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Resultado final
Study on ordering in SPSLs and factors affecting In fluctuations and interface roughness in SPSLs
Draft Periodic report (se abrirá en una nueva ventana)Draft 1st Periodic report. The basis for the Midterm Review.
Reconstruction effects on In incorporation in SPSLs (se abrirá en una nueva ventana)Study of effect of reconstructions induced by active species/ substrate/ surface orientation on In incorporation in SPSLs
Recombination mechanism in In-rich (InN/GaN) SPSLs (se abrirá en una nueva ventana)Study on the recombination mechanism in In-rich (InN/GaN) structures
Defect formation in (In,Ga)N buffers on GaN and alternative substrates (se abrirá en una nueva ventana)Study on defect formation in (In,Ga)N buffers on GaN and alternative substrates
Influence of Mg as active specie on the reconstructions of InN and on the incorporation of In in (InN/GaN) SPSLs (se abrirá en una nueva ventana)Study of influence of Mg on In wetting and on InN reconstructions deposited on Ga- and N-polar GaN substrates, and on the incorporation of In in (InN/GaN) SPSLs.
Critical thickness for dislocation formation in (In,Ga)N buffers on different substrates (se abrirá en una nueva ventana)Study on the critical thickness for dislocation formation in (In,Ga)N buffers on different substrates
Influence of active species on In wetting and InN reconstructions on Gaand N-polar GaN substrates (se abrirá en una nueva ventana)Study of influence of active species on In wetting and on InN reconstructions deposited on Ga- and Npolar GaN substrates
In wetting and InN reconstructions on ZnO and on relaxed (In,Ga)N buffers deposited on Ga- and N-polar GaN substrates with and without miscut (se abrirá en una nueva ventana)Study of In wetting and InN reconstruction domains on ZnO and on (In,Ga)N buffers deposited on Gaand N-polar GaN substrates
Reliable method for analysis and quantification of In fluctuations (se abrirá en una nueva ventana)Report on the most reliable method for analysis and quantification of In fluctuations
Progress Report (se abrirá en una nueva ventana)1st progress report
Results from WP2.1
PhD thesis WP1.1 (se abrirá en una nueva ventana)Results from WP1.1
Supervisory Board (se abrirá en una nueva ventana)Supervisory Board of the Network
PhD thesis WP2.2 (se abrirá en una nueva ventana)Results from WP2.2
PhD thesis WP3 (se abrirá en una nueva ventana)Results from WP3
MTR (se abrirá en una nueva ventana)Midterm Review meeting
PhD thesis WP1.2 (se abrirá en una nueva ventana)Results from WP1.2
Publicaciones
Autores:
Torsten Ernst, Caroline Chèze, Raffaella Calarco
Publicado en:
Journal of Applied Physics, Edición 124/11, 2018, Página(s) 115305, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5041880
Autores:
J. Moneta, M. Siekacz, E. Grzanka, T. Schulz, T. Markurt, M. Albrecht, J. Smalc-Koziorowska
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 113/3, 2018, Página(s) 031904, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5030190
Autores:
P. Wolny, M. Anikeeva, M. Sawicka, T. Schulz, T. Markurt, M. Albrecht, M. Siekacz, C. Skierbiszewski
Publicado en:
Journal of Applied Physics, Edición 124/6, 2018, Página(s) 065701, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5032287
Autores:
L. Lymperakis, T. Schulz, C. Freysoldt, M. Anikeeva, Z. Chen, X. Zheng, B. Shen, C. Chèze, M. Siekacz, X. Q. Wang, M. Albrecht, J. Neugebauer
Publicado en:
Physical Review Materials, Edición 2/1, 2018, ISSN 2475-9953
Editor:
American Physical Society
DOI:
10.1103/PhysRevMaterials.2.011601
Autores:
C. Chèze , F. Feix , M. Anikeeva , T. Schulz , M. Albrecht , H. Riechert , O. Brandt , R. Calarco
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 110, 2017, Página(s) 072104, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4976198
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