CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.
Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .
Livrables
"D4.1 reports on progress of WP4 IRP ""EDA tools and methodologies for reliable nanoelectronic systems"" corresponding to task T4.1. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR4.3 IRP Open-source EDA tools for design quality and reliability using zamiaCAD (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D4.3 reports on progress of WP4 IRP ""Open-source EDA tools for design quality and reliability using zamiaCAD"" corresponding to task T4.3. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR3.2 IRP Design approaches for tamper resistant crypto implementations (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D3.2 reports on progress of WP3 IRP ""Design approaches for tamper resistant crypto implementations"" corresponding to task T3.2. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR1.3 IRP HW/SW fault tolerance methods driven by reliability and timing constraints (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D1.3 reports on progress of WP1 IRP ""HW/SW fault tolerance methods driven by reliability and timing constraints"" corresponding to task T1.3. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR3.3 IRP Side-channel and Fault Attack resistant security primitives design (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D3.3 reports on progress of WP3 IRP ""Side-channel and Fault Attack resistant security primitives design"" corresponding to task T3.3. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Comprehensive Communication Plan (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)Comprehensive Communication Plan to map main target groups and dissemination plan.
ESR2.2 IRP Innovative real-time operating system for error management for single- and multi-core units (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D2.2 reports on progress of WP2 IRP ""Innovative real-time operating system for error management for single- and multi-core units"" corresponding to task T2.2. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR4.2 IRP EDA tools and methodologies for high quality nanoelectronic systems (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D4.2 reports on progress of WP4 IRP ""EDA tools and methodologies for high quality nanoelectronic systems"" corresponding to task T4.2. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR1.5 IRP Reliable operation infrastructure for dynamic, high-dependability applications (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D1.1 reports on progress of WP1 IRP ""Reliable operation infrastructure for dynamic, high-dependability applications"" corresponding to task T1.1. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR1.4 IRP Techniques for detecting permanent faults during the operational phase (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D1.4 reports on progress of WP1 IRP ""Techniques for detecting permanent faults during the operational phase"" corresponding to task T1.4. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Report on Dissemination and Communication activities (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)Report on dissemination and Communication activities throughout the whole project.
ESR3.1 IRP A novel Physical Unclonable Functions technology (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D3.1 reports on progress of WP3 IRP ""A novel Physical Unclonable Functions technology"" corresponding to task T3.1. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR1.2 IRP Adaptive methods for fault tolerant embedded systems (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D1.2 reports on progress of WP1 IRP ""Adaptive methods for fault tolerant embedded systems"" corresponding to task T1.2. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Reports on training events (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)Brief reports presenting the main training outcomes. Intermediate versions of the deliverable are due by M18 and M30.
ESR2.1 IRP Effective techniques for secure and reliable systems validation (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D2.1 reports on progress of WP2 IRP ""Effective techniques for secure and reliable systems validation"" corresponding to task T2.1. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Report on recruitment process (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)Report on recruitment process and the recruited fellows enrolment in PhD programme
ESR1.1 IRP Reliability analysis methods and models of memory devices (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D1.1 reports on progress of WP1 IRP ""Reliability analysis and modelling of memory devices"" corresponding to task T1.1. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Supervisory board of the network (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)Establish the Supervisory board of the network.
ESR2.3 IRP A synthetic, hierarchical abstraction approach for modelling and managing complex systems quality and reliability (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D2.3 reports on progress of WP2 IRP ""A synthetic, hierarchical abstraction approach for modelling and managing complex systems quality and reliability"" corresponding to task T2.3. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
ESR2.4 IRP Design errors verification and debug methods for complex nanoelectronic systems (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)"D2.4 reports on progress of WP2 IRP ""Design errors verification and debug methods for complex nanoelectronic systems"" corresponding to task T2.4. To monitor the progress of the IRP implementation, the deliverable has 3 deadlines for intermediate versions at M15, M27 and M41 corresponding to milestones MS5, MS7, MS10."
Website, project logo and wiki-type online collaboration tool as for main dissemination.
Articles published (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)40 scientific articles, 10 technical reports and 4 popular science articles will be published.
Publications
Auteurs:
C. Gursoy, M. Jenihhin, A. S. Oyeniran, D. Piumatti, J. Raik, M. Sonza Reorda, R. Ubar
Publié dans:
2019 IEEE 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2019, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-0073-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2019.8724642
Auteurs:
Felipe Augusto da Silva, Ahmet Cagri Bagbaba, Sandro Sartoni, Riccardo Cantoro, Matteo Sonza Reorda, Said Hamdioui, Christian Sauer
Publié dans:
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-4312-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ets48528.2020.9131568
Auteurs:
Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Luca Sterpone
Publié dans:
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2020, Page(s) 1-7, ISBN 978-1-7281-8187-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts50870.2020.9159751
Auteurs:
R. Segabinazzi Ferreira, N. George, J. Chen, M. Hübner, M. Krstic, J. Nolte, and H. T. Vierhaus
Publié dans:
2019
Éditeur:
DSD
DOI:
10.26127/btuopen-5050
Auteurs:
Guilherme Cardoso Medeiros, Cemil Cem Gursoy, Lizhou Wu, Moritz Fieback, Maksim Jenihhin, Mottaqiallah Taouil, Said Hamdioui
Publié dans:
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, Page(s) 792-797, ISBN 978-3-9819263-4-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.23919/date48585.2020.9116278
Auteurs:
Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Luca Sterpone
Publié dans:
2019 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-3424-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dtis.2019.8735052
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Felipe A. Da Silva, S. Hamdioui, C. Sauer, M. Sonza Reorda
Publié dans:
2019 26th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2019, Page(s) 570-573, ISBN 978-1-7281-0996-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/icecs46596.2019.8964677
Auteurs:
Stefano di Carlo, Josie E. Rodriguez Condia, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2019 IEEE 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-0073-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2019.8724672
Auteurs:
Randolf Rotta, Raphael Segabinazzi Ferreira, Jorg Nolte
Publié dans:
2020 IEEE 23rd International Symposium on Real-Time Distributed Computing (ISORC), 2020, Page(s) 154-155, ISBN 978-1-7281-6958-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/isorc49007.2020.00035
Auteurs:
T. Lange, A. Balakrishnan, M. Glorieux, D. Alexandrescu, L. Sterpone
Publié dans:
2019
Éditeur:
SEÖSE
Auteurs:
J. E. Rodriguez Condia, B. Du, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
2018
Éditeur:
Harwell Campus
DOI:
10.5281/zenodo.4662619
Auteurs:
Dmytro Petryk, Zoya Dyka, Jens Katzer, Peter Langendorfer
Publié dans:
2020 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-9899-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ewdts50664.2020.9225092
Auteurs:
Xinhui Lai, Maksim Jenihhin, Georgios Selimis, Sven Goossens, Roel Maes, Kolin Paul
Publié dans:
2020 IFIP/IEEE 28th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2020, Page(s) 16-21, ISBN 978-1-7281-5409-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc46417.2020.9344071
Auteurs:
D. Petryk, Z. Dyka, P. Langendörfer
Publié dans:
2021
Éditeur:
in32. Krypto-Tag 1st Digital Summit
DOI:
10.18420/cdm-2021-32-22
Auteurs:
G. C. Medeiros, M. Fieback, M. Taouil, L. B. Poehls, and S. Hamdioui
Publié dans:
2021
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
M. Jenihhin, S. Hamdioui, M. Sonza Reorda, M. Krstic, P. Langendorfer, C. Sauer, A. Klotz, M. Huebner, J. Nolte, H. T. Vierhaus, G. Selimis, D. Alexandrescu, M. Taouil, G. J. Schrijen, J. Raik, L. Sterpone, G. Squillero, Z. Dyka
Publié dans:
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, Page(s) 388-393, ISBN 978-3-9819263-4-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.23919/date48585.2020.9116558
Auteurs:
T. Copetti, G. C. Medeiros, M. Taouil, S. Hamdioui, L. B. Poehls and T. Balen
Publié dans:
2020
Éditeur:
2020 IEEE Latin-American Test Symposium (LATS)
DOI:
10.1109/lats49555.2020.9093667
Auteurs:
J. Chen, T. Lange, M. Andjelkovic, A. Simevski, M. Krstic
Publié dans:
2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-9457-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dft50435.2020.9250856
Auteurs:
Josie E Rodriguez Condia, M. Sonza Reorda
Publié dans:
2020 IFIP/IEEE 28th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2020, Page(s) 153-158, ISBN 978-1-7281-5409-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc46417.2020.9344088
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Juan-David Guerrero-Balaguera, Cristhian-Fernando Moreno-Manrique, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2020 17th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-9444-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/bec49624.2020.9276748
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-8187-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts50870.2020.9159711
Auteurs:
J. Chen, M. Andjelkovic, A. Simevski, Y. Li, P. Skoncej and M. Krstic
Publié dans:
2019
Éditeur:
DSD
DOI:
10.1109/dsd.2019.00080
Auteurs:
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Christian Sauer
Publié dans:
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2019, Page(s) 52-53, ISBN 978-1-7281-2490-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2019.8854419
Auteurs:
Marcio M. Goncalves, Jose Rodrigo Azambuja, Josie E. R. Condia, Matteo Sonza Reorda, Luca Sterpone
Publié dans:
2020 IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-8731-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/lats49555.2020.9093682
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Pierpaolo Narducci, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-5359-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vts48691.2020.9107572
Auteurs:
Aleksa Damljanovic, Giovanni Squillero, Cemil Cem Guursoy, Maksim Jenihhin
Publié dans:
2019 IFIP/IEEE 27th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2019, Page(s) 335-340, ISBN 978-1-7281-3915-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc.2019.8920313
Auteurs:
Raphael Segabinazzi Ferreira, Jorg Nolte, Fabian Vargas, Nevin George, Michael Hubner
Publié dans:
2020 IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-8731-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/lats49555.2020.9093692
Auteurs:
Dan Alexandrescu, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maximilien Glorieux
Publié dans:
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-8187-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts50870.2020.9159750
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Pierpaolo Narducci, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-9938-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs50862.2020.9095665
Auteurs:
Felipe Augusto da Silva, Ahmet Cagri Bagbaba, Said Hamdioui, Christian Sauer
Publié dans:
2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS), 2019, Page(s) 129-1295, ISBN 978-1-7281-2695-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ats47505.2019.00024
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Marcio M. Goncalves, Jose Rodrigo Azambuja, Matteo Sonza Reorda, Luca Sterpone
Publié dans:
2020 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2020, Page(s) 380-385, ISBN 978-1-7281-5775-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/isvlsi49217.2020.00076
Auteurs:
M. M. Goncalves; Josie E. Rodriguez Condia; M. Sonza Reorda, L. Sterpone and J. R. Azambuja
Publié dans:
2020
Éditeur:
ESREF
DOI:
10.5281/zenodo.4662676
Auteurs:
S. Masoumian, G. Selimis, R. Maes, G. Schrijen, S. Hamdioui and M. Taouil
Publié dans:
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 2020, Page(s) pp. 1-6.
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ets48528.2020.9131583
Auteurs:
T. Lange, A. Balakrishnan, M. Glorieux, D. Alexandrescu and L. Sterpone,
Publié dans:
2019
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dsn-s.2019.00021
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2019, Page(s) 97-102, ISBN 978-1-7281-2490-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2019.8854463
Auteurs:
M. Andjelkovic, A. Simevski, J. Chen, M. Krstic, et al.
Publié dans:
23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2020
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dsd51259.2020.00082
Auteurs:
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Christian Sauer
Publié dans:
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2019, Page(s) 1-7, ISBN 978-1-7281-2769-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2019.8906932
Auteurs:
B. Du; J. E. Rodriguez Condia; M. Sonza Reorda; L. Sterpone
Publié dans:
2019
Éditeur:
RADECS
DOI:
10.5281/zenodo.4662662
Auteurs:
Aleksa Damljanovic, Annachiara Ruospo, Ernesto Sanchez, Giovanni Squillero
Publié dans:
2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2021, Page(s) 51-56, ISBN 978-1-6654-3595-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs52668.2021.9417061
Auteurs:
B. Du, Josie E. Rodriguez Condia, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS), Numéro Hotel Cap Roig, Platja d’Aro, Costa Brava, Spain, July 2-4, 2018, 2018, Page(s) 85-90, ISBN 978-1-5386-5992-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IOLTS.2018.8474174
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, B. Du, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
A workshop on Self-driving Cars and Reliability, Rutherford Appleton Laboratory, Harwell Campus, 2018
Éditeur:
A workshop on Self-driving Cars and Reliability, Rutherford Appleton Laboratory, Harwell Campus
Auteurs:
Riccardo Cantoro, Aleksa Damljanovic, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero
Publié dans:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Page(s) 55-60, ISBN 978-1-5386-5180-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC-Asia.2018.00020
Auteurs:
D. Petryk, Z. Dyka, P. Langendörfer
Publié dans:
Proc. 29th Crypto-Day 2018, 2018
Éditeur:
29. Krypto-Tag / Proc. 29th Crypto-Day 2018
DOI:
10.18420/cdm-2018-29-11
Auteurs:
F. Augusto da Silva, A. C. Bagbaba, S. Hamdioui and C. Sauer
Publié dans:
2018 Design and Verification conference Europe (DVCON-Europe), 2018
Éditeur:
2018 Design and Verification Conference and Exhibition (DVCon) Europe
DOI:
10.5281/zenodo.3361533
Auteurs:
A. C. Bagbaba, F. Augusto da Silva, C. Sauer
Publié dans:
2018 Design and Verification conference Europe (DVCON-Europe), 2018
Éditeur:
2018 Design and Verification Conference and Exhibition (DVCon) Europe
DOI:
10.5281/zenodo.3361607
Auteurs:
Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Adrian Evans, A-Duong In, Dan Alexandrescu, Cesar Boatella-Polo, Carlos Urbina Ortega, Véronique Ferlet-Cavrois, Maris Tali, Rubén Garcı́a Alı́a
Publié dans:
2018 ESA/ESTEC Space FPGA Users Workshop (SEFUW), 2018
Éditeur:
2018 ESA/ESTEC Space FPGA Users Workshop (SEFUW)
Auteurs:
Luca Sterpone, Sarah Azimi, Ludovica Bozzoli, Boyang Du, Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Cesar Boatella Polo, David Merodio Codinachs
Publié dans:
2018 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS), 2018, Page(s) 120-126, ISBN 978-1-5386-7753-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/AHS.2018.8541474
Auteurs:
Guilherme Cardoso Medeiros, Mottaqiallah Taouil, Moritz Fieback, Leticia Bolzani Poehls, Said Hamdioui
Publié dans:
2019 IEEE European Test Symposium (ETS), 2019, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-7281-1173-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ets.2019.8791517
Auteurs:
B. Du, Josie E. Rodriguez Condia, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-1756-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2019.8704643
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
SELSE-15: The 15th Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects, Numéro 27-28 March 2019, Stanford, California, USA, 2019
Éditeur:
SELSE-15
Auteurs:
B. Du, Josie E. Rodriguez Condia, M. Sonza Reorda, L. Sterpone
Publié dans:
NVIDIA GPU Tecnology Conference (GTC Europe 2018), Numéro 23-25 October, 2018, Munich, Germany, 2018
Éditeur:
GTC Europe 2018
Auteurs:
Riccardo Cantoro, Aleksa Damljanovic, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero
Publié dans:
2018 IEEE International Test Conference (ITC), 2018, Page(s) 1-9, ISBN 978-1-5386-8382-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/test.2018.8624742
Auteurs:
A. Damljanovic, A. Jutman, G. Squillero and A. Tsertov
Publié dans:
Proc. IEEE European Test Symposium 2019 (in press), 2019
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.5281/zenodo.3362602
Auteurs:
R. Cantoro, A.Damljanovic. M. Sonza Reorda and G. Squillero
Publié dans:
2018 3rd International Test Standards Application Workshop (TESTA), 2018
Éditeur:
2018 3rd International Test Standards Application Workshop (TESTA)
Auteurs:
Maximilien Glorieux, Adrian Evans, Thomas Lange, A-Duong In, Dan Alexandrescu, Cesar Boatella-Polo, Ruben Garcia Alia, Maris Tali, Carlos Urbina Ortega, Maria Kastriotou, Pablo Fernandez-Martinez, Veronique Ferlet-Cavrois
Publié dans:
2018 IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference (NSREC 2018), 2018, Page(s) 1-5, ISBN 978-1-5386-8263-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/nsrec.2018.8584296
Auteurs:
Maksim Jenihhin, Xinhui Lai, Tara Ghasempouri, Jaan Raik
Publié dans:
2018 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2018, Page(s) 1-7, ISBN 978-1-5386-7656-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2018.8573495
Auteurs:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Cemil Cem Gursoy, Jaan Raik
Publié dans:
2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-1756-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2019.8704591
Auteurs:
D.H.P. Kraak, C.C. Gursoy, I.O. Agbo, M. Taouil, M. Jenihhin, J. Raik, S. Hamdioui
Publié dans:
2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-1756-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2019.8704595
Auteurs:
Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Luca Sterpone
Publié dans:
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2019, Page(s) 7-14, ISBN 978-1-7281-2490-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2019.8854423
Auteurs:
C. C. Gürsoy, G. Medeiros, J. Chen, N. George, J. E. Rodriguez Condia, T. Lange, A. Damljanovic, A. Balakrishnan, R. Segabinazzi Ferreira, X. Lai, S. Masoumian, D. Petryk, T. Koylu, F. da Silva, A. Bagbaba, S. Hamdioui, M. Taouil, M. Krstic, P. Langendörfer, Z. Dyka, M. Huebner, J. Nolte, H. T. Vierhaus,M. Sonza Reorda, G. Squillero, L. Sterpone, J. Raik, D. Alexandrescu, M. Glorieux, G. Selimis
Publié dans:
University Booth - Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (Univerity Booth DATE 2019), Numéro 25-29 March 2019, 2019
Éditeur:
2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
DOI:
10.5281/zenodo.3362529
Auteurs:
Adeboye Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Cemil Cem Gursoy, Jaan Raik
Publié dans:
Proc. IEEE European Test Symposium 2019 (in press), 2019
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Heinrich Theodor Vierhaus, Maksim Jenihhin, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2018 12th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2018, Page(s) 45-50, ISBN 978-1-5386-9114-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2018.8629465
Auteurs:
Marko Andjelkovic, Mitko Veleski, Junchao Chen, Aleksandar Simevski, Milos Krstic, Rolf Kraemer
Publié dans:
2019 26th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2019, Page(s) 594-597, ISBN 978-1-7281-0996-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/icecs46596.2019.8964644
Auteurs:
T. Lange; M. Glorieux; D. Alexandrescu; L. Sterpone
Publié dans:
2020
Éditeur:
SEE/MAPLD
Auteurs:
Aleksa Damljanovic, Artur Jutman, Michele Portolan, Ernesto Sanchez, Giovanni Squillero, Anton Tsertov
Publié dans:
2019 IEEE International Test Conference (ITC), 2019, Page(s) 1-8, ISBN 978-1-7281-4823-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/itc44170.2019.9000181
Auteurs:
Troya Cagail Koylu, Cezar Rodolfo Wedig Reinbrecht, Said Hamdioui, Mottaqiallah Taouil
Publié dans:
2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020, Page(s) 1-5, ISBN 978-1-7281-3320-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iscas45731.2020.9180708
Auteurs:
Felipe Augusto da Silva, Ahmet Cagri Bagbaba, Said Hamdioui, Christian Sauer
Publié dans:
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2019, Page(s) 255-256, ISBN 978-1-7281-2490-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2019.8854449
Auteurs:
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Christian Sauer
Publié dans:
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2020, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-8187-5
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts50870.2020.9159715
Auteurs:
Felipe Augusto da Silva, Ahmet Cagri Bagbaba, Annachiara Ruospo, Riccardo Mariani, Ghani Kanawati, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Maksim Jenihhin, Said Hamdioui, Christian Sauer
Publié dans:
2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, Page(s) 1-9, ISBN 978-1-7281-5359-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vts48691.2020.9107599
Auteurs:
Dmytro Petryk, Zoya Dyka, Eduardo Perez, Mamathamba Kalishettyhalli Mahadevaiaha, Ievgen Kabin, Christian Wenger, Peter Langendorfer
Publié dans:
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2020, Page(s) 238-245, ISBN 978-1-7281-9535-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dsd51259.2020.00047
Auteurs:
Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Maksim Jenihhin
Publié dans:
2019 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS), 2019, Page(s) 72-78, ISBN 978-1-7281-4650-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ahs.2019.00007
Auteurs:
Xinhui Lai, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Kolin Paul
Publié dans:
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2019, Page(s) 239-242, ISBN 978-1-7281-2490-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2019.8854458
Auteurs:
M. Andjelkovic, J. Chen, A. Simevski, Z. Stamenkovic, M. Krstic, R. Kraemer
Publié dans:
Proc. 31st European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, 2020
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Raphael Segabinazzi Ferreira, Jorg Nolte
Publié dans:
2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-1756-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2019.8704560
Auteurs:
Maksim Jenihhin, Matteo Sonza Reorda, Aneesh Balakrishnan, Dan Alexandrescu
Publié dans:
2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-2260-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dft.2019.8875379
Auteurs:
Dmytro Petryk, Zoya Dyka, Peter Langendorfer
Publié dans:
2020 9th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2020, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-6949-1
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/meco49872.2020.9134146
Auteurs:
Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Maksim Jenihhin
Publié dans:
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2019, Page(s) 1-7, ISBN 978-1-7281-2769-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2019.8906974
Auteurs:
B. Du, Josie E. Rodriguez Condia, Matteo Sonza Reorda
Publié dans:
2019 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS), 2019, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-3424-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/dtis.2019.8735047
Auteurs:
T. Lange; A. Balakrishnan; M. Glorieux; D. Alexandrescu; L. Sterpone
Publié dans:
2020
Éditeur:
No
Auteurs:
C.C. Gursoy, G. Medeiros, J. Chen, N. George, J.E. Rodriguez Condia, T. Lange, A. Damljanovic, A. Balakrishnan, R. Segabinazzi Ferreira, X. Lai, S. Masoumian, D. Petryk, T. Koylu, F. da Silva, A. Bagbaba, S.Hamdioui, M.Taouil, M.Krstic, P.Langend ̈orfer, Z.Dyka, M.Brandalero, M.H ̈ubner, J.N ̈olte, H.T.Vierhaus, M.Sonza Reorda, G.Squillero, L.Sterpone, J.Raik, D.Alexandrescu, M.Glorieux, G.Seli
Publié dans:
2020
Éditeur:
DATE
Auteurs:
Riccardo Cantoro, Aleksa Damljanovic, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero
Publié dans:
Journal of Circuits, Systems and Computers, Numéro 28/supp01, 2019, Page(s) 1940007, ISSN 0218-1266
Éditeur:
World Scientific Publishing Co
DOI:
10.1142/s0218126619400073
Auteurs:
Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu
Publié dans:
Microprocessors and Microsystems, Numéro 71, 2019, Page(s) 102867, ISSN 0141-9331
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2019.102867
Auteurs:
Josie E. RodriguezCondia, Boyang Du, Matteo Sonza Reorda, Luca Sterpone
Publié dans:
Microelectronics Reliability, 2020, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113660
Auteurs:
M. M. Goncalves; Josie E. Rodriguez Condia; M. Sonza Reorda, L. Sterpone and J. R. Azambuja
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro Volume 114, November 2020 113768, 2020, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113768
Auteurs:
J. Chen, T. Lange, M. Andjelkovic, A. Simevski, M. Krstic
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro 114, 2020, Page(s) 113799, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113799
Auteurs:
Josie E. Rodriguez Condia, Pierpaolo Narducci, Matteo Sonza Reorda, Luca Sterpone
Publié dans:
The Journal of Supercomputing, 2021, ISSN 0920-8542
Éditeur:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s11227-021-03751-2
Auteurs:
S. Di Carlo, J. E. Rodriguez Condia and M. Sonza Reorda
Publié dans:
IEEE Access, 2020, ISSN 2169-3536
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.2968139
Auteurs:
G.C. Medeiros, L.M. Bolzani Poehls, M. Taouil, F. Luis Vargas, S. Hamdioui
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro 88-90, 2018, Page(s) 355-359, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.07.092
Auteurs:
Yuanqing Li, Anselm Breitenreiter, Marko Andjelkovic, Junchao Chen, Milan Babic, Milos Krstic
Publié dans:
Microelectronics Journal, Numéro 96, 2020, Page(s) 104683, ISSN 0026-2692
Éditeur:
Mackintosh Publications
DOI:
10.1016/j.mejo.2019.104683
Auteurs:
A. Bosio; S. Di Carlo; G. Di Natale; M. Sonza Reorda and Josie E. Rodriguez Condia
Publié dans:
Cross-Layer Reliability of Computing Systems, 2020
Éditeur:
Cross-Layer Reliability of Computing Systems
DOI:
10.5281/zenodo.4664277
Droits de propriété intellectuelle
Numéro de demande/publication:
19
179081
Date:
2019-06-07
Demandeur(s):
IHP GMBH - LEIBNIZ INSTITUTE FOR HIGH PERFORMANCE MICROELECTRONICS
Recherche de données OpenAIRE...
Une erreur s’est produite lors de la recherche de données OpenAIRE
Aucun résultat disponible