Optical Near-field Electron Microscopy

Informations projet

ONEM

N° de convention de subvention: 101017902

DOI

10.3030/101017902

Date de signature de la CE 9 Decembre 2020

Date de début 1 Janvier 2021

Date de fin 31 Decembre 2025

Financé au titre de

• EXCELLENT SCIENCE - Future and Emerging Technologies (FET)

Coût total

€ 3 659 147,50

Contribution de l’UE

€ 3 659 147,50

Coordonné par

UNIVERSITAT WIEN
Austria

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Open Research Data Pilot (1)

Data Management Plan

A DMP will be delivered as a separate document

Demonstrators, pilots, prototypes (2)

Electron camera

Installation and optimization of new electron camera

Liquid cell TEM

Demonstration of liquid cell TEM at UNIVIE

Documents, reports (2)

1st report on cross-project collaboration activities

Concrete report in collaboration with the designated partner project

Cross-project collaboration plan

This deliverable will be coordinated with a designated partner project and be updated with every reporting period

Websites, patent fillings, videos etc. (1)

Website online

A public web site for the project

Publications

Peer reviewed articles (7)

Optical near-field electron microscopy

Auteurs: Raphaël Marchand; Radek Šachl; Martin Kalbáč; Martin Hof; Rudolf Tromp; Mariana Amaro; Sense J. van der Molen; Thomas Juffmann
Publié dans: Physical Review Applied, Numéro 16, 2021, Page(s) 014008, ISSN 2331-7019
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevapplied.16.014008

A structural analysis of ordered Cs3Sb films grown on single crystal graphene and silicon carbide substrates

Auteurs: C. A. Pennington, M. Gaowei, E. M. Echeverria, K. Evans-Lutterodt, A. Galdi, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, P. Saha, J. Smedley, W. G. Stam, R. M. Tromp
Publié dans: APL Materials, Numéro 13, 2025, ISSN 2166-532X
Éditeur: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0229850

Quantum limits of position and polarizability estimation in the optical near field

Auteurs: Lukas Kienesberger, Thomas Juffmann, Stefan Nimmrichter
Publié dans: Physical Review Research, Numéro 6, 2024, ISSN 2643-1564
Éditeur: American Physical Society (APS)
DOI: 10.1103/physrevresearch.6.023204

Growth of ultra-flat ultra-thin alkali antimonide photocathode films

Auteurs: W. G. Stam, M. Gaowei, E. M. Echeverria, Kenneth Evans-Lutterodt, Jean Jordan-Sweet, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, C. Pennington, P. Saha, J. Smedley, R. M. Tromp
Publié dans: APL Materials, Numéro 12, 2025, ISSN 2166-532X
Éditeur: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0213461

Interleaflet organization of membrane nanodomains: What can(not) be resolved by FRET?

Auteurs: Barbora Chmelová, David Davidović, Radek Šachl
Publié dans: Biophysical journal, 2022, ISSN 0006-3495
Éditeur: Biophysical Society
DOI: 10.1016/j.bpj.2022.11.014

Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)

Auteurs: Amin Moradi, Matthijs Rog, Guido Stam, R.M. Tromp, S.J. van der Molen, Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)
Publié dans: Ultramicroscopy, 2023, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113809

Unified Simulation Platform for Interference Microscopy

Auteurs: Felix Hitzelhammer, Anežka Dostálová, Ilia Zykov, Barbara Platzer, Clara Conrad-Billroth, Thomas Juffmann, Ulrich Hohenester
Publié dans: ACS Photonics, Numéro 11, 2024, Page(s) 2745-2756, ISSN 2330-4022
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsphotonics.4c00621