Pruebas de electrónica a bajo coste
La electrónica de alta temperatura se ha posicionado como una tecnología estratégica para muchos sectores industriales clave, como la extracción de gas y petróleo o la industria automovilística y la aviónica. Más en concreto, la tecnología de silicio sobre aislante (SOI), ha aportado las ventajas de los sistemas electrónicos ligeros y a prueba de fallos, que resultan fiables incluso a temperaturas de hasta 200ºC. Para asegurar su integridad y buen funcionamiento, el proyecto ATHIS desarrolló estrategias específicas a través de las cuales se probaron dispositivos electrónicos en condiciones de trabajo similares a las habituales del sector. La Universidad de Newcastle upon Tyne contribuyó de forma decisiva con una alternativa económica a los sistemas de «envejecimiento dinámico» disponibles en el mercado. Fue necesario disminuir la duración de las pruebas para poder reducir su coste de manera significativa. Asimismo, se utilizó una combinación de programas de pruebas de corriente y voltaje para asegurar que se contemplaban todos los fallos que pueden tener lugar en los sistemas electrónicos distribuidos integrados y miniaturizados. La arquitectura modular del programa de pruebas a alta temperatura propuesto por los socios del proyecto ATHIS permite su fácil configuración. Además de generar los estímulos térmicos necesarios para el circuito integrado a prueba, las respuestas se pueden almacenar, analizar y manipular de forma dinámica. Para ello, se prefirió utilizar un monitor ordinario externo por su rapidez de respuesta y bajo coste, así como por la flexibilidad que confiere a los procedimientos de la prueba. Las capacidades mejoradas del sistema de prueba se han evaluado con éxito en sistemas críticos para la seguridad y la eficacia que se incorporarán a la industria de la automoción en el futuro.
