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Focused Ion Beam fabrication of superconducting scanning Probes

Projektbeschreibung

Aufstieg der Rasterkraftmikroskopie mit in den Tastspitzen integrierten, supraleitenden Sensoren

Im Jahr 1986 gewannen die Urheber der Rastertunnelmikroskopie den Nobelpreis für Physik für diese Technologie, die unsere Fähigkeit revolutionierte, Bilder mit einer subatomaren Auflösung zu erhalten. Sie erstellt Bilder, indem eine feine Spitze oder Sonde die Oberfläche eines Materials abtastet und dabei den quantenmechanischen Tunnelstrom misst. Eine erhebliche Beschränkung des Verfahrens ist, dass das untersuchte Material leitfähig sein muss. Die Rasterkraftelektronenmikroskopie löste dieses Problem. Bei diesem Ansatz wird statt eines Stroms eine „Kraft“ zwischen der Sondenspitze und der Oberfläche gemessen. Nun läutet das EU-finanzierte Projekt FIBsuperProbes eine neue Ära der Rasterkraftelektronenmikroskopie ein, indem es Sensorgeräte im Nanometermaßstab in die Spitzen integriert. Die Technologie wird es möglich machen, elektromagnetische Phänomene aufzuzeichnen, was zu einem besseren Verständnis des strukturbezogenen Verhaltens kondensierter Materie führen wird.

Ziel

Our vision is to enable a new era in scanning probe microscopy (SPM), in which nanometer-scale sensing devices – specifically superconducting devices – can be directly patterned on-tip and used to reveal new types of contrast. To realize this vision, we will use focused ion beam (FIB) techniques to produce sensors with unprecedented size, functionality, and sensitivity directly on the tips of custom-designed cantilevers. The key to this undertaking will be the unique capability of FIB to mill, grow, or structurally modify materials – especially superconductors – at the nanometer-scale and on non-planar surfaces. Our FIB-fabricated probes will include on-tip nanometer-scale Josephson junctions (JJs) and superconducting quantum interference devices (SQUIDs) for mapping magnetic fields, magnetic susceptibility, electric currents, and dissipation. Crucially, the custom-built cantilevers, on which the sensors will be patterned, will enable nanometer-scale distance control, endowing our probes with exquisite spatial resolution and simultaneous topographic contrast. The resulting imaging techniques will significantly surpass state-of-the-art SPM and help us to unravel poorly understood condensed matter phenomena, which are impossible to address with today’s technology.

Wissenschaftliches Gebiet (EuroSciVoc)

Schlüsselbegriffe

Programm/Programme

Thema/Themen

Finanzierungsplan

RIA - Research and Innovation action

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Aufforderung zur Vorschlagseinreichung

(öffnet in neuem Fenster) H2020-FETOPEN-2018-2020

Alle im Rahmen dieser Aufforderung zur Einreichung von Vorschlägen finanzierten Projekte anzeigen

Koordinator

UNIVERSITAT BASEL
Netto-EU-Beitrag
€ 921 661,25
Adresse
PETERSPLATZ 1
4051 Basel
Schweiz
Region
Schweiz/Suisse/Svizzera Nordwestschweiz Basel-Stadt
Aktivitätstyp
Higher or Secondary Education Establishments
Links
Gesamtkosten
€ 921 661,25

Beteiligte (4)