Livrables
Report
Integrated demonstrator on modelling, verification and reliability analysisReport
System-level reliability analysis toolsReport
FDIR schemes (incl. reconfiguration, health map, fault classification)Report
Dynamic, semi-formal and formal reliability analysis toolsreport
Fault management infrastructure verification toolsReport
Market analysisReport
Status on fault managementReport
Verification, debugging and testing toolsReport
Dissemination and communication reportReport
Status on modelling, fault/reconfiguration modelling and reliability metricsCross-layer CPS modelling framework
Report
Reconfiguration modellingReport
CPS run-time for SW task deploymentReport
Dynamic, semi-formal and formal reliability analysis methodsReport
Fault models and reliability metricsReport
Verification, debugging and testing methodsReport
Publications
Auteurs:
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Publié dans:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Page(s) 75-80, ISBN 978-1-5090-1331-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/LATW.2016.7483343
Auteurs:
Anton Karputkin, Jaan Raik
Publié dans:
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016, Page(s) 1124-1127, ISBN 978-3-9815370-7-9
Éditeur:
Research Publishing Services
DOI:
10.3850/9783981537079_0260
Auteurs:
Heinz Riener, Goerschwin Fey
Publié dans:
2016 1st IEEE International Verification and Security Workshop (IVSW), 2016, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5090-1141-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IVSW.2016.7566605
Auteurs:
Hans G. Kerkhoff, Ghazanfar Ali, Jinbo Wan, Ahmed Ibrahim, Jerrin Pathrose
Publié dans:
2017 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2017, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5386-2880-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2017.8203464
Auteurs:
Hans G. Kerkhoff, Ghazanfar Ali, Hassan Ebrahimi, Ahmed Ibrahim
Publié dans:
2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, Page(s) 65-70, ISBN 978-1-5386-3051-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC-ASIA.2017.8097113
Auteurs:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, Page(s) 59-64, ISBN 978-1-5386-3051-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC-ASIA.2017.8097112
Auteurs:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), 2017, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5090-4482-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS.2017.7928955
Auteurs:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2017, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-5386-0352-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IOLTS.2017.8046166
Auteurs:
Vain, Jüri; Tsiopoulos, Leonidas; Kharchenko, Vyacheslav; Kaur, Apneet; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Publié dans:
2017
Éditeur:
ICT in Education, Research and Industrial Applications
Auteurs:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Siavoosh Payandeh Azad, Jaan Raik
Publié dans:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
Auteurs:
Tsotne Putkaradze, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan
Publié dans:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016161
Auteurs:
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
Publié dans:
2016 IEEE AUTOTESTCON, 2016, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-5090-0790-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2016.7589627
Auteurs:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
Publié dans:
2017 IEEE AUTOTESTCON, 2017, Page(s) 1-9, ISBN 978-1-5090-4922-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2017.8080516
Auteurs:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze
Publié dans:
2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, Page(s) 1-10, ISBN 978-1-5386-3413-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/TEST.2017.8242070
Auteurs:
Laura Humphrey, Bettina Könighofer, Robert Könighofer, Ufuk Topcu
Publié dans:
2017, Page(s) 134-151
Éditeur:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-49052-6_9
Auteurs:
Tino Flenker, Jan Malburg, Gorschwin Fey, Serhiy Avramenko, Massimo Violante, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017, Page(s) 533-538, ISBN 978-1-5090-6762-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ISVLSI.2017.99
Auteurs:
Roderick Bloem, Hannes Gross, Rinat Iusupov, Bettina Konighofer, Stefan Mangard, and Johannes Winter
Publié dans:
2018
Éditeur:
EUROCRYPT
Auteurs:
H. Ebrahimi and H.G. Kerkhoff
Publié dans:
2018
Éditeur:
DDECS
Auteurs:
G. Ali, J. Pathrose, Y. Zhao and H.G. Kerkhoff
Publié dans:
2018
Éditeur:
submitted to International Test Conference Asia (ITC-Asia)
Auteurs:
J.Pathrose, G.Ali, and H. G. Kerkhoff
Publié dans:
2018
Éditeur:
2018 19th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)
Auteurs:
Malburg, Jan and Riener, Heinz and Fey, Görschwin
Publié dans:
2018
Éditeur:
IEEE International Symposium on Multiple-Valued Logic
Auteurs:
Heinz Riener, Robert Könighofer, Görschwin Fey, and Roderick Bloem (DLR, TU Graz)
Publié dans:
Applied Verification for Continuous and Hybrid Systems, 2016
Éditeur:
ARCH'16
Auteurs:
A. Jutman, S. Devadze, K. Shibin (Testonica Lab)
Publié dans:
2016, Page(s) 1-6
Éditeur:
WRTLT’2016
Auteurs:
Ali, G. and Badawy, A. and Kerkhoff, H.G. (U.Twente)
Publié dans:
2016, Page(s) 776-779
Éditeur:
IEEE Circuits & Systems Society
Auteurs:
Zhao, Yong and Kerkhoff, H.G. (U.Twente)
Publié dans:
2016, Page(s) 10-14
Éditeur:
IEEE Computer Society
Auteurs:
Copetti, Thiago; Medeiros, Guilherme; Poehls, Leticia; Vargas, Fabian; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan (Tallinn UT)
Publié dans:
2016, Page(s) 75-80
Éditeur:
IEEE Computer Society Press
Auteurs:
Heinz Riener and Goerschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2016
Éditeur:
IVSW
Auteurs:
Roderick Bloem, Robert Konighofer, Ingo Pill, Franz Rock
Publié dans:
2016 Formal Methods in Computer-Aided Design (FMCAD), 2016, Page(s) 17-24, ISBN 978-0-9835678-6-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/FMCAD.2016.7886656
Auteurs:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Peeter Ellervee, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Publié dans:
2016
Éditeur:
ReCoSoC
Auteurs:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Jose Flich, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Publié dans:
2016 Tenth IEEE/ACM International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS), 2016, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-4673-9030-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/NOCS.2016.7579317
Auteurs:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Publié dans:
2016
Éditeur:
DREAMCloud
Auteurs:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5090-3561-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2016.7753579
Auteurs:
Andreina Zambrano, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW), 2016, Page(s) 1-5, ISBN 978-1-5090-2751-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IMS3TW.2016.7524234
Auteurs:
Niklas Krafczyk, Heinz Riener, Goerschwin Fey
Publié dans:
2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5090-3561-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2016.7753559
Auteurs:
Heinz Riener, Goerschwin Fey
Publié dans:
Proceedings of the 35th International Conference on Computer-Aided Design - ICCAD '16, 2016, Page(s) 1-8, ISBN 9781-450344661
Éditeur:
ACM Press
DOI:
10.1145/2966986.2967036
Auteurs:
Sandip Ray, Ian G. Harris, Goerschwin Fey, Mathias Soeken
Publié dans:
Proceedings of the 35th International Conference on Computer-Aided Design - ICCAD '16, 2016, Page(s) 1-6, ISBN 9781-450344661
Éditeur:
ACM Press
DOI:
10.1145/2966986.2980093
Auteurs:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2016 28th International Conference on Microelectronics (ICM), 2016, Page(s) 249-252, ISBN 978-1-5090-5721-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ICM.2016.7847862
Auteurs:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2016, Page(s) 97-102, ISBN 978-1-5090-3623-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/DFT.2016.7684077
Auteurs:
Ahmed Ibrahim, Hans G. Kerkhoff
Publié dans:
2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-4673-9659-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ETS.2016.7519301
Auteurs:
J. Alt, P. Bernardi, A. Bosio, R. Cantoro, H. Kerkhoff, A. Leininger, W. Molzer, A. Motta, C. Pacha, A. Pagani, A. Rohani, R. Strasser
Publié dans:
2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-4673-8454-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS.2016.7477278
Auteurs:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon Ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Konighofer, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Rock, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Publié dans:
2016 Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2016, Page(s) 1-8, ISBN 979-10-92279-17-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/FDL.2016.7880382
Auteurs:
Jan Malburg, Heinz Riener, Goerschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
DUHDe
Auteurs:
Heinz Riener and Goerschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
DUHDe
Auteurs:
Tino Flenker and Goerschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
DDECS
Auteurs:
Heinz Riener, Ruediger Ehlers, and Goerschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
MBMV
Auteurs:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Publié dans:
2017
Éditeur:
ISCAS
Auteurs:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Publié dans:
2017
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Nevin George, Adeboye Stephen Oyeniran, Tsotne Putkaradze, Apneet Kaur, Jaan Raik, Gert Jervan, Raimund Ubar, Thomas Hollstein (Tallinn UT)
Publié dans:
2017
Éditeur:
DDECS
Auteurs:
Heinz Riener, Rüdiger Ehlers, Görschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
ASP-DAC’17
Auteurs:
Jan Malburg, Tino Flenker, Görschwin Fey (DLR)
Publié dans:
2017
Éditeur:
ASP-DAC
DOI:
10.1109/ASPDAC.2017.7858327
Auteurs:
Rudiger Ehlers, Robert Konighofer, Roderick Bloem
Publié dans:
2015 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), 2015, Page(s) 3478-3485, ISBN 978-1-4799-9994-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IROS.2015.7353862
Auteurs:
Jaan Raik
Publié dans:
2015 International Conference on High Performance Computing & Simulation (HPCS), 2015, Page(s) 561-562, ISBN 978-1-4673-7813-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/HPCSim.2015.7237092
Auteurs:
K. Shibin, S. Devadze, A. Jutman
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Niels Thole, Lorena Anghel, and Goerschwin Fey
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Heinz Riener, Robert Könighofer, Görschwin Fey, and Roderick Bloem
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
A. Zambrano
Publié dans:
2016
Éditeur:
IOLTS
Auteurs:
Tino Flenker and Goerschwin Fey
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
G. Ali , A. Badewy and H.G. Kerkhoff
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Ranganathan Hariharan, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Publié dans:
2015 Euromicro Conference on Digital System Design, 2015, Page(s) 288-292, ISBN 978-1-4673-8035-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/DSD.2015.15
Auteurs:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Ranganathan Hariharan, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Publié dans:
2015 10th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2015, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-4673-7942-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2015.7238079
Auteurs:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
Publié dans:
Proceedings of the 9th International Symposium on Networks-on-Chip - NOCS '15, 2015, Page(s) 1-8, ISBN 9781-450333962
Éditeur:
ACM Press
DOI:
10.1145/2786572.2788713
Auteurs:
Karputkin, Anton; Raik, Jaan
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Artjom Jasnetski, Jaan Raik, Anton Tsertov, Raimund Ubar
Publié dans:
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2015, Page(s) 251-254, ISBN 978-1-4799-6780-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2015.56
Auteurs:
Jenihhin, Maksim; Squillero, Giovanni; Copetti, Thiago Santos; Tihhomirov, Valentin; Kostin, Sergei; Gaudesi, Marco; Vargas, Fabian; Raik, Jaan; Sonza Reorda, Matteo; Bolzani Poehls, Leticia; Ubar, Raimund; Medeiros, Guilherme Cardoso
Publié dans:
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (JETTA), 2016
Éditeur:
SPRINGER
Auteurs:
Patrick Klampfl, Robert Könighofer, Roderick Bloem, Ayrat Khalimov, Aiman Abu-Yonis, Shiri Moran
Publié dans:
2017
Éditeur:
CoRR abs/1712.04291
Auteurs:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon D. ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Könighofer, Shlomit Koyfman, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Röck, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Publié dans:
2018, Page(s) 15-38
Éditeur:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-62920-9_2
Auteurs:
G. Ali, H. Ebrahimi, J. Pathrose and H.G. Kerkhoff
Publié dans:
2018
Éditeur:
submitted to Industrial Cyber-Physical Systems (ICPS)
Auteurs:
Ofenloch, Annika and Greif, Fabian
Publié dans:
Journal of Communications, 2018
Éditeur:
Journal of Communications
Auteurs:
A. Jutman, K. Shibin, S. Devadze (Testonica Lab)
Publié dans:
2016, Page(s) 240-249
Éditeur:
AUTOTESTCON’2016
Auteurs:
Bernhard Aichernig, Roderick Bloem, Franz Pernkopf, Franz Röck, Tobias Schrank and Martin Tappler (TU Graz)
Publié dans:
2016
Éditeur:
IEEE Symposium on Security and Privacy
Auteurs:
Bernhard K. Aichernig, Harald Brandl, Elisabeth Jöbstl, Willibald Krenn, Rupert Schlick, Stefan Tiran
Publié dans:
Software Testing, Verification and Reliability, Numéro 25/8, 2015, Page(s) 716-748, ISSN 0960-0833
Éditeur:
John Wiley & Sons Inc.
DOI:
10.1002/stvr.1522
Auteurs:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman, Martin Grabmann, Robin Pricken
Publié dans:
IEEE Design & Test, Numéro 34/6, 2017, Page(s) 27-35, ISSN 2168-2356
Éditeur:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2017.2750902
Auteurs:
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
Publié dans:
Journal of Electronic Testing, Numéro 32/3, 2016, Page(s) 273-289, ISSN 0923-8174
Éditeur:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5589-x
Auteurs:
Heinz Riener, Finn Haedicke, Stefan Frehse, Mathias Soeken, Daniel Große, Rolf Drechsler, Goerschwin Fey
Publié dans:
International Journal on Software Tools for Technology Transfer, 2016, ISSN 1433-2779
Éditeur:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s10009-016-0426-1
Auteurs:
Jan Malburg, Alexander Finder, Görschwin Fey (DLR)
Publié dans:
Journal of Microprocessors and Microsystems: Embedded Hardware Design (MICPRO), 2016, ISSN 0141-9331
Éditeur:
Elsevier BV
Auteurs:
Jinbo Wan, Hans Kerkhoff, Jaap Bisschop
Publié dans:
IEEE Transactions on Nanotechnology, 2016, Page(s) 1-1, ISSN 1536-125X
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TNANO.2015.2505092
Auteurs:
Vain,Jüri; Tsiopoulos, Leonidas; Kharchenko, Vyacheslav; Kaur, Apneet; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Nõmm Sven
Publié dans:
Green-IT Engineering: Social, Business and Industrial Applications (1−21), 2018
Éditeur:
Springer
Auteurs:
Roderick Bloem, Rüdiger Ehlers, Robert Könighofer
Publié dans:
Automated Technology for Verification and Analysis, 2015, Page(s) 394-410, ISBN 978-3-319-24953-7
Éditeur:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-24953-7_29
Auteurs:
Roderick Bloem, Daniel Hein, Franz Röck, Richard Schumi
Publié dans:
Tests and Proofs, 2015, Page(s) 58-75, ISBN 978-3-319-21215-9
Éditeur:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-21215-9_4
Droits de propriété intellectuelle
Numéro de demande/publication:
US
9483591
Date:
2015-11-27
Numéro de demande/publication:
US
9483591
Date:
2015-11-27
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