Condition Monitoring and Wide Bandgap Power Electronics - Leading Innovations for the European Energy Sector

Informazioni relative al progetto

MoWiLife

ID dell’accordo di sovvenzione: 101172657

DOI

10.3030/101172657

Data della firma CE 2 Agosto 2024

Data di avvio 1 Ottobre 2024

Data di completamento 30 Settembre 2027

Finanziato da

• Climate, Energy and Mobility

Costo totale

€ 3 955 691,25

Contributo UE

€ 3 955 691,25

Coordinato da

UNIVERSITAET ROSTOCK
Germany

CORDIS fornisce collegamenti ai risultati finali pubblici e alle pubblicazioni dei progetti ORIZZONTE.

I link ai risultati e alle pubblicazioni dei progetti del 7° PQ, così come i link ad alcuni tipi di risultati specifici come dataset e software, sono recuperati dinamicamente da .OpenAIRE .

Pubblicazioni

Conference proceedings (4)

Neglected Effects of Multicommutation in 2-Level SiC Inverters: Insights into Switching Behavior

Autori: Marius Wegner, Jan Fuhrmann, Till-Mathis Plötz, Hans-Günter Eckel
Pubblicato in: PCIM Europe Conference 2026, 2026
Editore: VDE Verlag GmbH
DOI: 10.5281/ZENODO.20609836

Electroluminescence investigation of high-power Mo/diamond pseudovertical Schottky diodes reaching 177 kW/cm2

Autori: Biasin, Giacomo; Fregolent, Manuel; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Bassaler, Julien; Maurya, Vishwajeet; Letellier, Juliette; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; Meneghini, Matteo
Editore: -
DOI: 10.5281/ZENODO.20702550

Influence of Positive and Negative Gate Stress Test Profiles on Gate Threshold Voltage Shift in SiC-MOSFETs

Autori: Takahashi, M., Rementeria, A., Kristensen, O. D., Dalal, D. N., Wu, R., & Munk-Nielsen, S.
Pubblicato in: International Conference on Integrated Power Systems (CIPS) 2026,, 2026
Editore: -

Comparative Evaluation of Gate Driving Schemes for Paralleled 2.3 kV SiC MOSFET Power Modules

Autori: Nianzun Qi, Gao Liu, Hongbo Zhao, Asger Bjørn Jørgensen, and Stig Munk-Nielsen
Pubblicato in: 2026 International Power Electronics Conferen, 2026
Editore: IEEE Explore
DOI: 10.5281/ZENODO.20589400