Optical Near-field Electron Microscopy

Projektinformationen

ONEM

ID Finanzhilfevereinbarung: 101017902

DOI

10.3030/101017902

EK-Unterschriftsdatum 9 Dezember 2020

Startdatum 1 Januar 2021

Enddatum 31 Dezember 2025

Finanziert unter

• EXCELLENT SCIENCE - Future and Emerging Technologies (FET)

Gesamtkosten

€ 3 659 147,50

EU-Beitrag

€ 3 659 147,50

Koordiniert durch

UNIVERSITAT WIEN
Austria

CORDIS bietet Links zu öffentlichen Ergebnissen und Veröffentlichungen von HORIZONT-Projekten.

Links zu Ergebnissen und Veröffentlichungen von RP7-Projekten sowie Links zu einigen Typen spezifischer Ergebnisse wie Datensätzen und Software werden dynamisch von OpenAIRE abgerufen.

Leistungen

Open Research Data Pilot (1)

Data Management Plan

A DMP will be delivered as a separate document

Demonstrators, pilots, prototypes (2)

Electron camera

Installation and optimization of new electron camera

Liquid cell TEM

Demonstration of liquid cell TEM at UNIVIE

Documents, reports (2)

1st report on cross-project collaboration activities

Concrete report in collaboration with the designated partner project

Cross-project collaboration plan

This deliverable will be coordinated with a designated partner project and be updated with every reporting period

Websites, patent fillings, videos etc. (1)

Website online

A public web site for the project

Veröffentlichungen

Peer reviewed articles (7)

Optical near-field electron microscopy

Autoren: Raphaël Marchand; Radek Šachl; Martin Kalbáč; Martin Hof; Rudolf Tromp; Mariana Amaro; Sense J. van der Molen; Thomas Juffmann
Veröffentlicht in: Physical Review Applied, Ausgabe 16, 2021, Seite(n) 014008, ISSN 2331-7019
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevapplied.16.014008

A structural analysis of ordered Cs3Sb films grown on single crystal graphene and silicon carbide substrates

Autoren: C. A. Pennington, M. Gaowei, E. M. Echeverria, K. Evans-Lutterodt, A. Galdi, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, P. Saha, J. Smedley, W. G. Stam, R. M. Tromp
Veröffentlicht in: APL Materials, Ausgabe 13, 2025, ISSN 2166-532X
Herausgeber: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0229850

Quantum limits of position and polarizability estimation in the optical near field

Autoren: Lukas Kienesberger, Thomas Juffmann, Stefan Nimmrichter
Veröffentlicht in: Physical Review Research, Ausgabe 6, 2024, ISSN 2643-1564
Herausgeber: American Physical Society (APS)
DOI: 10.1103/physrevresearch.6.023204

Growth of ultra-flat ultra-thin alkali antimonide photocathode films

Autoren: W. G. Stam, M. Gaowei, E. M. Echeverria, Kenneth Evans-Lutterodt, Jean Jordan-Sweet, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, C. Pennington, P. Saha, J. Smedley, R. M. Tromp
Veröffentlicht in: APL Materials, Ausgabe 12, 2025, ISSN 2166-532X
Herausgeber: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0213461

Interleaflet organization of membrane nanodomains: What can(not) be resolved by FRET?

Autoren: Barbora Chmelová, David Davidović, Radek Šachl
Veröffentlicht in: Biophysical journal, 2022, ISSN 0006-3495
Herausgeber: Biophysical Society
DOI: 10.1016/j.bpj.2022.11.014

Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)

Autoren: Amin Moradi, Matthijs Rog, Guido Stam, R.M. Tromp, S.J. van der Molen, Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, 2023, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113809

Unified Simulation Platform for Interference Microscopy

Autoren: Felix Hitzelhammer, Anežka Dostálová, Ilia Zykov, Barbara Platzer, Clara Conrad-Billroth, Thomas Juffmann, Ulrich Hohenester
Veröffentlicht in: ACS Photonics, Ausgabe 11, 2024, Seite(n) 2745-2756, ISSN 2330-4022
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsphotonics.4c00621