Power Semiconductor and Electronics Manufacturing 4.0

Multi-Loop Feedback Hierarchy Involving Human Workers in Manufacturing Processes

Auteurs: Heimo Gursch, David Cemernek, Roman Kern
Publié dans: 2017
Éditeur: Mensch und Computer Konferenz 2017

Black-box Identification of the Energy Efficiency Ratio of Water-cooled Chillers

Auteurs: Federica Acerbi; Giuseppe De Nicolao; Cristina De Luca; Josef Obiltschnig; Patrick Richter
Publié dans: 2017
Éditeur: Convegno Automatica.IT 2017 - SIDRA 2017

Continuous Flow Transport Scheduling for Conveyor-based AMHS in Wafer Fabs

Auteurs: Clemens Schwenke; Klaus Kabitzsch
Publié dans: 2017
Éditeur: Winter Simulation Conference 2017

Unified Frontend and Backend Industrie 4.0 Roadmap for Semiconductor Manufacturing

Auteurs: Bernd Waschneck; Lee W. F. Brian; Koh C. W. Benny; Christopher Rippler; Gottfried Schmid
Publié dans: CEUR - Workshop Proceedings - Proceedings of the Workshop Papers of i-Know 2017 co-located with International Conference on Knowledge Technologies and Data-Driven Business 2017 (i-Know 2017), Numéro Vol-2025, 2017
Éditeur: CEUR Workshop Proceedings

Decision Support for Operational Excellence in Manufacturing Systems

Auteurs: Andreas Felsberger, Bernhard Oberegger, Simon Reisinger, Gerald Reiner
Publié dans: CEUR - Workshop Proceedings - SamI40 – 2nd International Workshop on Science, Application and Methods in Industry 4.0, 2017
Éditeur: CEUR Workshop Proceedings

Markov Random Fields for Pattern Extraction in Analog Wafer Test Data

Auteurs: Stefan Schrunner; Olivia Bluder; Anja Zernig; Andre Kaestner; Roman Kern
Publié dans: 2017
Éditeur: IPTA 2017 - International Conference on Image Processing Theory, Tools & Applications

Eine Vorgehensweise zur Unterstützung der Einführung von Industrie 4.0 Technologien

Auteurs: Manfred Rosenberger, Alexander Stocker
Publié dans: 2017
Éditeur: Mensch und Computer Konferenz 2017

Understanding semiconductor produtcion with variational auto-encoders

Auteurs: Tiago Santos, Roman Kern
Publié dans: 2018
Éditeur: European Symposium on Artificial Neural Networks, Computational Intelligence and Machine Learning

Framework for a Closed Control Loop Between Supply Chain Segments and Production Line

Auteurs: Dennis Bauer, Florian Maier, Bernd Waschneck
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

The granularity of the automated-generated long-term simulation model

Auteurs: Igor Stogniy, Wolfgang Scholl
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

A Web-based Virtualization Toolbox for the Integrated Visualization of Data within Semiconductor Fabs

Auteurs: Thomas Wagner, Germar Schneider, Klaus Kabitzsch
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Fab Simulation and Virtualization - The Key to Enhance the Fab Performance within the Semiconductor Industry

Auteurs: Germar Schneider, Thomas Wagner , Jens Naake, Sebastian Rank, Frank Schulze
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Statistical KPI Forecast in Semiconductor Manufacturing

Auteurs: Mike Gißrau, Lutz Muche
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

A Computationally Efficient 3D Mathematical Model of a Molybdenum Batch-Reheating Furnace

Auteurs: Florian Roetzer, Alexander Aschauer, Andreas Steinboeck, Andreas Kugi
Publié dans: 2018
Éditeur: 9th Vienna International Conference on Mathematical Modelling (Mathmod2018)

Product health assessment using patterns in semiconductor wafer test data

Auteurs: Anja Zernig, Olivia Bluder, Andre Kästner
Publié dans: Proceedings of the 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m), 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Pilot line for advance process control with self-learning cross-process root cause analysis

Auteurs: L. Custodio, Pedro Vasconcelos, Ricardo Gaio
Publié dans: Proceedings of the 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m), 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

APC of complex Bosch Process @ SPTS Rapier

Auteurs: Lutz Eichhorn, Klick Michael
Publié dans: Proceedings of the 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m), 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Optimal Wafer Dispatching based on Dynamic Programming

Auteurs: Alessio Mosca, Giuseppe De Nicolao, Germar Schneider, Torsten Niekisch, Davide Raimondo
Publié dans: Proceedings of the 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m), 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Unsupervised Wafermap Patterns Clustering via Variational Autoencoders

Auteurs: Peter Tulala, Hamidreza Mahyar, Elahe Ghalebi, Radu Grosu
Publié dans: AMSC Proceedings, 2018
Éditeur: AMSC

Opportunities and Challenges of Video and Video Comunication Technology in Smart Factories

Auteurs: Rene Kaiser
Publié dans: Proceedings uDAYXVI - Assistenztechnologien in der Arbeitswelt, 2018
Éditeur: uDAYXVI - Assistenztechnologien in der Arbeitswelt

How to measure the digital transformation along industrial value chains? Cases of the semiconductor industry

Auteurs: Andreas Felsberger, Gerald Reiner
Publié dans: 2018
Éditeur: 25th Annual EurOMA Conference

A comparison of Supervised Approaches for Process Pattern Recognition in Analog Semiconductor Wafer Test Data

Auteurs: Stefan Schrunner, Olivia Bluder, Andre Kästner, Roman Kern
Publié dans: 2018
Éditeur: 17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications 2018 (ICMLA)

Monitoring Industry 4.0 Applications for Security and Safety Standard Compliance

Auteurs: Anic Bicaku, Christoph Schmittner, Markus Tauber, Jerker Delsing
Publié dans: Proceedings ICPS2018 - 1st IEEE Interrnational Conference on Industrial Cyber-Physical Systems, 2018
Éditeur: ICPS2018 - 1st IEEE Interrnational Conference on Industrial Cyber-Physical Systems

Accuracy and robustness against covariate shift of water chiller models

Auteurs: Federica Acerbi; Giuseppe De Nicolao; Josef Obiltschnig; Patrick Richter; Cristina de Luca
Publié dans: 2018
Éditeur: 14th IEEE International Conference on Automation Science and Engineering

Application of IEC 62443 for IoT Components

Auteurs: Abdelkader Shaaban, Erwin Kristen, Christoph Schmittner (AIT)
Publié dans: 2018
Éditeur: "Safecomp 2018 - 37th Intrernation conference on computer safety, reliability & security - DECSoS 2018 - 13th International ERCIM/EWICS/ARTEMIS Workshop on ""Dependable Smart Embedded and Cyber-physical Systems and Systems-of-Systems""."

Machine Learning to Automate Network Segregation for Enhanced Secuirty in Industry 4.0

Auteurs: Firooz B. Saghezchi, Georgios Mantas , Alireza Esfahani, Hassan Alizadeh, Joaquim Bastos and Jonathan Rodriguez
Publié dans: 2018
Éditeur: The 9th International Conference on Broadband Communications, Newtorks and Systems - Broadnets 2018

Ein Industrie 4.0 Use Case in der Motorenproduktion

Auteurs: Darko Stanislavjevic, Manfred Rosenberger, Gernot Lechner, Stefan Körner, Roman Kern, Bernd Jeitler, Alexander Stocker
Publié dans: 2018
Éditeur: Mensch und Computer 2018 (MUC 2018)

Oppurtinities, Challenges and Use Cases of Digitization iwthin the Semiconductor Industry

Auteurs: Germar Schneider, Sophia Keil, Gerhard Luhn
Publié dans: Proceedings ASMC 2018, 2018
Éditeur: ASMC 2018

Queuing Network Modelling for improved Decision Support in Manufacturing Systems

Auteurs: Andreas Felsberger, Boualem Rabta and Gerald Reiner
Publié dans: Proceedings of the 20th International Working Seminar on Production Economics, 2018
Éditeur: 20th International Working Seminar on Production Economics

Digitalisierung zur Sicherstellung von Qualitätszielen in der Halbleiterindustrie

Auteurs: Germar Schneider
Publié dans: 2018
Éditeur: 10. Forum Technische Logistik

Towards Robust Visual Wafer Cleaning Anomaly Detection

Auteurs: Romana Boiger, Gerfried Millner, Manfred Mücke, Bernat Zaragoza Travieso
Publié dans: Proceedings of the 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m), 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Stochastic Optimal Power Flow in islanded grids with renewable penetration, energy storage systems and possible curtailments

Auteurs: Alessio Mosca, Davide. M. Raimondo
Publié dans: 2018
Éditeur: IEEE CCTA 2018 - 2nd IEEE Conference on Control Technolog and Applications

Enabling Security and Safety Evaluation in Industry 4.0 Use cases with Digital Twins

Auteurs: Markus Tauber, Christoph Schmittner
Publié dans: Special Numéro ERCIM News 115, 2018
Éditeur: ERCIM News 115

A new approach using characteristic video singals to improve the stability of manufacturing processes

Auteurs: Frederic Ringsleben, Maik Benndorf, Thomas Haenselmann, Romana Boiger, Manfred Muecke, Matthias Fehr, Dirk Motthes
Publié dans: 2018
Éditeur: Digital Image Computing: Techniques and Applications

Towards Applying the Virtual Director Concept to 360 Degree Video Content

Auteurs: Rene Kaiser
Publié dans: 2018
Éditeur: ACM International Conference on Interactive Experiences for Television and online video: TVX360 Workshop

Lead time prediction using machine learning algorithms: A case study by a semiconductor manufacturer

Auteurs: Lukas Lingitz, Viola Gallina, Fazel Ansari, David Gyulai (external), Andras Pfeiffer (external), Wilfried Sihn
Publié dans: Proceedings of the 51st CIRP Conference on Manufacturing Systems (CIRP CMS 2018), 2018
Éditeur: 51st CIRP Conference on Manufacturing Systems (CIRP CMS 2018)

Optimization of global production scheduling with deep reinforcement learning

Auteurs: Bernd Waschneck, Andre Reichstaller, Lenz Belzner, Thomas Altenmüller, Thomas Bauernhansl, Alexander Knapp, Andreas Kyek
Publié dans: 2018
Éditeur: The 51st CIRP Conference on Manufacutring Systems

Deep Reinforcement Learning for Semiconductor Production Scheduling

Auteurs: Bernd Waschneck, Andre Reichstaller, Lenz Belzner, Thomas Altenmüller, Thomas Bauernhansl, Alexander Knapp, Andreas Kyek
Publié dans: 2018
Éditeur: ASMC 2018 SemI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference

Case Study on Operator Compliance to Scheduling Decisions in Semiconductor Manufacturing

Auteurs: Bernd Waschneck, Thomas Altenmüller, Thomas Bauernhansl, Andreas Kyek
Publié dans: 2018
Éditeur: 14th IEEE International Conference on Automation Science and Engineering

An experimental proof of the substitute route issues for automated long-term simulation model for semiconductor industry

Auteurs: Igor Stogniy, Wolfgang Scholl
Publié dans: 2018
Éditeur: Winter Simulation Conference 2018

Identification of the Gordon-Ng Chiller Model: Linear to Nonlinear Least Squares?

Auteurs: Federica Acerbi, Giuseppe De Nicolao
Publié dans: 2018
Éditeur: ETFA 2018 - IEEE 23rd International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation

SemI40 - Simulationsmodelle in der Halbleiterindustrie: Modellierung so detailliert wie nötig und so einfach wie möglich

Auteurs: Sebastian Rank
Publié dans: 2018
Éditeur: 10. Forum Technische Logistik

An analysis of improvement potentials and impacts of digitalization on manufacturing performance

Auteurs: Andreas Felsberger, Christian Wankmüller, Bernhard Oberegger, Gernot Lechner, Gerald Reiner
Publié dans: 2019
Éditeur: EUROMA 2019 Conference

Collaborating in a Research and Development Project: Knowledge Protection Practices applied in a Co-opetitive Setting

Auteurs: Rene Kaiser, Stefan Thalmann, Viktoria Pammer-Schindler, Angela Fessl
Publié dans: 2019
Éditeur: 10th Conference Professional Knowledge Management, Data-Driven Knowledge Management workshop

Knowledge Protection Practices in a Data-Centric Collaborative Research and Innovation Project

Auteurs: Rene Kaiser
Publié dans: 2019
Éditeur: WM 2019

Self-Adaptation Applied to MQTT via GAMF

Auteurs: Silia Maksuti, Oliver Schluga, Giuseppe Settanni, Markus Tauber, Jerker Delsnig
Publié dans: 2019
Éditeur: IEEE International Conference on Industtrial Technology

Security Safety and Organizational Standard Compliance in CPS

Auteurs: Ani Bicaku, Christoph Schmittner, Patrick Rottmann, Markus Tauber, Jerker Delsnig
Publié dans: Numéro in Infocommunications Journal XI(I):2, 2019
Éditeur: Infocommunications Journal XI(I):2

Current state of digitalization in the European Electronic Components and Systems Industry: A multiple-case study analysis

Auteurs: Andreas Felsberger, Christian Wankmüller, Gerald Reiner, Alexander Stocker, Gernot Lechner, Marius Lütkemeyr, Alessandro Sala
Publié dans: 2019
Éditeur: Euroma2019 Conference

Safety & Security für M2M Kommunikation

Auteurs: Schmittner, Christoph; Schoitsch, Erwin
Publié dans: Numéro 1, 2016
Éditeur: Konferenz der Mechatronik-Plattform: Smart Factory
DOI: 10.5281/zenodo.183187

A Review of Decision Support Systems for Manufacturing Systems

Auteurs: Felsberger, Andreas; Oberegger, Bernhard; Reiner, Gerald
Publié dans: CEUR- Workshop Proceedings, Numéro Vol-1793, 2017
Éditeur: CEUR-WS.org
DOI: 10.5281/zenodo.495120

Auteurs: Stanisavljevic, Darko; Spitzer, Michael
Publié dans: CEUR-Workshop Proceedings, Numéro VOl-1793, 2017
Éditeur: CEUR-WS.org
DOI: 10.5281/zenodo.495135

A Literature Survey of Early Time Series Classification and Deep Learning

Auteurs: Santos, Tiago; Kern, Roman
Publié dans: CEUR-Worksop Proceedings, Numéro Vol-1793, 2017
Éditeur: CEUR-WS.org
DOI: 10.5281/zenodo.495150

Production Scheduling in Complex Job Shops from an Industrie 4.0 Perspective: A Review and Challenges in the Semiconductor Industry

Auteurs: Waschneck, Bernd; Bauernhansl, Thomas; Altenmüller, Thomas; Kyek, Andreas
Publié dans: CEUR Workshop Proceedings, Numéro Vol-1793, 2017
Éditeur: CEUR-WS.org
DOI: 10.5281/zenodo.495155

The impact of Industry 4.0 on Sustainable Supply & Value Chain Management: A meta analysis

Auteurs: Felsberger, A.; Reiner, G.
Publié dans: 2017
Éditeur: EurOMA2017

Security Viewpoint in a Reference Architecture Model For Cyber-Physical Production Systems

Auteurs: Ma, Z.; Hudic, A.; Shaaban, A.; Plosz, S.
Publié dans: 2017
Éditeur: EuroS&P 2017

Towards Trustworthy End-to-End Communication in Industry 4.0

Auteurs: Maksuti, S.; Bicaku, A.; Tauber, M.; Palkovits-Rauter, S.; Matischek, R.; Schmittner, C.; Mantas, G.; Thron, M.; Delsing; J.
Publié dans: 2017
Éditeur: INDIN2017

Secured Offline Authentication on Industrial Mobile Robots using Biometric Data

Auteurs: Haas, S.; Ulz, T.; Steger, C.; Matischek, R.
Publié dans: 2017
Éditeur: Robocup2017

A conceptual model for developing a smart process control system

Auteurs: Weihrauch, D.; Schindler, P. A.; Sihn, W.
Publié dans: 2017
Éditeur: Elsevier B. V./CIRP Proceedings

An Efficient Algorithm for Scheduling a Flexible Job Ship with Blocking and No-Wait Constraints

Auteurs: Aschauer, A.; Roetzer, F.; Steinboeck, A.; Kugi, A.
Publié dans: 2017
Éditeur: IFAC2017

Nonlinear Characterization of Activity Dynamics in Online Collaboration Websites

Auteurs: Santos, T.; Walk, S.; Helic, D.
Publié dans: 2017
Éditeur: WWW 2017

Concept and possible application of an automated framework to influence production dispatch based on supply chain events

Auteurs: Bauer, D.; Maier, F.; Bauernhansl, T.; Ponsignon, T.; Waschneck, B.; Oberegger, B.; Felsbeger, A.; Reiner, G.
Publié dans: 2017
Éditeur: IESM 2017

Black-box Identification for Efficient Chiller Management in a Semiconductor plant

Auteurs: Acerbi, F.; De Nicolao, G.; Raimondo, D.; Obiltschnig, J.; Richter, P.; De Luca, C.
Publié dans: 2017
Éditeur: APC/M

ENISA Based Evaluation of IaaS-Cloud Backend for Industry 4.0

Auteurs: Bauer, Elisabeth; Bicaku, Ani; Schluga, Oliver; Tauber, Markus; Maksuti, Silia
Publié dans: 2017
Éditeur: ACM AsiaCCS´17

Accessing Industrial Autonomous Robots: A Secured Authentication Approach

Auteurs: Haas, S.; Steger, C.; Matischek, R.
Publié dans: 2017
Éditeur: ICIT 2017

Towards Flexible ans Secure End-to-End Communication in Industry 4.0

Auteurs: Maksuti, S.; Bicaku, A.; Tauber, M.; Palkovits-Rauter, S.; Haas, S.; Delsing, J.
Publié dans: 2017
Éditeur: INDIN2017

Advanced Automation of Decision Making Process Flows of Manufacturing Support Processes in the High Tech Industry

Auteurs: Schneider, G.; Keil, S.; Lasch, R.
Publié dans: 2017
Éditeur: APC/M 2017

Towards Robust Visual Wafer Cleaning Anomaly Detection

Auteurs: Romana Boiger, Thomas Haenselmann, Manfred Mücke, Frederic Ringsleben
Publié dans: 2017
Éditeur: iKNOW 2017

Power Semiconductor and Electronics Manufacturing 4.0

Auteurs: Cristina De Luca
Publié dans: 2017
Éditeur: EFECS 2017

Applicability and robustness of ICA for semiconductor data

Auteurs: Anja Zernig
Publié dans: 2017
Éditeur: IKNOW 2017

SemI40 - Project Description - Success Stories

Auteurs: Cristina De Luca
Publié dans: 2017
Éditeur: ECSEL Austria - Success Stories 2017

Recent advancements in the automation of CVD reactors for the epitaxial deposition of SI and SIC: snyergy between modeling and experiments

Auteurs: Carlo Cavalloti, Danilo Crippa
Publié dans: 2017
Éditeur: ICG2017 - Italian Crystal Growth Conference: materials and methods in crystal growth

SAMI40 Workshop at i-KNOW 2017 - a Recap

Auteurs: Rene Kaiser, Roman Kern, Alexander Stocker
Publié dans: 2018
Éditeur: KNOW Center

SemI40 & Productive 4.0 Different but Complementary

Auteurs: Cristina De Luca
Publié dans: 2018
Éditeur: Productive 4.0 the Lighthouse Industry 4.0 & Interaction Session

A Web-based Virtualization Toolbox for the Integrated Visualization of Data within Semiconductor Fabs

Auteurs: Thomas Wagner, Germar Schneider, Klaus Kabitzsch
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Enabling Standard Compliance in Industry 4.0

Auteurs: Ani Bicaku
Publié dans: 2018
Éditeur: CPS Summer School 2018

User Day Systema - Status Infineon Technologies Dresden

Auteurs: Germar Schneider, Wolfgang Scholl
Publié dans: 2018
Éditeur: Infineon fab wide workshop at Systema

Towards Robust Visual Wafer Cleaning Anomaly Detection

Auteurs: Romana Boiger, Gerfried Millner, Manfred Mücke, Bernat Zaragoza Travieso
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

SAMI40 Workshop at i-KNOW 2017 - a Recap

Auteurs: Rene Kaiser, Roman Kern, Alexander Stocker
Publié dans: Numéro IKNOW2017, 2017
Éditeur: IKNOW2017

Fab Simulation and Virtualization - The Key to Enhance the Fab Performance within the Semiconductor Industry

Auteurs: Germar Schneider, Thomas Wagner, Jens Naake, Sebastian Rank, Frank Schulze
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Newsletter SemI40

Auteurs: all WP leaders
Publié dans: 2018
Éditeur: www.semi40.eu

Opportunities, Challenges and Use Cases of Digitization within the Semiconductor Industry

Auteurs: Germar Schneider, S. Keil, G Luhn
Publié dans: 2018
Éditeur: ASMC 2018 SemI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference

Framework for a Closed Control Loop Between Supply Chain Segments and Production Line

Auteurs: Dennis Bauer, Florian Maier, Bernd Waschneck
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Simulation-assisted decision making for supply chain disruptions in production control

Auteurs: Dennis Bauer, Andreas Schlereth, Florian Maier
Publié dans: 2018
Éditeur: Winter Simulation Conference 2018

Investigation of multi-run Independent Component Analysis on simulated semiconductor data

Auteurs: Anja Zernig
Publié dans: 2018
Éditeur: ENBIS-18: 18th Annual Conference of the European Network for Business and Industrial Statistics

Inter-Device Sensor-Fusion for Action Authorization on Industrial Mobile Robots

Auteurs: Sarah Haas, Anrea Höller, Thomas ULZ, Christian Steger
Publié dans: 2018
Éditeur: 37th International Conference on Computer Safety, Reliability & Security (Safecomp2018)

On-Line Screening of a Chemical-Machine Wafer Cleaning Process Based on Ordinal Measure

Auteurs: Bernat Zaragoza Travieso, Christoph Gaisberger, Manfred Mücke, Matthias Fehr
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

SemI40 Project Poster

Auteurs: Cristina De Luca
Publié dans: 2018
Éditeur: EFECS 2018

Machine Learning to Automate Network Segregation for Enhanced Secuirty in Industry 4.0

Auteurs: Firooz B. Saghezchi, Georgios Mantas, Alireza Esfahani, Hassan Alizadeh, Joaquim Bastos, Jonathan Rodriguez
Publié dans: 2018
Éditeur: The 9th International Conference on Broadband Communications, Newtorks and Systems - Broadnets 2018

Estimating wafer chuck angular velocity from video data

Auteurs: Romana Boiger, Matthias Fehr, Gerfried Millner, Manfred Mücke
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Product health assessment using patterns in semiconductor wafer test data

Auteurs: Anja Zernig
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Data Science along the semiconductor frontend production

Auteurs: Anja Zernig, Stefan Schrunner, Martin Pleschberger
Publié dans: 2018
Éditeur: Statistische Woche 2018

Digitalization to Assure Quality Targets within the Semiconductor Industry

Auteurs: Germar Schneider
Publié dans: 2018
Éditeur: 10. Forum Technische Logistik

Cybersecurity Attacks in Semiconductor Supply Chain Environment

Auteurs: Alireza Esfahani, Georgios Mantas, Firooz B. Saghezchi, Joaquim Bastos, Jonathan Rodriguez
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

The granularity of the automated-generated long-term simulation model

Auteurs: Igor Stogniy, Wolfgang Scholl
Publié dans: 2018
Éditeur: 18th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc/m)

Security Compliance Verification in Cyber Physical Systems

Auteurs: Ani Bicaku
Publié dans: 2018
Éditeur: European Cybersecurity month

Continuous Security Compliance Verification in Industry 4.0

Auteurs: Markus Tauber
Publié dans: 2018
Éditeur: Workshop Cybersecurity for Manufacturing Environments

Bestimmung von Objektparametern aus industriellen Bildern mit neuronalen Netzwerken

Auteurs: Frederic Ringsleben, Maik Benndorf, Thomas Haenselmann
Publié dans: 2018
Éditeur: NWK2018 - Nachwuchswissenschaftlerkonferenz

Secured Action Authorization for Industrial Mobile Robots

Auteurs: Sarah Haas, Thoams ULZ, Christian Steger
Publié dans: 2018
Éditeur: 1st IEEE International Conference on Industrial Cyber-Physical Systems (ICPS2018)

Transfer of Run-to-Run-Control to Production Control Level in Semiconductor Front-End

Auteurs: Dennis Bauer, Florian Maier, Andreas Schlereth
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Job-shop scheduling with optimal inclusion of work-free night shifts

Auteurs: Alexander Aschauer, Florian Rötzer, Andreas Steinboeck, Andreas Kugi, Michael Eidenberger-Schober, Gernot Reichl
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Physics and chemistry behind plasma chamber conditioning for predictive maintenance

Auteurs: Michael Klick, Dirk Suchland, Lutz Eichhorn
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

An impact evaluation approach for smart factory cases

Auteurs: Andreas Felsberger, Gerald Reiner, Marius Lütkemeyer, Alessandro Sala, Alexander Stocker, Gernot Lechner
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

On-the-fly camera software solution for automatic perspective recognition of structured surfaces

Auteurs: Frederic Ringsleben, Maik Benndorf, Thomas Haenselmann
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Evaluation of Visual Decision Support Systems used in Semiconductor Industry

Auteurs: Manuela Rauch, Alexander Gaal, Ilija Simic, Vedran Sabol
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

A Scalable Wafer Dispatching Strategy Based on Dynamic Programming

Auteurs: Alessio Mosca, Cristina De Luca, Davide Raimondo
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Application Study of Hardware-Based Security for Future Industrial IOT

Auteurs: Rainer Matischek and Benjamin Bara
Publié dans: 2019
Éditeur: Euromicro Conference on Digital System Design

Simulation-assisted decision making for supply chain disruptions in production control

Auteurs: Andreas Schlereth; Thomas Ponsignon, Axel Bruns, Dennis Bauer, Florian Maier
Publié dans: 2019
Éditeur: EURO2019 Conference

Machine Learning Techniques for Automated Wafer Assessment using Wafer Test Data

Auteurs: Anja Zernig, Stefan Schrunner, Martin Pleschberger, Michael Scheiber, Anna Jenul, Andre Kästner
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Impact of Test Wafers in the Transportation System of a Semiconductor Factory

Auteurs: David Wittwer, Sebastian Rank, Thorsten Schmidt
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Continuous Standard Compliance Verification in SemI40

Auteurs: Ani Bicaku, Markus Tauber, Christoph Schmittner
Publié dans: 2018
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Die große Wirkung der kleinsten Teile

Auteurs: Manfred Mücke
Publié dans: 2019
Éditeur: Kurier 2019

Detection of adhesive film residues during wafer demounting

Auteurs: Robert Muhr, Wolfgang Gratzer, Matthias Fehr, Germar Schneider
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

An experimental proof of the substitute route issues for automated long-term simulation model for semiconductor industry

Auteurs: Igor Stogniy, Wolfgang Scholl
Publié dans: 2019
Éditeur: Winter Simulation Conference 2019

An Investigation of Statistical Measures for Intensity Comparison of Process Patterns in Analog Wafer Test Data

Auteurs: Anna Jenul, Stefan Schrunner, Anja Zernig, Andre Kaestner, Jürgen Pilz
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Application of the CPPS meta-model for implementation of Industrie 4.0 Administration Shells

Auteurs: Mario Thron, Thomas Bangemann, Silia Maksuti, Ani Bicaku, Markus Tauber
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Robustness against Covariate Shift of Water Chiller Models for Optimal Energy Management in a SM plant

Auteurs: Federica Acerbi, Giuseppe De Nicolao, Josef Obiltschnig, Patrick Richter, Cristina De Luca
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

The impact of digital technologies on manufacturing performance: A simulation modelling approach

Auteurs: Andreas Felsberger, Bernhard Oberegger, Christian Wankmüller, Gernot Lechner, Gerald Reiner
Publié dans: 2019
Éditeur: EURO 2019 Conference

Networking the APC-Systems into a Fab Software Landscape

Auteurs: Andreas Feustel, Mike Schneider
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Systemdynamik-Ansätze zur Optimierung der PPS

Auteurs: Dennis Bauer, Andreas Schlereth, Thomas Bauernhansl
Publié dans: 2019
Éditeur: wt Werkstattstechnik online Ausgabe 4/2019

Machine Learning for Network-based Intrusion Detection in Industry 4.0

Auteurs: Firooz B. Saghezchi, Georgios Mantas, Alireza Esfahani, Joaquim Bastos, Jonatahn Rodriguez
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Interactive Stack Wafer Map with Feature Selection Capabilities

Auteurs: Marcel Kunick, Peter Czerner
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Photoresist Dispense Detection

Auteurs: Yvonne Bergmann, Alexander Grosser
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

An Information-Theoretic Measure for Pattern Similarity in Analog Wafermaps

Auteurs: Bernhard Geiger, Stefan Schrunner, Roman Kern
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

Continous Security Compliance Verfication in Industry 4.0

Auteurs: Markus Tauber, Ani Bicaku
Publié dans: 2019
Éditeur: Artemis Technology Conference 2019

Dimension Reduction using Feature Selection for Root Cause Analysis

Auteurs: Peter Czerner, Christian Weber
Publié dans: 2019
Éditeur: APCM Europe Conference 2019

SemI40 & Productive4.0 ECSEL JU Projects (2016-2020)

Auteurs: De Luca, C.; Hufeld K.
Publié dans: 2017
Éditeur: DeCPS

Qualitätsüberwachung und Machinen_Diagnose mittels Big Data Analyse

Auteurs: Schmeja, M.; von Falck, G.; Jeitler, B.
Publié dans: 2016
Éditeur: "Fachkongress ""Industrial Analytics & Big Data in der Automobilindustrie"

Image based wafer defect analysis

Auteurs: Ringsleben, F.; Haenselmann, T.
Publié dans: 2017
Éditeur: Hochschule Mittweida

Industrial IoT Security: A Survey

Auteurs: Haas, S.; Ulz, T.; Matischek, R.; Steger, C.
Publié dans: 2017
Éditeur: ACM AsiaCSS´17

Implementing Self-Adaptability for Industry 4.0 Environments in Private Clouds

Auteurs: Oliver Schluga
Publié dans: 2017
Éditeur: FH Burgenland

Test Pattern Extraction for Semiconductor Wafer Test Data

Auteurs: Vedo Alagic
Publié dans: University library Klagenfurt, 2017
Éditeur: KAI Austria, University of Klagenfurt

Towards a Security Framework for the Semiconductor Supply Chain Environment

Auteurs: Mariana Alexandra de Barcelos
Publié dans: Library Instituto de Telecomunicaos, Universidad Aveiro, 2017
Éditeur: Instituto de Telecomunicaos, Universidad Aveiro

Monitoring and Standards Compliant Measurements in Industry 4.0

Auteurs: Patrick Rottmann
Publié dans: 2018
Éditeur: Fachhochschule Burgenland

Aufbau eines Modells zur ereignisgetriebenen Produktionssteuerung

Auteurs: Andreas Schlereth
Publié dans: 2018
Éditeur: Karlsruher Institut für Technologie - IFL

Statistische Prozesskontrolle als Entscheidungshilfe und Kontrollmethode für die Produktionsprogrammplanung in der Halbleiterindustrie

Auteurs: Andreas Lausegger (UNI-KLU)
Publié dans: 2018
Éditeur: Universität Klagenfurt

Intensity Quanitification of Process Patterns in Wafer Test Data

Auteurs: Anna Jenul (Student), Jürgen Pilz (Supervisor UNI-KLU)
Publié dans: 2019
Éditeur: Master Thesis at University of Klagenfurt

Design and Implementation of IIoT Demonstrators using Hardware Security Extensions

Auteurs: Benjamin Bara
Publié dans: 2019
Éditeur: Master Thesis TU GRAZ

Evaluation of open source monitoring tools in the cloud and IoT with focus on authentication and security incidents

Auteurs: Michael Reinl - FH Burgerland
Publié dans: 2017
Éditeur: FH Burgerland

An Efficient Web Authentication Mechanism Preventing Man-In-The-Middle Attacks in Industry 4.0 Supply Chain

Auteurs: Alireza Esfahani, Georgios Mantas, Jose Ribeiro, Joaquim Bastos, Shahid Mumtaz, Manuel A. Violas, A. Manuel De Oliveira Duarte, Jonathan Rodriguez
Publié dans: IEEE Access, Numéro 7, 2019, Page(s) 58981-58989, ISSN 2169-3536
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI: 10.1109/access.2019.2914454

Feature Extraction From Analog Wafermaps: A Comparison of Classical Image Processing and a Deep Generative Model

Auteurs: Tiago Santos, Stefan Schrunner, Bernhard C. Geiger, Olivia Pfeiler, Anja Zernig, Andre Kaestner, Roman Kern
Publié dans: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Numéro 32/2, 2019, Page(s) 190-198, ISSN 0894-6507
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/tsm.2019.2911061

Cycle Time Prediction with Machine Learning in the Wafer Production

Auteurs: Lukas Lingitz, Vciola Gallin, Pedro Vasconceles
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Generic on-line video anomaly detection for cmp wafer cleaning

Auteurs: Bernat Zaragoza Travieso, Manfred Mücke, Matthias Fehr
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Key elements of productivity enhancement in semiconductor manufacturing usig digitalization and fab simulation

Auteurs: Germar Schneider, Thomas Wagner, Sebastian Rank, Frank Schulze
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Video-Supported real-time analysis of products and manufacturing processes

Auteurs: Frederic Ringsleben and Thomas Haenselmann
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Continuous Compliance in Cyber Physical Systems

Auteurs: Ani Bicaku, Markus Tauber, Christoph Schmittner
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

MES Challenges

Auteurs: Mario Cordeiro, Nuno Vitorino, Pedro Gama, Joao Cortez, Augusto Vilarinho
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

A Web-based Virtualization Toolbox for the Integrated Visualization of Data within Semiconductor Fabs

Auteurs: Thomas Wagner, Germar Schneider
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Automated-generated long term Simulation model in semiconductor manufacturing

Auteurs: Igor Stogniy, Wolfgang Scholl
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Automated Framework to Influence Production Dispatch Based on Supply Chain Events

Auteurs: Dennis Bauer, Andreas Schlereth, Florian Maier, Thomas Ponsignon, Bernd Waschneck
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

A Scalable Wafer Dispatching Strategy Based on Dynamic Programming

Auteurs: Alessio Mosca, Cristina De Luca, Davide Raimondo
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

You want to close the gap between exploding amounts of data, while enabling the rise of your globalized real time enterprise?

Auteurs: Gerhard Luhn, Johaness Postel, Lutz Muche, Philipp Kopp, Germar Schneider
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Machine Learning and Automated Decision Making

Auteurs: Anja Zernig, Ashwini Pandeshwar
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

"Tasks and Results of Work Package ""Swarm Intelligence"" "

Auteurs: Karli Hatzschmann, Germar Schneider
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Easy Sensor integration in industrial environments

Auteurs: Yvonne Bergmann, Florian Tripon
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Capturing Industry 4.0 Use Cases for interdisciplinary implementation teams

Auteurs: Manfred Rosenberger, Alexander Stocker
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Machine Learning algorithms for advanced process control in the semiconductor industry

Auteurs: Felix Kamhuber (FHA), Alessandro Chiancone (KNOW)
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Semiconductor Research Roadmap

Auteurs: Alessandro Sala, Marius Lütkemeyer, Andreas Felsberger
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Impact of Test Wafers in the Transportation System of a Semiconductor Factory

Auteurs: David Wittwer, Sebastian Rank, Thorsten Schmidt
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

Identification of chiller models for HVAC Management: Classical VS Machine Learning Techniques

Auteurs: Federica Acerbi, Giuseppe De Nicolao
Publié dans: Article in SemI40 Book, 2019
Éditeur: SemI40 Book

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