Development of a New Wavelength Scanning Interferometer for Embedded Metrology

Informations projet

EMInstr

N° de convention de subvention: 665589

DOI

10.3030/665589

Projet clôturé

Date de signature de la CE 11 Mars 2015

Date de début 1 Avril 2015

Date de fin 31 Mars 2016

Financé au titre de

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Coût total

€ 149 662,00

Contribution de l’UE

€ 149 662,00

Coordonné par

UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD
United Kingdom

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Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Publications

Conference proceedings (5)

In-situ defect detection systems for R2R flexible PV barrier films

Auteurs: Gao, Feng, Muhamedsalih, Hussam, Tang, Dawei, Elrawemi, Mohamed, Blunt, Liam, Jiang, Xiang, Edge, Steven, Bird, David and Hollis, Philip
Publié dans: International Conference on Optical Instrument and Technology, 2015
Éditeur: SPIE

A computerised data handling procedure for defect detection and analysis for large area substrates manufactured by roll-to-roll process

Auteurs: Muhamedsalih, H., Elrawemi, M., Blunt, L., Xiangqi, L. and Martin, H. (
Publié dans: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015
Éditeur: EUSPEN

Extending the vertical range of wavelength scanning interferometry

Auteurs: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Jiang, X., Leach, R. and O'Connor, D.
Publié dans: ASPE 2015 Summer Topical Meeting, 2015, ISBN 978-1-887706-68-1
Éditeur: American Society for Precision Engineering

An integrated opto-mechanical measurement system for in-process defect measurement on a roll-to-roll process

Auteurs: Muhamedsalih, H., Blunt, L., Martin, H., Hamersma, I., Elrawemi, M. and Feng, G.
Publié dans: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP, 2015, Page(s) 50-55, ISBN 978-0-9566790-5-5
Éditeur: EUSPEN

Vertical axis non-linearities in wavelength scanning interferometry

Auteurs: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Connor, D., Jiang, X. and Leach, R.
Publié dans: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015, Page(s) 31-39, ISBN 978-0-9566790-5-5
Éditeur: EUSPEN

Peer reviewed articles (2)

Phase and fringe order determination in wavelength scanning interferometry

Auteurs: Giuseppe Moschetti, Alistair Forbes, Richard K Leach, Xiang Jiang, Daniel O’Connor
Publié dans: Optics Express, Numéro 24/8, 2016, Page(s) 8997, ISSN 1094-4087
Éditeur: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OE.24.008997

Burg algorithm for enhancing measurement performance in wavelength scanning interferometry

Auteurs: Rebecca Woodcock, Hussam Muhamedsalih, Haydn Martin, Xiangqian Jiang
Publié dans: Surface Topography: Metrology and Properties, Numéro 4/2, 2016, Page(s) 024003, ISSN 2051-672X
Éditeur: IOP Publishing Ltd
DOI: 10.1088/2051-672X/4/2/024003

Droits de propriété intellectuelle

Other (1)

SURFACE CHARACTERISTIC DETERMINING APPARATUS

Numéro de demande/publication: WO 201082066
Date: 2010-01-15
Demandeur(s): UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD