Optical Near-field Electron Microscopy

Informazioni relative al progetto

ONEM

ID dell’accordo di sovvenzione: 101017902

DOI

10.3030/101017902

Data della firma CE 9 Dicembre 2020

Data di avvio 1 Gennaio 2021

Data di completamento 31 Dicembre 2025

Finanziato da

• EXCELLENT SCIENCE - Future and Emerging Technologies (FET)

Costo totale

€ 3 659 147,50

Contributo UE

€ 3 659 147,50

Coordinato da

UNIVERSITAT WIEN
Austria

CORDIS fornisce collegamenti ai risultati finali pubblici e alle pubblicazioni dei progetti ORIZZONTE.

I link ai risultati e alle pubblicazioni dei progetti del 7° PQ, così come i link ad alcuni tipi di risultati specifici come dataset e software, sono recuperati dinamicamente da .OpenAIRE .

Risultati finali

Open Research Data Pilot (1)

Data Management Plan

A DMP will be delivered as a separate document

Demonstrators, pilots, prototypes (2)

Electron camera

Installation and optimization of new electron camera

Liquid cell TEM

Demonstration of liquid cell TEM at UNIVIE

Documents, reports (2)

1st report on cross-project collaboration activities

Concrete report in collaboration with the designated partner project

Cross-project collaboration plan

This deliverable will be coordinated with a designated partner project and be updated with every reporting period

Websites, patent fillings, videos etc. (1)

Website online

A public web site for the project

Pubblicazioni

Peer reviewed articles (7)

Optical near-field electron microscopy

Autori: Raphaël Marchand; Radek Šachl; Martin Kalbáč; Martin Hof; Rudolf Tromp; Mariana Amaro; Sense J. van der Molen; Thomas Juffmann
Pubblicato in: Physical Review Applied, Numero 16, 2021, Pagina/e 014008, ISSN 2331-7019
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevapplied.16.014008

A structural analysis of ordered Cs3Sb films grown on single crystal graphene and silicon carbide substrates

Autori: C. A. Pennington, M. Gaowei, E. M. Echeverria, K. Evans-Lutterodt, A. Galdi, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, P. Saha, J. Smedley, W. G. Stam, R. M. Tromp
Pubblicato in: APL Materials, Numero 13, 2025, ISSN 2166-532X
Editore: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0229850

Quantum limits of position and polarizability estimation in the optical near field

Autori: Lukas Kienesberger, Thomas Juffmann, Stefan Nimmrichter
Pubblicato in: Physical Review Research, Numero 6, 2024, ISSN 2643-1564
Editore: American Physical Society (APS)
DOI: 10.1103/physrevresearch.6.023204

Growth of ultra-flat ultra-thin alkali antimonide photocathode films

Autori: W. G. Stam, M. Gaowei, E. M. Echeverria, Kenneth Evans-Lutterodt, Jean Jordan-Sweet, T. Juffmann, S. Karkare, J. Maxson, S. J. van der Molen, C. Pennington, P. Saha, J. Smedley, R. M. Tromp
Pubblicato in: APL Materials, Numero 12, 2025, ISSN 2166-532X
Editore: AIP Publishing
DOI: 10.1063/5.0213461

Interleaflet organization of membrane nanodomains: What can(not) be resolved by FRET?

Autori: Barbora Chmelová, David Davidović, Radek Šachl
Pubblicato in: Biophysical journal, 2022, ISSN 0006-3495
Editore: Biophysical Society
DOI: 10.1016/j.bpj.2022.11.014

Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)

Autori: Amin Moradi, Matthijs Rog, Guido Stam, R.M. Tromp, S.J. van der Molen, Back illuminated photo emission electron microscopy (BIPEEM)
Pubblicato in: Ultramicroscopy, 2023, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113809

Unified Simulation Platform for Interference Microscopy

Autori: Felix Hitzelhammer, Anežka Dostálová, Ilia Zykov, Barbara Platzer, Clara Conrad-Billroth, Thomas Juffmann, Ulrich Hohenester
Pubblicato in: ACS Photonics, Numero 11, 2024, Pagina/e 2745-2756, ISSN 2330-4022
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsphotonics.4c00621