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D634 SEMICON Europa 2021 Dissemination Factsheets
D6.3.5: ENBIS 2021 data management / machine learning Workshop Dissemination FactsheetD635 ENBIS 2021 data management machine learning Workshop Dissemination Factsheet
D6.3.3: SEMI Technology Unites Global Summit Dissemination FactsheetsSEMICON Europa 2019 Dissemination Factsheets - 1
D6.3.6: SEMI Technology Unites Global Summit Dissemination Factsheets
D636 SEMI Technology Unites Global Summit Dissemination Factsheets
Publicaciones
Autores:
Antonino La Magna
Publicado en:
EMRS (European Material Research Society) Fall, 2022 September 19-23, 2022
Editor:
Elsevier
Autores:
Antonino La Magna (CNR), Umberto Amato (CNR), Daniele Pagano (ST-I), Patrizia Vasquez (ST-I), Anastasiia Doinychko (MENTOR), Andrea Calimera (POLITO), Alex Rosenbaum (MELLANOX), Marius Enachescu (UPB), Ioannis Deretzis (CNR)
Publicado en:
"ISBIS CONFERENCE 2022 on ""Statistics and Data Science in Business and Industry""", 2022, Página(s) 37, ISBN 979-12-210-1389-4
Editor:
ISBIS
Autores:
Paolo Badalà, Emanuele Smecca, Simone Rascunà, Corrado Bongiorno, Egidio Carria, Anna Bassi, Gabriele Bellocchi, Cristina Tringali, Antonino La Magna and Alessandra Alberti
Publicado en:
13th European Conference on Silicon Carbide and Related materials ECSCRM 2021, 2021
Editor:
ECSCRM
Autores:
Claudia G. Fatuzzo, Philipp Hönicke, Claudia Caliri, Roberta Ricciari, Daniele Pagano, Andreas G. Karydas, Francesco Paolo Romano
Publicado en:
EXRS2022 European Conference on X-ray Spectrometry 2022, 2022
Editor:
EXRS2022
Autores:
Bekman, H.H.P.T.
Westland, Y.
Elstgeest, T.H.
Mechielsen, T.W.
Haye, M.J.
Emmelkamp, J.
Molkenboer, F.T.
Koster, N.B.
Lensen, H.A.
Publicado en:
2022
Editor:
IVC-22, 22nd International Vacuum Congress (https://ivc22.org/)
Autores:
Anastasiia Doinychko, Andres Torres, Ivan Kissiov, Melody Tao, Sanghyun Choi (Mentor - S-EDA)
Publicado en:
"ISBIS CONFERENCE 2022 on ""Statistics and Data Science in Business and Industry""", 2022, Página(s) PAg.34, ISBN 979-12-210-1389-4
Editor:
ISBIS
Autores:
Daniele Pagano (ST-I)
Publicado en:
Webinar: Next Generation Inspection and Metrology Solutions, 2022
Editor:
SEMI
Autores:
C. Girou, F. Bergeret, D. Pagano, P. Vasquez, G. Prinzivalli, G. Tochino
Publicado en:
20th European Advanced Process Control and Manufacturing Conference (apc|m), 2022
Editor:
APCM - Silicon Saxony
Autores:
P. Badalà (ST-I), I. Deretzis (CNR), S. Sanzaro (CNR), C. Bongiorno (CNR), G. Fisicaro (CNR), S. Rascunà (ST-I), G. Bellocchi (ST-I), A. Bassi (ST-I), M. Boscaglia (ST-I), D. Pagano (ST-I), P. Vasquez (ST-I), M. Enachescu (UPB), A. Alberti (CNR), A. La Magna (CNR)
Publicado en:
ICSCRM 2022 (International Conference on Silicon Carbide and Related Materials) 19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, 2022, Página(s) Pag.42
Editor:
ICSCRM
Autores:
M.Italia, I.Deretzis, S.Scalese, A.La Magna, M.Pirnaci, D.Pagano, D.Tenaglia, P.Vasquez
Publicado en:
13th European Conference on Silicon Carbide and Related materials ECSCRM 2021, 2021
Editor:
ECSCRM
Autores:
Aurélie Le Pennec, Jérôme Rêche, Patrick Quéméré, Guido Rademaker, Romain Jarnias, Charlotte Bouet, Célia Nicolet, Christophe Navarro, Maxime Argoud, Raluca Tiron
Publicado en:
2020
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2551854
Autores:
Claudia G. Fatuzzo, Philipp Hönicke, Claudia Caliri, Andreas Karydas and Francesco Paolo Romano
Publicado en:
107th National Congress - Italian Physical Society, 2021
Editor:
SIF
Autores:
Philip Tchatchoua, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Michel Juge
Publicado en:
IEEE 17th International Conference on Automation Science and Engineering (CASE), 2021
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/case49439.2021.9551541
Autores:
Dima el Jamal, Bouchra Ananou, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
Publicado en:
2022
Editor:
IFAC
DOI:
10.1016/j.ifacol.2022.07.156
Autores:
Jacques Noom, Oleg Soloviev, Carlas Smith, Michel Verhaegen
Publicado en:
Proc. SPIE 12102, Real-Time Image Processing and Deep Learning 2022, Edición 1210203 (27 May 2022), 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2618750
Autores:
G. J. Rademaker, A. Le Pennec, T. J. Giammaria, K. Benotmane, H. Pham, C. Bouet, M. G. Gusmao Cacho, M. Argoud, M.-L. Pourteau, A. Paquet, A. Gharbi, C. Navarro, C. Nicolet, X. Chevalier, K. Sakavuyi, P. Nealey, R. Tiro
Publicado en:
2020
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2552003
Autores:
Jacques Noom, Oleg Soloviev, Carlas Smith, Hieu Thao Nguyen, Michel Verhaegen
Publicado en:
Proc. SPIE 12019, AI and Optical Data Sciences III, Edición 120190F (2 March 2022), 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2605452
Autores:
Artem Khatchaturiants, Marta Mucientes, Arseniy Kalinin, Yan Guo, Seokhan Kim, Alain Moussa, Janusz Bogdanowicz, Joren Severi, Gian Lorusso, Danilo De Simone, Anne-Laure Charley, Philippe Leray, Maarten E. van Reijzen, Cornel Bozdog, Hamed M. Sadeghian
Publicado en:
Proceedings SPIE Volume PC12053, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVI; PC120530I (2022), 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2616089
Autores:
L. Penlap Woguia, J. Reche, M. Besacier, P. Gergaud, G. Rademaker
Publicado en:
2021
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2583590
Autores:
Claudia G. Fatuzzo, Philipp Hönicke, Claudia Caliri, Roberta Ricciari, Daniele Pagano, Andreas G. Karydas, Patrizia Vasquez, Francesco Paolo Romano
Publicado en:
6th PTB Seminar - VUV and EUV Metrology, 2021
Editor:
PTB
Autores:
Dima el Jamal, Bouchra Ananou, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
Publicado en:
2022
Editor:
IEEE
DOI:
10.23919/ecc55457.2022.9838058
Autores:
P. Digraci, M. Besacier, P. Gergaud, G. Rademaker, J. Reche
Publicado en:
2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2612798
Autores:
Noom, J., Thao, N.H., Soloviev, O., Verhaegen, M.
Publicado en:
Intelligent Systems Design and Applications. ISDA 2020. Advances in Intelligent Systems and Computing, vol 1351, 2021
Editor:
Springer
DOI:
10.1007/978-3-030-71187-0_60
Autores:
Dima el Jamal, Bouchra Ananou, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
Publicado en:
International Conference on Control, Automation and Diagnosis (ICCAD), 2021
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iccad52417.2021.9638776
Autores:
A. Doinychko, U. Amato, S. Raitsyn, S. Perna, F. Blundo, C. Genua, D. Vinciguerra, A. La Magna, A. Torres, A. Rosenbaum, M.-R. Amini, and P. Vasquez
Publicado en:
2021 IEEE 17th International Conference on Automation Science and Engineering, 2021
Editor:
IEEE
Autores:
M. Mucientes, A. Khachaturiants, R. Trussell, A. Kalinin, Y. Guo, E. C. Simons, S. Kim, O. Nadyarnykh, A. Moussa, J. Bogdanowicz, J. Severi, G. Lorusso, D. De Simone, A.-L. Charley, P. Leray, M. E. van Reijzen, C. Bozdog, H. Sadeghian
Publicado en:
Proceedings Volume 12325, Photomask Japan 2022: XXVIII Symposium on Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology; 123250M (2022), Edición XXVIII, 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2641698
Autores:
Geert H. van Kollenburg, Mike Holenderski, Patrizia Vasquez, Nirvana Meratnia
Publicado en:
ISM 2021 - International Conference on Industry 4.0 and Smart Manufacturing, 2022
Editor:
Procedia Computer Science - Elsevier
Autores:
Oleg Soloviev, Hieu Thao Nguyen, Jacques Noom, and Michel Verhaegen
Publicado en:
Proc. SPIE 12098, Dimensional Optical Metrology and Inspection for Practical Applications XI, Edición 120980G (31 May 2022), 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2618736
Autores:
Oleg Soloviev, Jacques Noom, Hieu Thao Nguyen, Gleb Vdovin, and Michel Verhaegen
Publicado en:
Proc. SPIE 11970, Quantitative Phase Imaging VIII, Edición 119700K (2 March 2022), 2022
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2609697
Autores:
J. Emmelkamp, F.T. Molkenboer, H.H.P.Th. Bekman, J. van den Brink, D.A. Wismeijer, N.B. Koster, D.J. Maas, O. Kievit, H.A. Lensen
Publicado en:
2020
Editor:
COMSOL AB
Autores:
Youssef Trardi, Bouchra Ananou, Philip Tchatchoua, Mustapha Ouladsine
Publicado en:
International Conference on Control, Automation and Diagnosis (ICCAD), 2022
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iccad55197.2022.9853995
Autores:
Wilfried Verachtert, Tom Ashby, Imen Chakroun, Roel Wuyts, Sayantan Das, Sandip Halder, Philippe Leray
Publicado en:
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV, 2021, Página(s) 42, ISBN 9781510640566
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2584893
Autores:
Philip Tchatchoua, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Julien Muller, Abraham Traore, Michel Juge
Publicado en:
International Conference on Control, Automation and Diagnosis (ICCAD), 2022
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iccad55197.2022.9853997
Autores:
Samia Mellah, Youssef Trardi, Guillaume Graton, Bouchra Ananou, El Mostafa El Adel, Mustapha Ouladsine
Publicado en:
2022
Editor:
IFAC
DOI:
10.1016/j.ifacol.2022.07.174
Autores:
Dima el Jamal, Mohamed Al-Kharaz, Bouchra Ananou, Guillaume Graton, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
Publicado en:
IEEE International Conference on Prognostics and Health Management (ICPHM), 2021
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/icphm51084.2021.9486507
Autores:
Nikolaev, K. V.; Soltwisch, V.; Hoenicke, P.; Scholze, F.; de la Rie, J.; Yakunin, S. N.; Makhotkin, I. A.; van de Kruijs, R. W. E.; Bijkerk, F.
Publicado en:
Journal of Synchrotron Radiation, Edición 27, 2020, Página(s) 386-395, ISSN 0909-0495
Editor:
Blackwell Publishing Inc.
DOI:
10.1107/s1600577519016345
Autores:
Nguyen Hieu Thao, Oleg Soloviev, Michel Verhaegen
Publicado en:
Advances in Computational Mathematics, Edición 47/3, 2021, ISSN 1019-7168
Editor:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10444-021-09861-y
Autores:
Shobha Jose, S. Thomas George, M. S. P. Subathra, Vikram Shenoy Handiru, Poornaselvan Kittu Jeevanandam, Umberto Amato, Easter Selvan Suviseshamuthu
Publicado en:
IEEE Open Journal of Engineering in Medicine and Biology, Edición 1, 2020, Página(s) 235-242, ISSN 2644-1276
Editor:
IEEE Access
DOI:
10.1109/ojemb.2020.3017130
Autores:
Maria Gabriela Gusmão Cachoa), Khatia Benotmane, Aurélie Le Pennec, Charlotte Bouet, Patricia Pimenta-Barros, Guido Rademaker, Maxime Argoud, Raluca Tiron, and Nicolas Possémé
Publicado en:
Journal of Vacuum Science and Technology A, 2021, ISSN 0734-2101
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1116/6.0000850
Autores:
Geert van Kollenburg (TU/e), Mike Holenderski (TU/e), Nirvana Meratnia (TU/e), Daniele Pagano (ST-I), Patrizia Vasquez (ST-I)
Publicado en:
Research Outreach, Edición 132, 2022, ISSN 2517-7028
Editor:
Research Outreach
Autores:
O.A. Soloviev
Publicado en:
Optics Communications, 2022, ISSN 0030-4018
Editor:
Elsevier BV
Autores:
S.P. Rosoiu, A.G. Pantazi, A. Petica, A. Cojocaru, S. Costovici, C. Zanella, T. Visan, L. Anicai and M. Enachescu
Publicado en:
Metals, Edición 20754701, 2020, Página(s) 1455, ISSN 2075-4701
Editor:
MDPI Publishing Services
DOI:
10.3390/met10111455
Autores:
Jacopo Frascaroli (1), Marta Tonini (1), Selene Colombo (1), Luisito Livellara (1), Luca Mariani (1), Paolo Targa (1), Roberto Fumagalli (1), Viktor Samu (2), Máté Nagy (2), Gábor Molnár (2), Áron Horváth (2), Zoltán Bartal (2), Zoltán Kiss (2),Tamás Sipőcz (2), Isabella Mica (1).
(1) STMicroelectronics, Agrate Brianza, Italy
(2) Semilab Semiconductor Physics Laboratory Company Ltd., B
Publicado en:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Edición Volume: 35, Edición: 3, August 2022, 2022, Página(s) 540 - 545, ISSN 0894-6507
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tsm.2022.3189847
Autores:
Salvatore Sanzaro, Corrado Bongiorno, Paolo Badalà, Anna Bassi, Giovanni Franco, Patrizia Vasquez, Alessandra Alberti, Antonino La Magna
Publicado en:
Applied Surface Science, Edición 539, 2021, Página(s) 148218, ISSN 0169-4332
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.apsusc.2020.148218
Autores:
Salvatore Sanzaro, Corrado Bongiorno, Paolo Badalà, Anna Bassi, Ioannis Deretzis, Marius Enachescu, Giovanni Franco, Giuseppe Fisicaro, Patrizia Vasquez, Alessandra Alberti, Antonino La Magna
Publicado en:
Materials, Edición 14/16, 2021, Página(s) 4769, ISSN 1996-1944
Editor:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma14164769
Autores:
Herman Bekman , Jurjen Emmelkamp, Youyou Westland, Dorus Elstgeest, Thomas Mechielsen, Michael Haye, Freek Molkenboer, Norbert Koster, Henk Lensen
Publicado en:
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2023, ISSN 1348-0391
Editor:
Surface Science Society of Japan
DOI:
10.1380/ejssnt.2023-059
Autores:
U. Amato (CNR), A. Antoniadis (CNR), D.Fazio (ST-I), C. Genua (ST-I), D. Granata (CNR), A. Lamagna (CNR), D. Pagano (ST-I), G. Tochino (ST-I), P. Vasquez (ST-I)
Publicado en:
Sensors, 2022, ISSN 1424-8220
Editor:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
Autores:
Umberto Amato, Anestis Antoniadis, Italia De Feis,Irène Gijbels
Publicado en:
Statistics and Computing, Edición Vol. 32, Edición 11, February 2022, 2022, ISSN 0960-3174
Editor:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s11222-021-10065-z
Autores:
J. Noom, C. Smith, G. J. Verbiest, A. J. Katan, O. Soloviev and M. Verhaegen
Publicado en:
IEEE Transactions on Nanotechnology, Edición vol. 22, 2023, Página(s) 273-279, ISSN 1941-0085
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/tnano.2023.3284654
Autores:
U. Amato (CNR), A. Antoniadis (CNR), A. Doinychko (Mentor), A. Lamagna (CNR), D. Pagano (ST-I), F. Piccinini (ST-I), E. Selvan (CNR), C. Severgnini (ST-I), A. Torres (Mentor), P. Vasquez (ST-I)
Publicado en:
ASMBI - Applied Stochastic Models in Business and Industry (formerly Applied Stochastic Models and Data Analysis), 2022, ISSN 1524-1904
Editor:
John Wiley & Sons Inc.
Autores:
C.C. Moise, L. Rachmani, G.V. Mihai, O.A. Lazar, M. Enachescu, N. Naveh
Publicado en:
Polymers, Edición 20734360, 2021, Página(s) 1138, ISSN 2073-4360
Editor:
MDPI Publishing Services
DOI:
10.3390/polym13071138
Autores:
A. Fernández Herrero, F. Scholze, G. Dai, V. Soltwisch
Publicado en:
Nanomanufacturing and Metrology, Edición 2520811X, 2022, Página(s) 149–158, ISSN 2520-811X
Editor:
Springer
DOI:
10.1007/s41871-022-00126-w
Autores:
Umberto Amato, Anestis Antoniadis, Italia De Feis
Publicado en:
Statistics Surveys, Edición 14/none, 2020, ISSN 1935-7516
Editor:
Institute of Mathematical Statistics
DOI:
10.1214/20-ss128
Autores:
Umberto Amato, Anestis Antoniadis, Italia De Feis, Irène Gijbels
Publicado en:
Computational Statistics, Edición Volume 36 Edición 4, December 2021, 2021, ISSN 0943-4062
Editor:
Physica-Verlag Gmbh und Co.
DOI:
10.1007/s00180-021-01174-4
Autores:
Easter S. Suviseshamuthu, Didier Allexandre, Umberto Amato, Biancamaria Della Vecchia, Guang H. Yu
Publicado en:
IEEE Access, Edición 8, 2020, Página(s) 105362-105375, ISSN 2169-3536
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.3000693
Autores:
Umberto Amato, Anestis Antoniadis, Italia De Feis, Irene Gijbels
Publicado en:
Statistical Methods & Applications, Edición 30/1, 2021, Página(s) 1-48, ISSN 1618-2510
Editor:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s10260-020-00511-z
Autores:
Maria Gabriela Gusmão Cacho, Khatia Benotmane, Patricia Pimenta-Barros, Charlotte Bouet, Guido Rademaker, Maxime Argoud, Christophe Navarro, Raluca Tiron, and Nicolas Possémé
Publicado en:
Journal of Vacuum Science & Technology B, 2021, ISSN 2166-2746
Editor:
AIP
DOI:
10.1116/6.0001102
Autores:
C.C. Moise, A. Pantazi, G.V. Mihai, A. Jderu, M. Bercu, A.A. Messina, M. Enachescu
Publicado en:
Coatings, Edición 20796412, 2021, Página(s) 1350, ISSN 2079-6412
Editor:
MDPI Publishing Services
DOI:
10.3390/coatings11111350
Autores:
Nguyen Hieu Thao, Oleg Soloviev, Russell Luke, Michel Verhaegen
Publicado en:
Inverse Problems, Edición 37, 125005, 2021, ISSN 0266-5611
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6420/ac3322
Autores:
P. Hönicke, Y. Kayser, K.V. Nikolaev, V. Soltwisch, J.E. Scheerder, C. Fleischmann, T. Siefke, A. Andrle, G. Gwalt, F. Siewert, J. Davis, M. Huth, A. Veloso, R. Loo, D. Skroblin, M. Steinert, A. Undisz, M. Rettenmayr, B. Beckhoff
Publicado en:
Small, Edición 16136810, 2021, Página(s) 2105776, ISSN 1613-6810
Editor:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/smll.202105776
Autores:
Hönicke, Philipp; Andrle, Anna; Kayser, Yves; Nikolaev, Konstantin V.; Probst, Jürgen; Scholze, Frank; Soltwisch, Victor; Weimann, Thomas; Beckhoff, Burkhard
Publicado en:
Nanotechnology, Edición 31, 2020, Página(s) 505709, ISSN 0957-4484
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6528/abb557
Autores:
A. Fernández Herrero, M. Pflüger, J. Puls, F. Scholze, V. Soltwisch
Publicado en:
Optics Express, Edición 10944087, 2021, Página(s) 35580-35591, ISSN 1094-4087
Editor:
Optical Society of America
DOI:
10.1364/oe.430416
Autores:
Anna Andrle; Philipp Hönicke; Grzegorz Gwalt; Philipp-Immanuel Schneider; Yves Kayser; Frank Siewert; Victor Soltwisch
Publicado en:
Nanomaterials, Edición 20794991, 2021, Página(s) 1647, ISSN 2079-4991
Editor:
MPDI
DOI:
10.48550/arxiv.2102.06600
Derechos de propiedad intelectual
Número de solicitud/publicación:
21
190120
Fecha:
2015-12-04
Solicitante(s):
ICOS VISION SYSTEMS NV
Número de solicitud/publicación:
15
865251
Fecha:
2015-12-04
Solicitante(s):
ICOS VISION SYSTEMS NV
Número de solicitud/publicación:
20
843595
Fecha:
2020-07-20
Solicitante(s):
ICOS VISION SYSTEMS NV
Número de solicitud/publicación:
20
21057485
Fecha:
2021-11-01
Solicitante(s):
ICOS VISION SYSTEMS NV
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