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Microwave Microscopy for Advanced and Efficient Materials Analysis and Production

Descrizione del progetto

Sprigionare la potenza di una progettazione precisa dei prodotti

Lo sviluppo di prodotti che si basano su sistemi di materiali intricati e strutture su scala nanometrica, come le celle solari di terza generazione, è sempre stato un’impresa impegnativa. Le proprietà elettroniche dei semiconduttori bulk, essenziali per questi prodotti, spesso vengono messe in ombra o distorte dalle complesse proprietà dell’interfaccia del materiale, complicando il processo di progettazione. In questo contesto, il progetto MMAMA, finanziato dall’UE, mira a trasformare l’industria manifatturiera europea. Sfruttando la potenza dei microscopi di scansione a microonde, dei risonatori dielettrici e delle simulazioni avanzate, il progetto cerca di misurare e comprendere le proprietà dei materiali e delle interfacce di sistemi materiali complessi e nanostrutture. Questa tecnica fornirà conoscenze fondamentali, che consentiranno di elaborare processi di progettazione efficienti dal punto di vista dei costi. Inoltre, l’ambiente di innovazione aperta del progetto agevolerà l’adozione da parte dell’industria europea.

Obiettivo

Products which require complicated material systems and nanoscale structural organization, e.g. third-generation solar cells, are often difficult to develop. This is because electronic properties of bulk semiconductors are often masked or at least strongly superimposed by material interface properties. Additionally these interface properties are also complex and thus make product design difficult.

This project aims at solving this problem by offering a nanoscale characterization platform for the European manufacturers of coatings, photovoltaic cells, and semi-conductor circuits. It is proposed to use a combination of scanning microwave microscopes, dielectric resonators, and simulation to measure the material and interface properties of complicated material systems and nano-structures. A metrological system of cross-checks between different instruments, models and simulations with associated error bars is indispensable for obtaining trustworthy results.

Scanning microwave measurements will be directly used for three-dimensional characterization of electrical properties of nanostructured semiconductors used in organic and hybrid photovoltaic cells. The objective is to accelerate the development of high efficiency cells and to have measures to predict performances in early stages of prototype production. Where process monitoring of materials with nanostructures is necessary, a dielectric resonator is used to translate insights from scanning microwave microscope measurements to fabrication environments. Such dielectric resonators could be directly integrated in production lines for monitoring thin film deposition processes.

An open innovation environment will make the uptake of the results easier for European industry. A database containing exemplary measurement datasets of scanning microwave microscopes will be available in calibrated and raw versions. Simulation results of tip-semiconductor interactions will be made available on the EMMC Modeling Market Place.

Invito a presentare proposte

H2020-NMBP-2016-2017

Vedi altri progetti per questo bando

Bando secondario

H2020-NMBP-2017-two-stage

Meccanismo di finanziamento

RIA - Research and Innovation action

Coordinatore

UNIVERSITE DE LILLE
Contribution nette de l'UE
€ 394 735,00
Indirizzo
42 RUE PAUL DUEZ
59000 Lille
Francia

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Regione
Hauts-de-France Nord-Pas de Calais Nord
Tipo di attività
Higher or Secondary Education Establishments
Collegamenti
Costo totale
€ 544 322,50

Partecipanti (9)