Wave-Locked Loop for Frequency Synthesis (WLL)

Projektinformationen

Wave-Locked Loop

ID Finanzhilfevereinbarung: 746142

DOI

10.3030/746142

Das Projekt endete am 7 Juni 2019

EK-Unterschriftsdatum 27 Februar 2017

Startdatum 1 April 2017

Enddatum 31 März 2019

Finanziert unter

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Gesamtkosten

€ 175 866,00

EU-Beitrag

€ 175 866,00

Koordiniert durch

UNIVERSITY COLLEGE DUBLIN, NATIONAL UNIVERSITY OF IRELAND, DUBLIN
Ireland

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Veröffentlichungen

Conference proceedings (2)

A 30-GHz class-F23 oscillator in 28nm CMOS using harmonic extraction and achieving 120 kHz 1/f 3 corner

Autoren: Yizhe Hu, Teerachot Siriburanon, Robert Bogdan Staszewski
Veröffentlicht in: ESSCIRC 2017 - 43rd IEEE European Solid State Circuits Conference, 2017, Seite(n) 87-90, ISBN 978-1-5090-5025-3
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.1109/esscirc.2017.8094532

A 15-μW, 103-fs step, 5-bit capacitor-DAC-based constant-slope digital-to-time converter in 28nm CMOS

Autoren: Peng Chen, Feifei Zhang, Zhirui Zong, Hao Zheng, Teerachot Siriburanon, Robert Bogdan Staszewski
Veröffentlicht in: 2017 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), 2017, Seite(n) 93-96, ISBN 978-1-5386-3178-2
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.1109/asscc.2017.8240224

Peer reviewed articles (2)

Intuitive Understanding of Flicker Noise Reduction via Narrowing of Conduction Angle in Voltage-Biased Oscillators

Autoren: Yizhe Hu, Teerachot Siriburanon, Robert Bogdan Staszewski
Veröffentlicht in: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2019, Seite(n) 1-1, ISSN 1549-7747
Herausgeber: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/tcsii.2019.2896483

A Low-Flicker-Noise 30-GHz Class-F 23 Oscillator in 28-nm CMOS Using Implicit Resonance and Explicit Common-Mode Return Path

Autoren: Yizhe Hu, Teerachot Siriburanon, Robert Bogdan Staszewski
Veröffentlicht in: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Ausgabe 53/7, 2018, Seite(n) 1977-1987, ISSN 0018-9200
Herausgeber: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/jssc.2018.2818681