High-resolution microscopy without lenses: a new generation of imaging technology

Informazioni relative al progetto

Lensless

ID dell’accordo di sovvenzione: 637476

DOI 10.3030/637476

Progetto chiuso

Data della firma CE 17 Marzo 2015

Data di avvio 1 Maggio 2015

Data di completamento 30 Aprile 2020

Finanziato da

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Costo totale € 1 500 000,00

Contributo UE € 1 500 000,00

Coordinato da

STICHTING VU
Netherlands

Pubblicazioni

Peer reviewed articles (15)

Laser-induced ultrasonics for detection of low-amplitude grating through metal layers with finite roughness

Autori: Stephen Edward, Hao Zhang, Stefan Witte, Paul C. M. Planken
Pubblicato in: Optics Express, Numero 28/16, 2020, Pagina/e 23374, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.398134

Laser-induced periodic surface structures: Arbitrary angles of incidence and polarization states

Autori: Hao Zhang, Jean-Philippe Colombier, Stefan Witte
Pubblicato in: Physical Review B, Numero 101/24, 2020, Pagina/e 245430, ISSN 2469-9950
Editore: APS
DOI: 10.1103/physrevb.101.245430

Extreme ultraviolet lensless imaging without object support through rotational diversity in diffractive shearing interferometry

Autori: A. C. C. de Beurs, X. Liu, G. S. M. Jansen, A. P. Konijnenberg, W. M. J. Coene, K. S. E. Eikema, S. Witte
Pubblicato in: Optics Express, Numero 28/4, 2020, Pagina/e 5257, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.380056

Unraveling Phononic, Optoacoustic, and Mechanical Properties of Metals with Light-Driven Hypersound

Autori: Hao Zhang, Alessandro Antoncecchi, Stephen Edward, Irwan Setija, Paul Planken, Stefan Witte
Pubblicato in: Physical Review Applied, Numero 13/1, 2020, Pagina/e 014010, ISSN 2331-7019
Editore: APS
DOI: 10.1103/physrevapplied.13.014010

Measuring laser beam quality, wavefronts, and lens aberrations using ptychography

Autori: Mengqi Du, Lars Loetgering, Kjeld S. E. Eikema, Stefan Witte
Pubblicato in: Optics Express, Numero 28/4, 2020, Pagina/e 5022, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.385191

Generation and characterization of focused helical x-ray beams

Autori: Lars Loetgering, Margarita Baluktsian, Kahraman Keskinbora, Roarke Horstmeyer, Thomas Wilhein, Gisela Schütz, Kjeld S. E. Eikema, Stefan Witte
Pubblicato in: Science Advances, Numero 6/7, 2020, Pagina/e eaax8836, ISSN 2375-2548
Editore: AAAS
DOI: 10.1126/sciadv.aax8836

Ion distribution and ablation depth measurements of a fs-ps laser-irradiated solid tin target

Autori: M. J. Deuzeman, A. S. Stodolna, E. E. B. Leerssen, A. Antoncecchi, N. Spook, T. Kleijntjens, J. Versluis, S. Witte, K. S. E. Eikema, W. Ubachs, R. Hoekstra, O. O. Versolato
Pubblicato in: Journal of Applied Physics, Numero 121/10, 2017, Pagina/e 103301, ISSN 0021-8979
Editore: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.4977854

Spatially resolved Fourier transform spectroscopy in the extreme ultraviolet

Autori: G. S. M. Jansen, D. Rudolf, L. Freisem, K. S. E. Eikema, S. Witte
Pubblicato in: Optica, Numero 3/10, 2016, Pagina/e 1122, ISSN 2334-2536
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OPTICA.3.001122

Spectrally resolved single-shot wavefront sensing of broadband high-harmonic sources

Autori: L. Freisem, G. S. M. Jansen, D. Rudolf, K. S. E. Eikema, S. Witte
Pubblicato in: Optics Express, Numero 26/6, 2018, Pagina/e 6860, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OE.26.006860

Diffractive shear interferometry for extreme ultraviolet high-resolution lensless imaging

Autori: G. S. M. Jansen, A. de Beurs, X. Liu, K. S. E. Eikema, S. Witte
Pubblicato in: Optics Express, Numero 26/10, 2018, Pagina/e 12479, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/OE.26.012479

Broadband extreme ultraviolet dispersion measurements using a high-harmonic source

Autori: G. S. M. Jansen, X. Liu, K. S. E. Eikema, S. Witte
Pubblicato in: Optics Letters, Numero 44/15, 2019, Pagina/e 3625, ISSN 0146-9592
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/ol.44.003625

Interference probe ptychography for computational amplitude and phase microscopy

Autori: Dirk E. Boonzajer Flaes, Stefan Witte
Pubblicato in: Optics Express, Numero 26/24, 2018, Pagina/e 31372, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.26.031372

Detection of periodic structures through opaque metal layers by optical measurements of ultrafast electron dynamics

Autori: S. Edward, A. Antoncecchi, H. Zhang, H. Sielcken, S. Witte, P. C. M. Planken
Pubblicato in: Optics Express, Numero 26/18, 2018, Pagina/e 23380, ISSN 1094-4087
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.26.023380

Computational-imaging-based optical coherence tomography in time- and frequency-domain

Autori: Mengqi Du, Kjeld S. E. Eikema, Stefan Witte
Pubblicato in: OSA Continuum, Numero 2/11, 2019, Pagina/e 3141, ISSN 2578-7519
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/osac.2.003141

zPIE: an autofocusing algorithm for ptychography

Autori: Lars Loetgering, Mengqi Du, Kjeld S. E. Eikema, Stefan Witte
Pubblicato in: Optics Letters, Numero 45/7, 2020, Pagina/e 2030, ISSN 0146-9592
Editore: Optical Society of America
DOI: 10.1364/ol.389492