Development of a New Wavelength Scanning Interferometer for Embedded Metrology

Informacje na temat projektu

EMInstr

Identyfikator umowy o grant: 665589

DOI 10.3030/665589

Projekt został zamknięty

Data podpisania przez KE 11 Marca 2015

Data rozpoczęcia 1 Kwietnia 2015

Data zakończenia 31 Marca 2016

Finansowanie w ramach

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Koszt całkowity € 149 662,00

Wkład UE € 149 662,00

Koordynowany przez

UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD
United Kingdom

Publikacje

Conference proceedings (5)

In-situ defect detection systems for R2R flexible PV barrier films

Autorzy: Gao, Feng, Muhamedsalih, Hussam, Tang, Dawei, Elrawemi, Mohamed, Blunt, Liam, Jiang, Xiang, Edge, Steven, Bird, David and Hollis, Philip
Opublikowane w: International Conference on Optical Instrument and Technology, 2015
Wydawca: SPIE

A computerised data handling procedure for defect detection and analysis for large area substrates manufactured by roll-to-roll process

Autorzy: Muhamedsalih, H., Elrawemi, M., Blunt, L., Xiangqi, L. and Martin, H. (
Opublikowane w: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015
Wydawca: EUSPEN

Extending the vertical range of wavelength scanning interferometry

Autorzy: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Jiang, X., Leach, R. and O'Connor, D.
Opublikowane w: ASPE 2015 Summer Topical Meeting, 2015, ISBN 978-1-887706-68-1
Wydawca: American Society for Precision Engineering

An integrated opto-mechanical measurement system for in-process defect measurement on a roll-to-roll process

Autorzy: Muhamedsalih, H., Blunt, L., Martin, H., Hamersma, I., Elrawemi, M. and Feng, G.
Opublikowane w: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP, 2015, Strona(/y) 50-55, ISBN 978-0-9566790-5-5
Wydawca: EUSPEN

Vertical axis non-linearities in wavelength scanning interferometry

Autorzy: Moschetti, G., Muhamedsalih, H., Connor, D., Jiang, X. and Leach, R.
Opublikowane w: Laser Metrology and Machine Performance XI, LAMDAMAP 2015, 2015, Strona(/y) 31-39, ISBN 978-0-9566790-5-5
Wydawca: EUSPEN

Peer reviewed articles (2)

Phase and fringe order determination in wavelength scanning interferometry

Autorzy: Giuseppe Moschetti, Alistair Forbes, Richard K Leach, Xiang Jiang, Daniel O’Connor
Opublikowane w: Optics Express, Numer 24/8, 2016, Strona(/y) 8997, ISSN 1094-4087
Wydawca: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OE.24.008997

Burg algorithm for enhancing measurement performance in wavelength scanning interferometry

Autorzy: Rebecca Woodcock, Hussam Muhamedsalih, Haydn Martin, Xiangqian Jiang
Opublikowane w: Surface Topography: Metrology and Properties, Numer 4/2, 2016, Strona(/y) 024003, ISSN 2051-672X
Wydawca: IOP Publishing Ltd
DOI: 10.1088/2051-672X/4/2/024003

Prawa własności intelektualnej

Other (1)

SURFACE CHARACTERISTIC DETERMINING APPARATUS

Numer wniosku/publikacji: WO 201082066
Data: 2010-01-15
Wnioskodawca/wnioskodawcy: UNIVERSITY OF HUDDERSFIELD