Optical Near-field Electron Microscopy

Información del proyecto

ONEM

Identificador del acuerdo de subvención: 101017902

DOI

10.3030/101017902

Fecha de la firma de la CE 9 Diciembre 2020

Fecha de inicio 1 Enero 2021

Fecha de finalización 31 Diciembre 2025

Financiado con arreglo a

• EXCELLENT SCIENCE - Future and Emerging Technologies (FET)

Coste total

€ 3 659 147,50

Aportación de la UE

€ 3 659 147,50

Coordinado por

UNIVERSITAT WIEN
Austria

CORDIS proporciona enlaces a los documentos públicos y las publicaciones de los proyectos de los programas marco HORIZONTE.

Los enlaces a los documentos y las publicaciones de los proyectos del Séptimo Programa Marco, así como los enlaces a algunos tipos de resultados específicos, como conjuntos de datos y «software», se obtienen dinámicamente de OpenAIRE .

Resultado final

Open Research Data Pilot (1)

Data Management Plan

A DMP will be delivered as a separate document

Demonstrators, pilots, prototypes (2)

Electron camera

Installation and optimization of new electron camera

Liquid cell TEM

Demonstration of liquid cell TEM at UNIVIE

Documents, reports (2)

1st report on cross-project collaboration activities

Concrete report in collaboration with the designated partner project

Cross-project collaboration plan

This deliverable will be coordinated with a designated partner project and be updated with every reporting period

Websites, patent fillings, videos etc. (1)

Website online

A public web site for the project

Publicaciones

Peer reviewed articles (7)

Optical near-field electron microscopy

Autores: Raphaël Marchand; Radek Šachl; Martin Kalbáč; Martin Hof; Rudolf Tromp; Mariana Amaro; Sense J. van der Molen; Thomas Juffmann
Publicado en: Physical Review Applied, Edición 16, 2021, Página(s) 014008, ISSN 2331-7019
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevapplied.16.014008

A structural analysis of ordered Cs3Sb films grown on single crystal graphene and silicon carbide substrates

Autores: C. A. Pennington, M. Gaowei, E. M. Echeverria, K. Evans-Lutterodt, A. Galdi, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, P. Saha, J. Smedley, W. G. Stam, R. M. Tromp
Publicado en: APL Materials, Edición 13, 2025, ISSN 2166-532X
Editor: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0229850

Quantum limits of position and polarizability estimation in the optical near field

Autores: Lukas Kienesberger, Thomas Juffmann, Stefan Nimmrichter
Publicado en: Physical Review Research, Edición 6, 2024, ISSN 2643-1564
Editor: American Physical Society (APS)
DOI: 10.1103/physrevresearch.6.023204

Growth of ultra-flat ultra-thin alkali antimonide photocathode films

Autores: W. G. Stam, M. Gaowei, E. M. Echeverria, Kenneth Evans-Lutterodt, Jean Jordan-Sweet, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, C. Pennington, P. Saha, J. Smedley, R. M. Tromp
Publicado en: APL Materials, Edición 12, 2025, ISSN 2166-532X
Editor: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0213461

Interleaflet organization of membrane nanodomains: What can(not) be resolved by FRET?

Autores: Barbora Chmelová, David Davidović, Radek Šachl
Publicado en: Biophysical journal, 2022, ISSN 0006-3495
Editor: Biophysical Society
DOI: 10.1016/j.bpj.2022.11.014

Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)

Autores: Amin Moradi, Matthijs Rog, Guido Stam, R.M. Tromp, S.J. van der Molen, Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)
Publicado en: Ultramicroscopy, 2023, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113809

Unified Simulation Platform for Interference Microscopy

Autores: Felix Hitzelhammer, Anežka Dostálová, Ilia Zykov, Barbara Platzer, Clara Conrad-Billroth, Thomas Juffmann, Ulrich Hohenester
Publicado en: ACS Photonics, Edición 11, 2024, Página(s) 2745-2756, ISSN 2330-4022
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsphotonics.4c00621