robert Winkler, Alexander Fakiner, A Wahab Shakib, Yevheniy Pivak, Hugo Pérez-Garza, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 32, 2026, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAG053.122

Interfacial Charge Transport in ZnO-Based Metal-Insulator-Metal Devices Probed by Electron-Beam-Induced Current

Autorzy: Alexander Fakiner, Robert Winkler, Daniel Vasquez, A Wahab Shakib, Leopoldo Molina-Luna
Opublikowane w: Microscopy and Microanalysis, Numer 31, 2025, ISSN 1431-9276
Wydawca: Oxford University Press (OUP)
DOI: 10.1093/MAM/OZAF048.631