Digital Autonomy for RISC-V in Europe (Specific Grant Agreement 1)

Informations projet

DARE SGA 1

N° de convention de subvention: 101202459

DOI

10.3030/101202459

Date de signature de la CE 18 Février 2025

Date de début 1 Mars 2025

Date de fin 29 Février 2028

Financé au titre de

• Digital, Industry and Space

Coût total

€ 239 995 859,50

Contribution de l’UE

€ 102 262 283,43

Coordonné par

BARCELONA SUPERCOMPUTING CENTER CENTRO NACIONAL DE SUPERCOMPUTACION
Spain

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Documents, reports (4)

Data management plan

DMP

Communication and Dissemination Plan

Description of the communication and dissemination strategy, the activities to be undertaken to achieve this, and KPIs to monitor progress. Dissemination results will be reported in the periodic and final reports.

Off-the-shelf RISC-V SDV User Documentation
Functional Emulator SDV User Documentation

Publications

Other (1)

Report on Maturity of LLVM's Fortran Support

Auteurs: Toda, Ferran; Ferrer, Roger
Publié dans: 2025
Éditeur: Zenodo
DOI: 10.5281/ZENODO.16960275

Conference proceedings (4)

Sisyphus: Cross-Layer Efficiency Across NVM Technologies in Compute-in-Memory Architectures

Auteurs: Ali Nezhadi, Odysseas Chatzopoulos, Mahta Mayahinia, George Papadimitriou, Mehdi Tahoori, Dimitris Gizopoulos
Publié dans: 2025 IEEE International Test Conference (ITC), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/ITC58126.2025.00028

Evaluating ECC for Cache Reliability Under Multi-Bit Upsets: A Design Space Exploration

Auteurs: Foteini Kotsimpou, George Papadimitriou, Dimitris Gizopoulos
Publié dans: 2025 IEEE 31st International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/IOLTS65288.2025.11117031

Accurate Analysis of Silent Data Corruptions in Programmable AI Accelerator Microarchitectures

Auteurs: Odysseas Chatzopoulos, Maria Trakosa, Dimitris Gizopoulos
Publié dans: 2025 IEEE 31st International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/IOLTS65288.2025.11117132

vACE: Exploring the Design Space of Vector Processing Units for Soft Error Vulnerability

Auteurs: George-Marios Fragkoulis, Dimitris Gizopoulos
Publié dans: 2025 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), 2025
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/IISWC66894.2025.00023

Peer reviewed articles (4)

IEEE Access

Auteurs: Danila Gorodecky; Leonel Sousa
Publié dans: IEEE Access, 2025, ISSN 2169-3536
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/ACCESS.2025.3626755

Towards RISC-V-based HPC: The Italian Pathfinding Activities in the DARE-SGA1 Project

Auteurs: Agosta G.; Aldinucci M.; Bartolini A.; Bellentani L.; Biagioni A.; Cesarini D.; Chiarini C.; Colonnelli I.; Delugas P.; Denisov L.; Frezza O.; Grangetto M.; Cicero F. L.; Lonardo A.; Martinelli M.; Maslov A.; Olivieri M.; Perticaroli P.; Pontisso L.; Rossi C.; Rossi D.; Saponara S.; Sciarappa A.; Simula F.; Reorda M. S.; Torquati M.; Vicini P.
Publié dans: 2025 28th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2026, ISSN 2771-2508
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/DSD67783.2025.00057

Harpocrates++: Automated Functional Program Generation Against CPU Faults and Silent Data Corruptions

Auteurs: Nikos Karystinos, George-Marios Fragkoulis, Odysseas Chatzopoulos, Dimitris Gizopoulos, Sudhanva Gurumurthi
Publié dans: IEEE Micro, Numéro 46, 2026, ISSN 0272-1732
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/MM.2025.3640385

Phoebe: Measuring the Unmeasurable—Demystifying Silent Data Corruptions in AI Accelerators Through Microarchitectural Modeling

Auteurs: Odysseas Chatzopoulos, Maria Trakosa, Harish D. Dixit, Sriram Sankar, Dimitris Gizopoulos
Publié dans: IEEE Micro, Numéro 46, 2026, ISSN 0272-1732
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/MM.2025.3646859